[發(fā)明專(zhuān)利]一種預(yù)測(cè)性能參數(shù)的方法及裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010500315.8 | 申請(qǐng)日： | 2020-06-04 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN111625440A | 公開(kāi)（公告）日： | 2020-09-04 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 王麗偉 | 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人： | 中國(guó)銀行股份有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào)： | G06F11/34 | 分類(lèi)號(hào)： | G06F11/34;G06N3/04;G06N20/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人： | 儲(chǔ)倩 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 預(yù)測(cè) 性能參數(shù) 方法 裝置 | ||
1.一種預(yù)測(cè)性能參數(shù)的方法，其特征在于，所述方法包括：
獲取K組性能參數(shù)，所述K組性能參數(shù)為待監(jiān)測(cè)系統(tǒng)在K個(gè)時(shí)刻分別對(duì)應(yīng)的性能參數(shù)；
將所述K組性能參數(shù)輸入機(jī)器學(xué)習(xí)模型，得到目標(biāo)性能參數(shù)，所述目標(biāo)性能參數(shù)為所述待監(jiān)測(cè)系統(tǒng)在目標(biāo)時(shí)刻的性能參數(shù)，所述目標(biāo)時(shí)刻晚于所述K個(gè)時(shí)刻中的最晚時(shí)刻；其中：
所述機(jī)器學(xué)習(xí)模型，用于根據(jù)所述K組性能參數(shù)，預(yù)測(cè)所述待監(jiān)測(cè)系統(tǒng)在所述目標(biāo)時(shí)刻的性能參數(shù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，將所述K組性能參數(shù)輸入機(jī)器學(xué)習(xí)模型，包括:
將所述K組性能參數(shù)按照所述K組性能參數(shù)對(duì)應(yīng)的采集時(shí)刻的順序，輸入所述機(jī)器學(xué)習(xí)模型。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述K個(gè)時(shí)刻中相鄰兩個(gè)時(shí)刻之間的時(shí)間差為第一值，所述目標(biāo)時(shí)刻和第一時(shí)刻之間的時(shí)間差為所述第一值，所述第一時(shí)刻為所述K個(gè)時(shí)刻中的最晚時(shí)刻。
4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任意一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：
當(dāng)所述目標(biāo)性能參數(shù)符合預(yù)設(shè)條件時(shí)，觸發(fā)報(bào)警操作。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-3任意一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：
獲取訓(xùn)練樣本，所述訓(xùn)練樣本包括K+1組性能參數(shù)，所述K+1組性能參數(shù)為在待監(jiān)測(cè)系統(tǒng)在K+1個(gè)時(shí)刻分別對(duì)應(yīng)的性能參數(shù)；
利用所述訓(xùn)練樣本訓(xùn)練所述機(jī)器學(xué)習(xí)模型，其中，所述K+1組性能參數(shù)中的前K組性能參數(shù)作為所述機(jī)器學(xué)習(xí)模型的輸入，所述第K+1組性能參數(shù)中的最后一組性能參數(shù)作為所述機(jī)器學(xué)習(xí)模型的輸出。
6.一種預(yù)測(cè)性能參數(shù)的裝置，其特征在于，所述裝置包括：
第一獲取單元，用于獲取K組性能參數(shù)，所述K組性能參數(shù)為待監(jiān)測(cè)系統(tǒng)在K個(gè)時(shí)刻分別對(duì)應(yīng)的性能參數(shù)；
輸入單元，用于將所述K組性能參數(shù)輸入機(jī)器學(xué)習(xí)模型，得到目標(biāo)性能參數(shù)，所述目標(biāo)性能參數(shù)為所述待監(jiān)測(cè)系統(tǒng)在目標(biāo)時(shí)刻的性能參數(shù)，所述目標(biāo)時(shí)刻晚于所述K個(gè)時(shí)刻中的最晚時(shí)刻；其中：
所述機(jī)器學(xué)習(xí)模型，用于根據(jù)所述K組性能參數(shù)，預(yù)測(cè)所述待監(jiān)測(cè)系統(tǒng)在所述目標(biāo)時(shí)刻的性能參數(shù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述輸入單元，具體用于:
將所述K組性能參數(shù)按照所述K組性能參數(shù)對(duì)應(yīng)的采集時(shí)刻的順序，輸入所述機(jī)器學(xué)習(xí)模型，得到目標(biāo)性能參數(shù)。
8.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的裝置，其特征在于，所述K個(gè)時(shí)刻中相鄰兩個(gè)時(shí)刻之間的時(shí)間差為第一值，所述目標(biāo)時(shí)刻和第一時(shí)刻之間的時(shí)間差為所述第一值，所述第一時(shí)刻為所述K個(gè)時(shí)刻中的最晚時(shí)刻。
9.根據(jù)權(quán)利要求6-8任意一項(xiàng)所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括：
報(bào)警單元，用于當(dāng)所述目標(biāo)性能參數(shù)符合預(yù)設(shè)條件時(shí)，觸發(fā)報(bào)警操作。
10.根據(jù)權(quán)利要求6-8任意一項(xiàng)所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括：
第一獲取單元，用于獲取訓(xùn)練樣本，所述訓(xùn)練樣本包括K+1組性能參數(shù)，所述K+1組性能參數(shù)為在待監(jiān)測(cè)系統(tǒng)在K+1個(gè)時(shí)刻分別對(duì)應(yīng)的性能參數(shù)；
訓(xùn)練單元，用于利用所述訓(xùn)練樣本訓(xùn)練所述機(jī)器學(xué)習(xí)模型，其中，所述K+1組性能參數(shù)中的前K組性能參數(shù)作為所述機(jī)器學(xué)習(xí)模型的輸入，所述第K+1組性能參數(shù)中的最后一組性能參數(shù)作為所述機(jī)器學(xué)習(xí)模型的輸出。
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G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生，例如，容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi)，通過(guò)測(cè)試作故障硬件的檢測(cè)或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過(guò)處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過(guò)軟件的測(cè)試或調(diào)試防止錯(cuò)誤
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