1.一種基于羅德里格矩陣的相機檢校方法，其特征在于：

步驟1)控制點布設：均勻布設一定數量控制點，并對控制點進行觀測獲取其高精度坐標(X_i,Y_i,Z_i)；

步驟2)影像獲取及像點坐標的量測：應用待檢校的相機獲取多幅帶控制點影像，并量測影像上控制點像點坐標(x_i,y_i)；

步驟3)計算相機檢校參數的初值：根據

計算λ初值，式中X_i,Y_i,Z_i和X_i-1,Y_i-1,Z_i-1為近似同一平面上相鄰的控制點；

根據

計算a,b,c的初值，將λ_i和a,b,c帶入

計算出X_S,Y_S,Z_S的初值；

相機主距f初值選為相機焦距，主點和畸變參數初值為0；

步驟4)應用步驟3)中給出的初值，基于羅德里格矩陣，應用空間后方交會方法迭代求解檢校參數，誤差方程為：

V＝AX_外+BX_內+CX_ad-L

式中：X_外＝[ΔX_s,ΔY_s,ΔZ_s,Δa,Δb,Δc]，系數矩陣中的a₁₄,a₁₅,a₁₆,a₂₄,a₂₅,a₂₆為：

中系數矩陣A中其它元素和B,C,L的值計算方法和傳統空間后方交會方法相同；

步驟5)迭代求解檢校參數，直到兩次檢校參數變化小于10^-4，檢校結束。