[發(fā)明專利]存儲模塊的測試方法、主板中存儲單元的測試方法及裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910108386.0 | 申請日: | 2019-01-18 |
| 公開(公告)號: | CN109828878B | 公開(公告)日: | 2022-10-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 歐陽志光;葉佳星;鄧海東 | 申請(專利權(quán))人: | 晶晨半導(dǎo)體(上海)股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/22 | 分類號: | G06F11/22;G06F11/26 |
| 代理公司: | 上海申新律師事務(wù)所 31272 | 代理人: | 俞滌炯 |
| 地址: | 201203 上海市浦東新區(qū)中國*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 存儲 模塊 測試 方法 主板 單元 裝置 | ||
本發(fā)明公開了存儲模塊的測試方法、主板中存儲單元的測試方法及裝置,屬于存儲設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域。在訓(xùn)練存儲模塊時,通過識別存儲模塊是否通過訓(xùn)練,可初步判斷存儲模塊是否存在異常,對于無法通過訓(xùn)練存儲模塊可采用維修參數(shù)集合設(shè)置存儲模塊,以使存儲模塊進(jìn)行檢測,避免主板因存儲模塊異常進(jìn)入死機(jī)狀態(tài)無法檢測,通過檢測結(jié)果可精準(zhǔn)的定位出存儲模塊的故障問題,提供了檢測的效率,縮短了檢測時間。對于主板的存儲單元中包括多個存儲模塊時,可逐個對每個存儲模塊依次進(jìn)行檢測,防止了因某一個存儲模塊存在故障至少主板死機(jī),無法準(zhǔn)確定位故障存儲模塊及該故障存儲模塊的故障數(shù)據(jù)線的問題。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及存儲設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及存儲模塊的測試方法、主板中存儲單元的測試方法及裝置。
背景技術(shù)
目前內(nèi)存顆粒作為電子系統(tǒng)當(dāng)中最核心的部件之一,一直以來都是電子系統(tǒng)研究和應(yīng)用最廣泛的對象;當(dāng)前的智能電子產(chǎn)品,如移動終端(手機(jī)、筆記本電腦)、機(jī)頂盒、電視機(jī)等,這些智能設(shè)備主板一般都會大量用到存儲器(如:雙倍速率存儲器,簡稱DDR,英文Double Data Rate)。主板在生成中會遇到DDR數(shù)據(jù)線連接不良的問題。對于這種不良板,往往會導(dǎo)致整個系統(tǒng)不能工作(即整個主板報廢),當(dāng)累積的廢板多起來,造成的損失會越來越大。目前對于主板的DDR檢測的通常先對DDR進(jìn)行訓(xùn)練,若訓(xùn)練失敗,則主板會進(jìn)入死機(jī)狀態(tài),無法檢測DDR線路情況,因此,無法準(zhǔn)確的定位是哪一個顆DDR出了問題,只能嘗試性的拆焊,檢測的效率低,且用時長。
發(fā)明內(nèi)容
針對現(xiàn)有存儲器測試存在的問題,現(xiàn)提供一種旨在可對故障精準(zhǔn)定位,提高測試效率、縮短測試時間的存儲模塊的測試方法、主板中存儲單元的測試方法及裝置。
一種存儲模塊的測試方法,存儲模塊中存儲有用于設(shè)置所述存儲模塊的訓(xùn)練參數(shù)集合;所述測試方法包括下述步驟:
S1.訓(xùn)練所述存儲模塊;
S2.識別所述存儲模塊是否通過訓(xùn)練,若是,執(zhí)行步驟S3;若否,執(zhí)行步驟S4;
S3.提取通過訓(xùn)練的訓(xùn)練參數(shù)集合設(shè)置所述存儲模塊,執(zhí)行步驟S5;
S4.依據(jù)所述維修參數(shù)集合設(shè)置所述存儲模塊,執(zhí)行步驟S5;
S5.檢測所述存儲模塊的數(shù)據(jù)線是否正常,若是,輸出檢測正常的結(jié)果;若否,輸出檢測異常的結(jié)果。
優(yōu)選的,所述步驟S5檢測所述存儲模塊的數(shù)據(jù)線是否正常包括:預(yù)先將原始測試數(shù)據(jù)寫入所述存儲模塊中;
S51.讀取所述存儲模塊中的測試數(shù)據(jù);
S52.將讀取的測試數(shù)據(jù)與所述原始測試數(shù)據(jù)比對,判斷讀取的測試數(shù)據(jù)與所述原始測試數(shù)據(jù)是否相同,若是,執(zhí)行步驟S53;若否,執(zhí)行步驟S54;
S53.輸出檢測正常的結(jié)果;
S54.輸出檢測異常的結(jié)果。
優(yōu)選的,所述步驟S52還包括:
當(dāng)讀取的測試數(shù)據(jù)與所述原始測試數(shù)據(jù)不相同時,判斷根據(jù)讀取的測試數(shù)據(jù)與所述原始測試數(shù)據(jù)的區(qū)別,識別故障的數(shù)據(jù)線,并生成故障數(shù)據(jù)線的報錯信息。
本發(fā)明還提供了一種主板中存儲單元的測試方法,所述存儲單元包括至少兩個存儲模塊,每一存儲模塊中存儲有用于設(shè)置所述存儲模塊的訓(xùn)練參數(shù)集合;所述測試方法包括:
A1.對所述存儲單元中的一待測存儲模塊進(jìn)行訓(xùn)練;
A2.識別所述待測存儲模塊是否通過訓(xùn)練,若是,執(zhí)行步驟A3;若否,執(zhí)行步驟A4;
A3.提取通過訓(xùn)練的訓(xùn)練參數(shù)集合設(shè)置所述待測存儲模塊,執(zhí)行步驟A5;
A4.依據(jù)所述維修參數(shù)集合設(shè)置所述待測存儲模塊,執(zhí)行步驟A5;
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