本申請(qǐng)公開了一種預(yù)測(cè)性能參數(shù)的方法，包括：獲取K組性能參數(shù)，該K組性能參數(shù)為在待監(jiān)測(cè)系統(tǒng)在K個(gè)時(shí)刻分別對(duì)應(yīng)的性能參數(shù)，將所述K組性能參數(shù)輸入機(jī)器學(xué)習(xí)模型，得到目標(biāo)性能參數(shù)，目標(biāo)性能參數(shù)為待監(jiān)測(cè)系統(tǒng)在目標(biāo)時(shí)刻的性能參數(shù)，目標(biāo)時(shí)刻晚于K個(gè)時(shí)刻中的最晚時(shí)刻。其中，該機(jī)器學(xué)習(xí)模型，用于根據(jù)K組性能參數(shù)，預(yù)測(cè)待監(jiān)測(cè)系統(tǒng)在所述目標(biāo)時(shí)刻的性能參數(shù)。由此可見，利用本申請(qǐng)實(shí)施例的方案，可以根據(jù)已經(jīng)監(jiān)測(cè)到的待監(jiān)測(cè)系統(tǒng)的性能參數(shù)，預(yù)測(cè)待監(jiān)測(cè)系統(tǒng)在未來的目標(biāo)時(shí)刻的性能參數(shù)。進(jìn)一步地，可以提前確定針對(duì)目標(biāo)性能參數(shù)的處理措施。即利用本方案，可以在目標(biāo)時(shí)刻到來之前，就確定對(duì)應(yīng)的處理措施，從而避免影響待監(jiān)測(cè)系統(tǒng)正常運(yùn)行。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及計(jì)算機(jī)領(lǐng)域，特別是涉及一種預(yù)測(cè)性能參數(shù)的方法及裝置。

背景技術(shù)

目前，可以對(duì)系統(tǒng)的性能參數(shù)進(jìn)行監(jiān)測(cè)，以確定系統(tǒng)的運(yùn)行情況。進(jìn)一步地，在根據(jù)性能參數(shù)確定系統(tǒng)運(yùn)行出現(xiàn)異常時(shí)，可以發(fā)出預(yù)警信號(hào)。以提示工作人員系統(tǒng)運(yùn)行異常，以便于工作人員進(jìn)行問題定位并確定相應(yīng)的處理措施，從而避免影響系統(tǒng)運(yùn)行。

但是，目前這種方案，還是會(huì)影響系統(tǒng)的運(yùn)行。

發(fā)明內(nèi)容

本申請(qǐng)所要解決的技術(shù)問題是如何盡可能避免影響系統(tǒng)正常運(yùn)行，提供一種預(yù)測(cè)性能參數(shù)的方法及裝置。

第一方面，本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種預(yù)測(cè)性能參數(shù)的方法，所述方法包括：獲取K組性能參數(shù)，所述K組性能參數(shù)為待監(jiān)測(cè)系統(tǒng)在K個(gè)時(shí)刻分別對(duì)應(yīng)的性能參數(shù)；

將所述K組性能參數(shù)輸入機(jī)器學(xué)習(xí)模型，得到目標(biāo)性能參數(shù)，所述目標(biāo)性能參數(shù)為所述待監(jiān)測(cè)系統(tǒng)在目標(biāo)時(shí)刻的性能參數(shù)，所述目標(biāo)時(shí)刻晚于所述K個(gè)時(shí)刻中的最晚時(shí)刻；其中：

所述機(jī)器學(xué)習(xí)模型，用于根據(jù)所述K組性能參數(shù)，預(yù)測(cè)所述待監(jiān)測(cè)系統(tǒng)在所述目標(biāo)時(shí)刻的性能參數(shù)。

可選的，將所述K組性能參數(shù)輸入機(jī)器學(xué)習(xí)模型，包括:

將所述K組性能參數(shù)按照所述K組性能參數(shù)對(duì)應(yīng)的采集時(shí)刻的順序，輸入所述機(jī)器學(xué)習(xí)模型。

可選的，所述K個(gè)時(shí)刻中相鄰兩個(gè)時(shí)刻之間的時(shí)間差為第一值，所述目標(biāo)時(shí)刻和第一時(shí)刻之間的時(shí)間差為所述第一值，所述第一時(shí)刻為所述K個(gè)時(shí)刻中的最晚時(shí)刻。

可選的，所述方法還包括：

當(dāng)所述目標(biāo)性能參數(shù)符合預(yù)設(shè)條件時(shí)，觸發(fā)報(bào)警操作。

可選的，所述方法還包括：

獲取訓(xùn)練樣本，所述訓(xùn)練樣本包括K+1組性能參數(shù)，所述K+1組性能參數(shù)為在待監(jiān)測(cè)系統(tǒng)在K+1個(gè)時(shí)刻分別對(duì)應(yīng)的性能參數(shù)；

利用所述訓(xùn)練樣本訓(xùn)練所述機(jī)器學(xué)習(xí)模型，其中，所述K+1組性能參數(shù)中的前K組性能參數(shù)作為所述機(jī)器學(xué)習(xí)模型的輸入，所述第K+1組性能參數(shù)中的最后一組性能參數(shù)作為所述機(jī)器學(xué)習(xí)模型的輸出。

第二方面，本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種預(yù)測(cè)性能參數(shù)的裝置，所述裝置包括：第一獲取單元，用于獲取K組性能參數(shù)，所述K組性能參數(shù)為待監(jiān)測(cè)系統(tǒng)在K個(gè)時(shí)刻分別對(duì)應(yīng)的性能參數(shù)；

輸入單元，用于將所述K組性能參數(shù)輸入機(jī)器學(xué)習(xí)模型，得到目標(biāo)性能參數(shù)，所述目標(biāo)性能參數(shù)為所述待監(jiān)測(cè)系統(tǒng)在目標(biāo)時(shí)刻的性能參數(shù)，所述目標(biāo)時(shí)刻晚于所述K個(gè)時(shí)刻中的最晚時(shí)刻；其中：

所述機(jī)器學(xué)習(xí)模型，用于根據(jù)所述K組性能參數(shù)，預(yù)測(cè)所述待監(jiān)測(cè)系統(tǒng)在所述目標(biāo)時(shí)刻的性能參數(shù)。

可選的，所述輸入單元，具體用于:

將所述K組性能參數(shù)按照所述K組性能參數(shù)對(duì)應(yīng)的采集時(shí)刻的順序，輸入所述機(jī)器學(xué)習(xí)模型，得到目標(biāo)性能參數(shù)。