[發(fā)明專利]干燥裝置、干燥方法、清洗干燥系統(tǒng)及清洗干燥方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011024121.1 | 申請(qǐng)日: | 2020-09-25 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112146359B | 公開(公告)日: | 2022-03-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉峻 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 長(zhǎng)江存儲(chǔ)科技有限責(zé)任公司 |
| 主分類號(hào): | F26B5/04 | 分類號(hào): | F26B5/04;F26B9/06;F26B21/14;F26B23/04;F26B25/00;F26B25/18;B08B3/08 |
| 代理公司: | 上海專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 31100 | 代理人: | 周全 |
| 地址: | 430079 湖北省武*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 干燥 裝置 方法 清洗 系統(tǒng) | ||
本申請(qǐng)公開了一種干燥裝置、干燥方法、清洗干燥系統(tǒng)及清洗干燥方法。該干燥裝置用于對(duì)通過刻蝕形成有深孔的晶圓進(jìn)行干燥,包括:腔室,設(shè)置于對(duì)晶圓進(jìn)行刻蝕的刻蝕腔體內(nèi);旋轉(zhuǎn)吸盤,以吸附面朝下的方式倒置于腔室內(nèi),設(shè)置成能繞轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn);電源,連接至旋轉(zhuǎn)吸盤,向旋轉(zhuǎn)吸盤供電;及底座,以能與旋轉(zhuǎn)吸盤一起旋轉(zhuǎn)的方式設(shè)置于旋轉(zhuǎn)吸盤的吸附面,用于固定晶圓。該干燥裝置直接在晶圓的刻蝕腔體內(nèi)利用倒置的旋轉(zhuǎn)吸盤使晶圓的深孔中的水分受到重力和離心力的雙重作用而脫離,提高了對(duì)晶圓干燥的效率和可靠性。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體制造技術(shù)領(lǐng)域,更具體地,涉及晶圓的干燥裝置、干燥方法、清洗干燥系統(tǒng)及清洗干燥方法。
背景技術(shù)
在半導(dǎo)體工藝過程中,為了滿足晶圓表面的潔凈度要求,通常會(huì)對(duì)晶圓進(jìn)行清洗和干燥。因此,晶圓清洗技術(shù)是影響半導(dǎo)體器件的良率、器件品質(zhì)及可靠性的重要因素之一。晶圓清洗的目的是去除附著在晶圓表面上的顆粒、有機(jī)物、金屬和氧化物等污染物,以避免污染物對(duì)后續(xù)的工藝產(chǎn)生不良影響。
現(xiàn)有的半導(dǎo)體工藝中,對(duì)晶圓的濕法清洗工藝主要有槽式批處理清洗和腔室單片旋轉(zhuǎn)清洗這兩種。槽式批處理清洗中,將晶圓分批次(Batch Run)浸入清洗槽進(jìn)行清洗。腔室單片旋轉(zhuǎn)清洗中,將單片晶圓一邊旋轉(zhuǎn),一邊加入清洗溶液進(jìn)行清洗。兩種濕法清洗工藝完成以后都是進(jìn)行自然晾干。
存儲(chǔ)器件的存儲(chǔ)密度的提高與半導(dǎo)體制造工藝的進(jìn)步密切相關(guān)。隨著半導(dǎo)體制造工藝的特征尺寸(CD,Critical Dimension)日益縮小,存儲(chǔ)器件的存儲(chǔ)密度越來越高,深寬比也在日益增大。為了進(jìn)一步提高存儲(chǔ)密度,已經(jīng)開發(fā)出三維結(jié)構(gòu)的存儲(chǔ)器件(3D存儲(chǔ)器件)。3D存儲(chǔ)器件包括沿著垂直方向堆疊的多個(gè)存儲(chǔ)單元,在單位面積的晶圓上可以成倍地提高集成度,并且可以降低成本。
對(duì)于3D NAND結(jié)構(gòu)的存儲(chǔ)器件,其通常在形成柵疊層結(jié)構(gòu)之后,形成貫穿柵疊層結(jié)構(gòu)的開孔,之后再形成溝道柱的外延層即各個(gè)功能層,以形成多個(gè)存儲(chǔ)單元。然而,在3DNAND工藝中,隨著刻蝕工藝能力的提升,會(huì)利用干法刻蝕形成有例如溝道孔(ChannelHoles、Dummy Channel Hole)及接觸孔(Contacts)之類的深孔形貌、超深柵線槽(GatelineSlit)及位線(Bitline)之類的深槽形貌。這些深孔(深槽)均具有高深寬比(AR:AspectRatio),例如AR>20。在干法刻蝕之后都需要對(duì)具有高深寬比的深孔(深槽)進(jìn)行清洗。由于下層的特征尺寸往往會(huì)比上層的特征尺寸小,在疊層交界處會(huì)形成瓶頸,因此采用傳統(tǒng)的濕法工藝方式,難以將深孔(深槽)清洗干凈,會(huì)有殘留,嚴(yán)重影響后續(xù)工藝,并會(huì)導(dǎo)致器件失效。另外,深孔(深槽)處采用自然晾干的方式也難以達(dá)到干燥的效果,不僅需要極長(zhǎng)的工藝周期,還可能會(huì)有水分殘留,從而影響后續(xù)工藝及最終的器件性能。
發(fā)明內(nèi)容
鑒于上述問題,本發(fā)明的目的在于提供一種干燥裝置、干燥方法、清洗干燥系統(tǒng)及清洗干燥方法,能對(duì)晶圓中的具有高深寬比的深孔高效地進(jìn)行清洗和干燥。
根據(jù)本發(fā)明的一方面,提供一種干燥裝置,用于對(duì)通過刻蝕形成有深孔的晶圓進(jìn)行干燥,其包括:腔室,所述腔室設(shè)置于對(duì)所述晶圓進(jìn)行刻蝕的刻蝕腔體內(nèi);旋轉(zhuǎn)吸盤,該旋轉(zhuǎn)吸盤以吸附面朝下的方式倒置于所述腔室內(nèi),設(shè)置成能繞轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn);電源,該電源連接至所述旋轉(zhuǎn)吸盤,向所述旋轉(zhuǎn)吸盤供電;及底座,該底座以能與所述旋轉(zhuǎn)吸盤一起旋轉(zhuǎn)的方式設(shè)置于所述旋轉(zhuǎn)吸盤的吸附面,用于固定所述晶圓。
優(yōu)選地,在干燥裝置中,所述底座以靜電吸附的方式固定所述晶圓。
優(yōu)選地,在干燥裝置中,所述腔室具有進(jìn)氣口和出氣口,所述干燥裝置還包括真空泵,該真空泵連接至所述腔室的所述出氣口,從所述進(jìn)氣口向所述腔室內(nèi)導(dǎo)入干燥氣體,利用所述真空泵經(jīng)由所述出氣口將所述干燥氣體導(dǎo)出至外部。
優(yōu)選地,在干燥裝置中,所述干燥氣體是N2氣體、IPA氣體、CO2氣體中的任意一種或多種。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于長(zhǎng)江存儲(chǔ)科技有限責(zé)任公司,未經(jīng)長(zhǎng)江存儲(chǔ)科技有限責(zé)任公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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