2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子能損計(jì)算方法，其特征在于，所述方法還包括：獲取所述預(yù)測數(shù)據(jù)模型；

所述獲取所述預(yù)測數(shù)據(jù)模型包括：

獲取實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)庫；

根據(jù)所述實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)庫獲取訓(xùn)練樣本和測試樣本；

將所述訓(xùn)練樣本和所述測試樣本中的數(shù)據(jù)進(jìn)行正則化操作，以獲得所述數(shù)據(jù)對應(yīng)的正則化參數(shù)；

將所述訓(xùn)練樣本輸入預(yù)設(shè)算法模型中進(jìn)行訓(xùn)練，并輸出訓(xùn)練結(jié)果；

根據(jù)所述訓(xùn)練結(jié)果，將所述測試樣本輸入訓(xùn)練好的所述預(yù)設(shè)算法模型中進(jìn)行測試，并輸出測試結(jié)果；

基于所述正則化參數(shù)約束所述訓(xùn)練結(jié)果和所述測試結(jié)果的關(guān)系，以使所述訓(xùn)練結(jié)果與所述測試結(jié)果逼近；

將輸出的訓(xùn)練結(jié)果最逼近所述測試結(jié)果的算法模型作為所述預(yù)測數(shù)據(jù)模型。