本發明提供了能夠容易地檢測光學膜中/上存在的缺陷的用于檢測光學膜的缺陷的裝置和方法。光學膜缺陷檢測裝置包括：用于照射光的光照射單元；用于通過反射由所述光照射單元照射的光而將光引導至光學膜的反射單元；用于顯示投射形狀的屏幕，所述投射形狀是當將光投射到所述光學膜上時所述光學膜中的缺陷的投射；和用于采集顯示在所述屏幕上的投射形狀的圖像的成像單元。

技術領域

本申請要求于2017年7月28日向韓國知識產權局提交的韓國專利申請第10-2017-0096299號的優先權和權益，其全部內容通過引用并入本文。

本發明涉及用于檢測光學膜的缺陷的裝置和方法。

背景技術

具有光學特性的光學膜用于制造包括液晶顯示器(LCD)、有機發光二極管(OLED)、等離子體顯示面板(PDP)、電泳顯示器(EPD)等的顯示單元。通常，光學膜具有其中具有光學特性的偏光膜和用于保護偏光膜的保護膜彼此堆疊的結構。

在制造和運輸光學膜的過程期間，在某些情況下可能在光學膜中/光學膜上出現具有各種形狀的缺陷，例如當異物被引入光學膜中，光學膜被擠壓，光學膜的表面被劃傷或者光學膜起皺時。上述缺陷可能導致通過使用光學膜制造的顯示單元的缺陷。

因此，需要能夠檢測光學膜中/光學膜上存在的具有各種形狀的缺陷的技術。

韓國專利第10-1082699號(在下文中，稱為專利文獻1)提出了用于通過采集光學膜的圖像來檢測光學膜的缺陷的裝置。專利文獻1公開了通過使由光源發射的光穿過光學膜使得通過安裝在面向光源的位置處的圖像采集裝置采集光學膜的圖像來測試光學膜。

[相關技術文獻]

[專利文獻]

專利文獻1：韓國專利第10-1082699號

發明內容

技術問題

本說明書致力于提供用于檢測光學膜的缺陷的裝置和方法。

技術方案

本發明的一個示例性實施方案提供了用于檢測光學膜的缺陷的裝置，所述裝置包括：發光單元，其發射光；反射單元，其反射由發光單元發射的光并將光引導至光學膜；屏幕，其顯示通過將光投射在光學膜上獲得的投射形狀以檢測光學膜的缺陷；和圖像采集單元，其采集顯示在屏幕上的投射形狀的圖像。

本發明的另一個示例性實施方案提供了檢測光學膜的缺陷的方法，所述方法包括：向反射單元發射光；將由反射單元反射的光投射在光學膜上；通過采集顯示通過將光投射在光學膜上獲得的投射形狀以檢測光學膜的缺陷的屏幕的圖像來獲得圖像；以及通過分析圖像來檢測光學膜的缺陷。

有益效果

根據本發明的示例性實施方案，可以容易地檢測光學膜中/光學膜上的具有各種形狀(例如擠壓、劃傷、折疊和起皺的形狀)的缺陷。

根據本發明的示例性實施方案，由于由發光單元發射的光的光照射寬度被反射單元擴展，因此可以加寬可以檢測光學膜的缺陷的區域。

根據本發明的示例性實施方案，可以容易地檢測光學膜中/光學膜上存在的缺陷。

附圖說明

圖1是示意性地示出根據本發明的一個示例性實施方案的用于檢測光學膜的缺陷的裝置的配置的圖。

圖2是示意性地示出根據本發明的示例性實施方案的由發光單元發射的光通過反射單元被引導至光學膜的狀態的圖。

圖3是示意性地示出根據本發明的示例性實施方案的包括分析單元的用于檢測光學膜的缺陷的裝置的配置的圖。