[發明專利]一種對一次可編程存儲器芯片進行篩選的方法有效
| 申請號： | 202010196359.6 | 申請日： | 2020-03-19 |
| 公開（公告）號： | CN111415696B | 公開（公告）日： | 2021-11-23 |
| 發明（設計）人： | 孫杰杰;于躍;趙桂林;楊霄壘;曹靚 | 申請（專利權）人： | 中國電子科技集團公司第五十八研究所 |
| 主分類號： | G11C29/00 | 分類號： | G11C29/00 |
| 代理公司： | 無錫派爾特知識產權代理事務所(普通合伙) 32340 | 代理人： | 楊立秋 |
| 地址： | 214000 *** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 一次 可編程 存儲器 芯片 進行 篩選 方法 | ||
1.一種對一次可編程存儲器芯片進行篩選的方法，其特征在于，包括：
通過編程器對一次可編程存儲器芯片的冗余行進行編程并校驗，剔除校驗失敗的芯片；
對一次可編程存儲器芯片進行空片檢查，剔除檢查失敗的芯片；
通過編程器對一次可編程存儲器芯片的冗余列進行編程并校驗，剔除校驗失敗的芯片；
再次對一次可編程存儲器芯片進行空片檢查，剔除檢查失敗的芯片；
對一次可編程存儲器芯片進行動態老煉，誘導有潛在缺陷的芯片發生早期失效；
進行全片讀取校驗，剔除發生錯誤的芯片；
所述一次可編程存儲器芯片包括：用戶存儲區，用于用戶存儲信息；所述用戶存儲區包括字線、位線、存儲單元和電源線、地線；
測試陣列，用于通過編程、讀出操作進行測試；所述測試陣列包括冗余行和冗余列；其中，所述冗余行包括兩行存儲單元及冗余行區域內的字線、位線和電源線、地線；所述冗余列包括兩列存儲單元及冗余列區域內的字線、位線和電源線、地線；
編程及讀出電路，隔著所述用戶存儲區與所述冗余行相對；
字線驅動，隔著所述用戶存儲區與所述冗余列相對；
對一次可編程存儲器芯片進行動態老煉包括：對所述用戶存儲區進行周期性讀取，和對所述測試陣列進行周期性讀取，以使讀出通路有“0→1”或“1→0”的變化，即老煉過程覆蓋讀出通路。
2.如權利要求1所述的對一次可編程存儲器芯片進行篩選的方法，其特征在于，通過編程器對一次可編程存儲器芯片的冗余行進行編程并校驗包括：
從所述冗余行的列的角度看，冗余行內每列有2個存儲單元，至少對其中1個進行編程，但從冗余行整體來看，不能對冗余行內存儲單元全部編程；若校驗失敗，則該芯片剔除。
3.如權利要求1所述的對一次可編程存儲器芯片進行篩選的方法，其特征在于，通過編程器對一次可編程存儲器芯片的冗余列進行編程并校驗包括：
從所述冗余列的行的角度看，冗余列內每行有2個存儲單元，至少對其中1個進行編程，但從冗余列整體來看，不能對冗余列內存儲單元全部編程；若校驗失敗，則該芯片剔除。
4.如權利要求1所述的對一次可編程存儲器芯片進行篩選的方法，其特征在于，進行全片讀取校驗包括：
對測試陣列的數據和用戶存儲區的數據進行讀取校驗，若內容發生錯誤，則該芯片剔除。
5.如權利要求1所述的對一次可編程存儲器芯片進行篩選的方法，其特征在于，所述空片檢查包括檢查所述用戶存儲區中數據有無發生變化，若發生變化則剔除該芯片。
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