[發明專利]內徑測量方法、裝置及計算機可讀存儲介質有效
| 申請號： | 202310183450.8 | 申請日： | 2023-03-01 |
| 公開（公告）號： | CN115876108B | 公開（公告）日： | 2023-10-24 |
| 發明（設計）人： | 王敏雪;李琦;袁帥鵬;張昂;王斯洋;劉楊;劉洋;陳立名;胡江洪;曹彬;常小剛 | 申請（專利權）人： | 菲特（天津）檢測技術有限公司 |
| 主分類號： | G01B11/12 | 分類號： | G01B11/12;G06T7/00;G06T7/70 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇知識產權代理有限公司 11463 | 代理人： | 趙興 |
| 地址： | 300450 天津市濱海新區自貿試驗區（空港經濟*** | 國省代碼： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 內徑 測量方法 裝置 計算機 可讀 存儲 介質 | ||
1.一種內徑測量方法，其特征在于，包括：
獲取由圖像采集模塊采集的待測件內壁上的光斑圖像；
確定所述光斑圖像在像素坐標系中的像素坐標參數；
將所述像素坐標參數轉換成世界坐標系中的世界坐標參數；以及
根據所述世界坐標參數計算所述光斑圖像的直徑，并將所述光斑圖像的直徑作為所述待測件的內徑。
2.根據權利要求1所述的內徑測量方法，其特征在于，所述光斑圖像由發光組件向待測件內壁投射結構光而產生；其中，所述發光組件包括與所述待測件內壁非同軸設置的激光發射器和棱鏡，所述棱鏡包括頂角為90度的錐透鏡。
3.根據權利要求1所述的內徑測量方法，其特征在于，所述確定所述光斑圖像在像素坐標系中的像素坐標參數，包括：
利用平滑濾波算法對所述光斑圖像進行平滑處理，得到平滑光斑圖像；
利用條紋中心提取算法提取所述平滑光斑圖像的條紋中心線，以所述條紋中心線的像素坐標作為所述像素坐標參數；其中，所述條紋中心線的像素寬度為1。
4.根據權利要求3所述的內徑測量方法，其特征在于，所述利用平滑濾波算法對所述光斑圖像進行平滑處理，得到平滑光斑圖像，包括：
利用高斯濾波函數以及所確定的卷積核大小生成所述卷積核所對應的權重值；其中，所述卷積核大小根據所述光斑圖像的條紋寬度所確定；
利用所述卷積核對所述光斑圖像進行卷積操作，得到所述平滑光斑圖像。
5.根據權利要求3所述的內徑測量方法，其特征在于，所述利用條紋中心提取算法提取所述平滑光斑圖像的條紋中心線，包括：
利用Steger 算法提取所述平滑光斑圖像的條紋中心線。
6.根據權利要求1所述的內徑測量方法，其特征在于，所述將所述像素坐標參數轉換成世界坐標系中的世界坐標參數，包括：
將所述像素坐標參數轉換成圖像坐標系中的圖像坐標參數；
將所述圖像坐標參數轉換成所述圖像采集模塊所對應的坐標系中的圖像采集坐標參數；以及
根據圖像采集坐標參數與世界坐標參數的對應關系，將所述圖像采集坐標參數轉換成所述世界坐標參數；
其中，所述像素坐標參數與世界坐標參數的對應關系的表達式為：
其中，
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