[發明專利]一種基于憶阻器陣列的紫外光輻射累積測量電路有效
| 申請號: | 201911022687.8 | 申請日: | 2019-10-25 |
| 公開(公告)號: | CN111221023B | 公開(公告)日: | 2022-11-29 |
| 發明(設計)人: | 文常保;高南;劉維宇;全思;茹鋒;李演明;王飚;巨永鋒 | 申請(專利權)人: | 長安大學 |
| 主分類號: | G01T1/17 | 分類號: | G01T1/17 |
| 代理公司: | 西安恒泰知識產權代理事務所 61216 | 代理人: | 王芳 |
| 地址: | 710064 陜西省*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 憶阻器 陣列 紫外 光輻射 累積 測量 電路 | ||
本發明公開了一種基于憶阻器陣列的紫外光輻射累積測量電路,包括紫外光接收模塊、憶阻器放大模塊、測量開關、憶阻器陣列模塊、憶阻器復位模塊和憶阻器誤差調理模塊;紫外光接收模塊連接憶阻器放大模塊的輸入端,憶阻器放大模塊連接測量開關,開關另一端連接憶阻器陣列模塊和憶阻器組織復位模塊,憶阻器陣列模塊與憶阻器復位模塊的輸出端連接,再與憶阻器誤差調理模塊的輸入端連接;紫外光接收模塊包括偏置電壓、保護電阻、雪崩二極管和紫外偏振片;偏置電壓的輸出端連接保護電阻,保護電阻的另一端連接雪崩二極管。本發明利用憶阻器的阻值變化來測量紫外輻射的累積量,從而提高了累積測量準確度,解決了傳統測量電路損耗過高的問題。
技術領域
本發明屬于紫外光輻射累積測量技術領域,具體涉及一種基于憶阻器陣列的紫外光輻射累積測量電路。
背景技術
紫外輻射(ultraviolet radiation)是指波長小于可見輻射波長的光學輻射,對于紫外輻射,通常將100~400nm之間的光譜分為:UVA波段(315~400nm);UVB波段(280~315nm);UVC波段(100~280nm)而紫外光輻射累積測量電路是一種能夠測量物體在一定時間段內,在紫外光輻射的一次連續照射下或多次反復照射所受到的總的紫外輻射劑量的測量電路。
但是目前紫外光輻射累積測量電路存在著一些不足,因為紫外輻射的測量比較復雜,環境的不同導致最終的紫外輻射累積測量的電路也有所不同。目前存在以下幾個缺點:大部分紫外探測器測量都是一次性的,然后還需要通過單片機等處理才能完成測量檢測。但是紫外輻射會因為天氣、溫度等非人為因素造成測量時輻射強度會不停地變化,在后續的累積測量的時候會造成測量數據不穩定,在復雜環境情況下,雖然可以測量出紫外光輻射累積劑量,但是測量的準確度卻不高;其次,收集到的數據還要經過測量電路、單片機和顯示器等后續的處理電路,經過的電路越復雜,那么長時間的測量會導致測量數據的損耗也會越嚴重。
發明內容
針對現有技術存在的不足,本發明的目的在于,提供一種基于憶阻器陣列的紫外光輻射累積測量電路,解決傳統的紫外輻射測量電路的準確度不高,以及測量電路中損耗較大的問題。
為了解決上述技術問題,本申請采用如下技術方案予以實現:
一種基于憶阻器陣列的紫外光輻射累積測量電路,包括紫外光接收模塊、憶阻器放大模塊、測量開關S1、憶阻器陣列模塊、憶阻器復位模塊和憶阻器誤差調理模塊;其中:
所述紫外光接收模塊的輸出端連接憶阻器放大模塊的輸入端,憶阻器放大模塊的輸出端連接測量開關S1,開關S1的另一端分別連接憶阻器陣列模塊和憶阻器組織復位模塊的輸入端,憶阻器陣列模塊的輸出端與憶阻器復位模塊的輸出端連接,再與憶阻器誤差調理模塊的輸入端連接;
所述紫外光接收模塊包括偏置電壓V1、保護電阻R1、雪崩二極管APD和紫外偏振片;其中:偏置電壓V1的輸出端連接保護電阻R1,保護電阻R1的另一端連接雪崩二極管APD,紫外偏振片覆在雪崩二極管表面,雪崩二極管的輸出端連接憶阻器放大模塊的輸入端。
進一步的,所述憶阻器放大模塊包括遠算放大器A1、憶阻器Ms1、憶阻器Ms2、電阻R2、電容C1和運算放大器A1正供電電源VCC1和負供電電源VCC2;其中:
所述運算放大器A1的反相端與紫外光接收模塊中的雪崩二極管輸出端連接,運算放大器A1的反相端同時與憶阻器Ms1非參雜端連接和電容C1連接,憶阻器Ms1參雜端與憶阻器Ms2參雜端連接,電容C1的另一端以及憶阻器Ms2的非參雜端均與運算放大器A1的輸出端連接,運算放大器A1的同相端與電阻R2連接,電阻R2的另一端接地,運算放大器A1的輸出端與測量開關S1連接。
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