6.一種測(cè)試方法，其特征在于，使用如權(quán)利要求1-5任一項(xiàng)所述的溫測(cè)試系統(tǒng)對(duì)半導(dǎo)體開(kāi)關(guān)管(1)在恒定溫度下進(jìn)行測(cè)試，包括以下步驟：

S1、設(shè)定第一待測(cè)試溫度；

S2、控制加熱套件(3)對(duì)恒溫塊(2)加熱至所述第一待測(cè)試溫度，加熱過(guò)程中由溫度傳感器(4)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)所述恒溫塊(2)的溫度，直至所述恒溫塊(2)的溫度達(dá)到所述第一待測(cè)試溫度；

S3、監(jiān)測(cè)所述恒溫塊(2)是否達(dá)到熱平衡，如果是，則執(zhí)行步驟S4；如果否，則返回執(zhí)行所述步驟S2；

S4、對(duì)所述半導(dǎo)體開(kāi)關(guān)管(1)進(jìn)行選定參數(shù)測(cè)試，測(cè)試結(jié)果通過(guò)示波器進(jìn)行顯示；

S5、所述示波器將所述測(cè)試結(jié)果上傳至上位機(jī)，所述上位機(jī)對(duì)所述測(cè)試結(jié)果進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。