本申請涉及測量技術領域，具體涉及一種內徑測量方法、裝置及計算機可讀存儲介質。該方法包括：獲取由圖像采集模塊采集的待測件內壁上的光斑圖像；確定光斑圖像在像素坐標系中的像素坐標參數(shù)；將像素坐標參數(shù)轉換成世界坐標系中的世界坐標參數(shù)；以及根據(jù)世界坐標參數(shù)計算光斑圖像的直徑，并將光斑圖像的直徑作為待測件的內徑。本申請?zhí)峁┑膬葟綔y量方法、裝置及計算機可讀存儲介質通過圖像采集模塊獲取待測件內壁上的光斑圖像，并通過計算該光斑的圖像的直徑，便能夠得出待測件內壁的直徑，實現(xiàn)了不接觸待測件的內壁便測量出了待測件的內徑，避免了因為測量工具與待測件之間的接觸所導致對待測件的損壞，并提高了測量精度。

技術領域

本申請涉及測量技術領域，具體而言，涉及一種內徑測量方法、裝置及計算機可讀存儲介質。

背景技術

在工業(yè)生產中，對零件的幾何量測量是產品質量管理的必要手段，是零件加工的一個重要環(huán)節(jié)，通過對零件的形狀、尺寸和所處姿態(tài)進行測量和分析，可以判斷被測零件是否合格，并針對不合格零件分析其缺陷產生的原因，并改進對應的生產工藝，最終做到提高生產力和生產效率。因此，有必要對零件內壁直徑，也即是內徑進行測量。

目前，常用的零件內徑測量方式多為通過游標卡尺、千分尺、卡規(guī)、塞規(guī)等測量工具進行尺寸和形位誤差的測量，或者使用專門定制的零件尺寸標準模板來進行對比測量。然而，現(xiàn)有技術中的內徑測量方式會對被測零件造成傷害。

發(fā)明內容

本申請實施例的目的在于一種內徑測量方法、裝置及計算機可讀存儲介質，通過獲取待測件內壁上的光斑圖像并對其進行圖像處理，得出待測件的內徑，以解決現(xiàn)有技術中對待測件內徑測量時造成的傷害。

第一方面，本申請實施例提供了一種內徑測量方法，包括：獲取由圖像采集模塊采集的待測件內壁上的光斑圖像；確定所述光斑圖像在像素坐標系中的像素坐標參數(shù)；將所述像素坐標參數(shù)轉換成世界坐標系中的世界坐標參數(shù)；以及根據(jù)所述世界坐標參數(shù)計算所述光斑圖像的直徑，并將所述光斑圖像的直徑作為所述待測件的內徑。

上述內徑測量方法，通過圖像采集模塊獲取待測件內壁上的光斑圖像，并通過計算該光斑的圖像的直徑，便能夠得出待測件內壁的直徑。實現(xiàn)了不接觸待測件的內壁便測量出了待測件的內徑，避免了因為測量工具與待測件之間的接觸所導致對待測件的損壞。并且，通過光學的方法進行測量，相較于人工操作傳統(tǒng)的游標卡尺、千分尺、卡規(guī)、塞規(guī)等測量工具進行測量，其測量精度更高。

結合第一方面，可選地，其中，所述光斑圖像由發(fā)光組件向待測件內壁投射結構光而產生。其中，所述發(fā)光組件包括與所述待測件內壁非同軸設置的激光發(fā)射器和棱鏡，所述棱鏡包括頂角為90度的錐透鏡。

上述內徑測量方法，通過采用與待測件內壁非同軸設置的激光發(fā)射器與棱鏡構成的發(fā)光組件，便實現(xiàn)了向待測件內壁投射結構光，節(jié)省了測量時所需的零部件。此外，向待測件內壁上投射的結構光，相較于其他類型的光而言，由于結構光的較好的相干性、單一波長且能量集中，進而提高了測量的精度。

結合第一方面，可選地，其中，所述確定所述光斑圖像在像素坐標系中的像素坐標參數(shù)，包括：利用平滑濾波算法對所述光斑圖像進行平滑處理，得到平滑光斑圖像；利用條紋中心提取算法提取所述平滑光斑圖像的條紋中心線，以所述條紋中心線的像素坐標作為所述像素坐標參數(shù)；其中，所述條紋中心線的像素寬度為1。

上述內徑測量方法，通過對光斑圖形進行平滑處理并通過條紋中心提取算法提取光強分布峰值點構成的條紋中心線。由于條紋中心線的分布是由待測件內壁上的發(fā)光點所構成，因此，該條紋中心線的直徑便能夠精確表征待測件的內徑。因此，進一步地提高了待測件內壁的測量精度。

結合第一方面，可選地，其中，所述利用平滑濾波算法對所述光斑圖像進行平滑處理，得到平滑光斑圖像，包括：利用高斯濾波函數(shù)以及所確定的卷積核大小生成所述卷積核所對應的權重值；其中，所述卷積核大小根據(jù)所述光斑圖像的條紋寬度所確定；利用所述卷積核對所述光斑圖像進行卷積操作，得到所述平滑光斑圖像。