本發(fā)明公開了一種恒溫測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法，其屬于半導(dǎo)體開關(guān)管測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，恒溫測(cè)試系統(tǒng)用于對(duì)半導(dǎo)體開關(guān)管在恒定溫度下進(jìn)行測(cè)試，包括：恒溫塊，所述恒溫塊上設(shè)置有絕緣導(dǎo)熱墊片，所述半導(dǎo)體開關(guān)管設(shè)于所述絕緣導(dǎo)熱墊片上；加熱套件，與所述恒溫塊連接，用于對(duì)所述恒溫塊進(jìn)行加熱；溫度傳感器，設(shè)于所述恒溫塊上，用于測(cè)試所述恒溫塊的溫度；半導(dǎo)體開關(guān)管底座，所述半導(dǎo)體開關(guān)管與所述半導(dǎo)體開關(guān)管底座連接；示波器，所述半導(dǎo)體開關(guān)管底座與所述示波器連接。本發(fā)明能夠?qū)Π雽?dǎo)體開關(guān)管在設(shè)定溫度下進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)試。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及半導(dǎo)體開關(guān)管測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種恒溫測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法。

背景技術(shù)

為了保證半導(dǎo)體開關(guān)管的使用性能，需要對(duì)半導(dǎo)體開關(guān)管在選定溫度下進(jìn)行測(cè)試。

現(xiàn)有測(cè)試裝置在對(duì)半導(dǎo)體開關(guān)管進(jìn)行溫度測(cè)試時(shí)，一般采用加熱裝置將測(cè)試裝置加熱至設(shè)定溫度后直接開始測(cè)試，測(cè)試溫度容易受環(huán)境溫度的影響，導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確，影響測(cè)試結(jié)果的判定。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種恒溫測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法，能夠?qū)Π雽?dǎo)體開關(guān)管在設(shè)定溫度下進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)試。

如上構(gòu)思，本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是：

一種恒溫測(cè)試系統(tǒng)，用于對(duì)半導(dǎo)體開關(guān)管在恒定溫度下進(jìn)行測(cè)試，包括：

恒溫塊，所述恒溫塊上設(shè)置有絕緣導(dǎo)熱墊片，所述半導(dǎo)體開關(guān)管設(shè)于所述絕緣導(dǎo)熱墊片上；

加熱套件，與所述恒溫塊連接，用于對(duì)所述恒溫塊進(jìn)行加熱；

溫度傳感器，設(shè)于所述恒溫塊上，用于測(cè)試所述恒溫塊的溫度；

半導(dǎo)體開關(guān)管底座，所述半導(dǎo)體開關(guān)管與所述半導(dǎo)體開關(guān)管底座連接；

示波器，所述半導(dǎo)體開關(guān)管底座與所述示波器連接。

可選地，所述半導(dǎo)體開關(guān)管通過(guò)壓片設(shè)于所述絕緣導(dǎo)熱墊片上，所述壓片的一端壓緊于所述半導(dǎo)體開關(guān)管上，另一端通過(guò)緊固件安裝于所述恒溫塊上。

可選地，所述緊固件為緊固螺絲。

可選地，所述恒溫塊為金屬塊。

可選地，所述恒溫塊為鋁塊。

一種測(cè)試方法，使用上述的溫測(cè)試系統(tǒng)對(duì)半導(dǎo)體開關(guān)管在恒定溫度下進(jìn)行測(cè)試，包括以下步驟：

S1、設(shè)定第一待測(cè)試溫度；

S2、控制加熱套件對(duì)恒溫塊加熱至所述第一待測(cè)試溫度，加熱過(guò)程中由溫度傳感器實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)所述恒溫塊的溫度，直至所述恒溫塊的溫度達(dá)到所述第一待測(cè)試溫度；

S3、監(jiān)測(cè)所述恒溫塊是否達(dá)到熱平衡，如果是，則執(zhí)行步驟S4；如果否，則返回執(zhí)行所述步驟S2；

S4、對(duì)所述半導(dǎo)體開關(guān)管進(jìn)行選定參數(shù)測(cè)試，測(cè)試結(jié)果通過(guò)示波器進(jìn)行顯示；

S5、所述示波器將所述測(cè)試結(jié)果上傳至上位機(jī)，所述上位機(jī)對(duì)所述測(cè)試結(jié)果進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。

可選地，在所述步驟S3中，在設(shè)定時(shí)間內(nèi)，所述恒溫塊的溫度與所述第一待測(cè)試溫度的差值的絕對(duì)值不超過(guò)0.1℃則認(rèn)為所述恒溫塊達(dá)到熱平衡，否則所述恒溫塊未達(dá)到熱平衡。

可選地，在所述步驟S5中，所述測(cè)試結(jié)果包括多個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)，去掉多個(gè)所述測(cè)試數(shù)據(jù)的最大值和最小值后，求取其余所述測(cè)試數(shù)據(jù)的平均值。

可選地，所述測(cè)試方法還包括：

S6、更新所述第一待測(cè)試溫度，判斷所述第一待測(cè)試溫度是否大于最大測(cè)試溫度；如果是，則測(cè)試結(jié)束，如果否，則返回執(zhí)行所述步驟S1。