[發(fā)明專(zhuān)利]固體攝像組件用的硅單晶基板及硅磊晶晶圓、以及固體攝像組件在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011203371.1 | 申請(qǐng)日: | 2020-11-02 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN112951932A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-06-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 阿部孝夫;大槻剛 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 信越半導(dǎo)體株式會(huì)社 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L31/0288 | 分類(lèi)號(hào): | H01L31/0288;H01L27/146;C30B15/00;C30B29/06 |
| 代理公司: | 北京路浩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11002 | 代理人: | 張晶;謝順星 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 固體 攝像 組件 硅單晶基板 硅磊晶晶圓 以及 | ||
1.一種固體攝像組件用的硅單晶基板,是將通過(guò)CZ法制作的硅單晶進(jìn)行切片而獲得的固體攝像組件用的硅單晶基板,其特征在于,
所述硅單晶基板是主摻雜物為Ga的p型硅單晶基板,并且B濃度為5×1014atoms/cm3以下。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的固體攝像組件用的硅單晶基板,其特征在于,
所述p型硅單晶基板中的晶格間氧濃度為1ppma以上15ppma以下。
3.一種固體攝像組件,具有光二極管部、內(nèi)存部及運(yùn)算部,其特征在于,
至少所述光二極管部形成于權(quán)利要求1或2所述的固體攝像組件用的硅單晶基板。
4.一種固體攝像組件用的硅磊晶晶圓,是在硅單晶基板的表面具有硅磊晶層的固體攝像組件用的硅磊晶晶圓,其特征在于,
所述硅磊晶層是主摻雜物為Ga的p型磊晶層,并且B濃度為5×1014atoms/cm3以下。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的固體攝像組件用的硅磊晶晶圓,其特征在于,
所述硅單晶基板是主摻雜物為Ga的p型硅單晶基板,并且B濃度為5×1014atoms/cm3以下。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的固體攝像組件用的硅磊晶晶圓,其特征在于,
所述硅單晶基板是主摻雜物為B、且B濃度為1×1018atoms/cm3以上的p+型硅單晶基板。
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的固體攝像組件用的硅磊晶晶圓,其特征在于,
所述硅單晶基板是主摻雜物為B、且B濃度為1×1016atoms/cm3以下的p-型硅單晶基板。
8.根據(jù)權(quán)利要求4所述的固體攝像組件用的硅磊晶晶圓,其特征在于,
所述硅單晶基板是n型硅單晶基板。
9.一種固體攝像組件,具有光二極管部、內(nèi)存部及運(yùn)算部,其特征在于,
至少所述光二極管部形成于權(quán)利要求4至8中任一項(xiàng)所述的固體攝像組件用的硅磊晶晶圓的所述硅磊晶層。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類(lèi)目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專(zhuān)門(mén)適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專(zhuān)門(mén)適用于通過(guò)這樣的輻射進(jìn)行電能控制的半導(dǎo)體器件;專(zhuān)門(mén)適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過(guò)該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個(gè)或多個(gè)電光源,如場(chǎng)致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的





