[實(shí)用新型]一種碳化硅晶體生長(zhǎng)用坩堝及裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202021994413.3 | 申請(qǐng)日: | 2020-09-11 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN213142283U | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-05-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 舒天宇;王宗玉;劉圓圓;周敏;黃治成 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 山東天岳先進(jìn)科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | C30B23/00 | 分類號(hào): | C30B23/00;C30B29/36 |
| 代理公司: | 北京君慧知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11716 | 代理人: | 馮妙娜 |
| 地址: | 250118 山*** | 國(guó)省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 碳化硅 晶體生長(zhǎng) 坩堝 裝置 | ||
本實(shí)用新型提供了一種碳化硅晶體生長(zhǎng)用坩堝及裝置,該坩堝包括:坩堝蓋、第一坩堝體、第二坩堝體和連接裝置,第一坩堝體和第二坩堝體通過(guò)連接裝置連接形成內(nèi)部腔體,連接裝置包括多個(gè)可轉(zhuǎn)動(dòng)的隔板;多個(gè)隔板轉(zhuǎn)動(dòng)至多個(gè)隔板之間和隔板與腔體之間無(wú)空隙,則多個(gè)隔板隔斷第一坩堝體和第二坩堝體;多個(gè)隔板轉(zhuǎn)動(dòng)至多個(gè)隔板之間和/或隔板與腔體之間有空隙,則第一坩堝體通過(guò)空隙與第二坩堝體連通。通過(guò)隔板隔斷第一坩堝體和第二坩堝體,可使得晶體生長(zhǎng)前期,第一坩堝體的氣氛不能傳輸至第二坩堝體,多個(gè)隔板之間和隔板與腔體內(nèi)壁之間的空隙,形成氣體運(yùn)輸通道,對(duì)氣氛運(yùn)輸起到導(dǎo)向作用,可有效減少晶體生長(zhǎng)的缺陷,提高晶體生長(zhǎng)的質(zhì)量。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種碳化硅晶體生長(zhǎng)用坩堝及裝置,屬于晶體生長(zhǎng)的技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
碳化硅(SiC)晶體具有高導(dǎo)熱率、高擊穿電壓、載流子遷移率極高、化學(xué)穩(wěn)定性很高等優(yōu)良的半導(dǎo)體物理性質(zhì),可以制作成在高溫、強(qiáng)輻射條件下工作的高頻、高功率電子器件和光電子器件,在國(guó)防、高科技、工業(yè)生產(chǎn)、供電、變電領(lǐng)域有巨大的應(yīng)用價(jià)值,被看作是極具發(fā)展前景的第三代寬禁帶半導(dǎo)體材料。
PVT法生長(zhǎng)碳化硅晶體的生長(zhǎng)過(guò)程是在密閉的石墨坩堝中進(jìn)行,作為生長(zhǎng)源的碳化硅粉(或硅、碳固態(tài)混合物)置于溫度較高的坩堝底部,籽晶固定在溫度較低的坩堝蓋,生長(zhǎng)源在低壓高溫下升華分解產(chǎn)生氣態(tài)物質(zhì)。在由生長(zhǎng)源與籽晶之間存在的溫度梯度而形成的壓力梯度的驅(qū)動(dòng)下,這些氣態(tài)物質(zhì)自然輸運(yùn)到低溫的籽晶位置,并由于過(guò)飽和度的產(chǎn)生而結(jié)晶生長(zhǎng),形成晶態(tài)的碳化硅。
PVT法生長(zhǎng)碳化硅晶體,采用中頻感應(yīng)加熱設(shè)備加熱石墨坩堝使碳化硅粉料升華。由于中頻感應(yīng)加熱系統(tǒng)加熱的是石墨坩堝,當(dāng)石墨坩堝開(kāi)始發(fā)熱,靠近坩堝壁的粉料優(yōu)先升溫至升華溫度。同時(shí),高溫下粉料內(nèi)部的熱傳遞包括粉料間的熱傳導(dǎo)和熱輻射,由于粉料的顆粒度和堆積密度限制,粉料內(nèi)部的熱傳遞速率有限,粉料中心的溫度變化相較于中頻感應(yīng)線圈的功率變化有著明顯的滯后性。因此坩堝內(nèi)部粉料需要一定的時(shí)間來(lái)達(dá)到熱平衡,不同徑向位置的碳化硅粉料升華速率不同,且隨著粉料內(nèi)部的熱傳遞處于持續(xù)變化狀態(tài),生長(zhǎng)前期的碳化硅升華非常不穩(wěn)定。不穩(wěn)定的氣氛傳輸會(huì)影響碳化硅氣氛在籽晶上形核容易誘發(fā)多型、位錯(cuò)等缺陷,影響晶體結(jié)晶質(zhì)量。同時(shí),粉料中存在的一些雜質(zhì)會(huì)在低于碳化硅生長(zhǎng)溫度下升華,傳輸至籽晶表面會(huì)誘發(fā)形核問(wèn)題。現(xiàn)有技術(shù)中的碳化硅晶體生長(zhǎng)用坩堝及生長(zhǎng)裝置,不能完全阻斷晶體生長(zhǎng)前期碳化硅氣氛向上運(yùn)輸,從而影響碳化硅氣氛在籽晶上形核容易誘發(fā)多型、位錯(cuò)等缺陷,影響晶體的質(zhì)量。
實(shí)用新型內(nèi)容
為了解決上述問(wèn)題,本實(shí)用新型提供了一種碳化硅晶體生長(zhǎng)用坩堝及裝置,通過(guò)在第一坩堝體和第二坩堝體連通的腔體內(nèi)設(shè)置可轉(zhuǎn)動(dòng)的多個(gè)隔板,多個(gè)隔板可阻斷第一坩堝體和第二坩堝,可完全阻斷生長(zhǎng)前期生長(zhǎng)不穩(wěn)定的氣氛傳輸。
本申請(qǐng)采用的技術(shù)方案如下:
本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N碳化硅晶體生長(zhǎng)用坩堝,所述坩堝包括:
坩堝蓋,
第一坩堝體,所述第一坩堝體為兩端開(kāi)口的筒狀,所述坩堝蓋設(shè)置于第二坩堝體上方;
第二坩堝體,所述第二坩堝體為一端開(kāi)口的筒狀,第二坩堝體位于第一坩堝體的下方;
連接裝置,所述第一坩堝體和第二坩堝體通過(guò)連接裝置連接形成內(nèi)部腔體,所述連接裝置包括多個(gè)可轉(zhuǎn)動(dòng)的隔板,多個(gè)隔板設(shè)置于所述腔體內(nèi);多個(gè)隔板轉(zhuǎn)動(dòng)至多個(gè)隔板之間和隔板與腔體之間無(wú)空隙,則所述多個(gè)隔板隔斷第一坩堝體和第二坩堝體;多個(gè)隔板轉(zhuǎn)動(dòng)至多個(gè)隔板之間和/或隔板與腔體之間有空隙,則所述第一坩堝體通過(guò)所述空隙與第二坩堝體連通。
優(yōu)選的,所述連接裝置還包括兩端開(kāi)口的中空筒體,所述第一坩堝體和第二坩堝體通過(guò)所述筒體連接,
所述隔板設(shè)置在所述筒體的內(nèi)部。
優(yōu)選的,所述隔板沿筒體的徑向延伸,所述隔板抵靠筒體的側(cè)部設(shè)置為與筒體內(nèi)側(cè)壁配合的弧形。
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