[發明專利]用于檢測光學膜的缺陷的裝置和方法有效
| 申請號： | 201880038427.7 | 申請日： | 2018-07-27 |
| 公開（公告）號： | CN110741245B | 公開（公告）日： | 2022-12-13 |
| 發明（設計）人： | 金浩振;楊命坤;崔恒碩;張應鎮 | 申請（專利權）人： | 杉金光電（蘇州）有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/896 | 分類號： | G01N21/896;G01N21/88;G01N21/95 |
| 代理公司： | 南京華鑫君輝專利代理有限公司 32544 | 代理人： | 徐明慧 |
| 地址： | 215699 江蘇省蘇州市張家*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 用于 檢測 光學 缺陷 裝置 方法 | ||
1.一種用于檢測光學膜的缺陷的裝置，所述裝置包括：
發光單元，其發射光；
反射單元，其反射由所述發光單元發射的光并將光引導至所述光學膜；
屏幕，其顯示通過將光投射在所述光學膜上獲得的投射形狀以檢測所述光學膜的缺陷；和
圖像采集單元，其采集顯示在所述屏幕上的所述投射形狀的圖像；
其中所述屏幕與所述圖像采集單元采集所述屏幕的圖像的方向之間形成的第一角度θ1等于所述光學膜與投射在所述光學膜上的光之間形成的第二角度θ2。
2.根據權利要求1所述的裝置，其中所述第一角度和所述第二角度為大于等于25°且小于等于48°。
3.根據權利要求1所述的裝置，其中所述屏幕與所述光學膜的其上投射有光的區域之間的距離為大于等于90mm且小于等于130mm。
4.根據權利要求1所述的裝置，其中所述發光單元上的發射光的點與所述反射單元上的反射光的點之間的距離為大于等于165mm且小于等于185mm。
5.根據權利要求1所述的裝置，其中所述反射單元上的反射光的點與所述光學膜的由所述反射單元反射的光被引導至的區域之間的距離為大于等于580mm且小于等于650mm。
6.根據權利要求1所述的裝置，還包括：
分析單元，其通過分析所述屏幕的被所述圖像采集單元采集以顯示所述投射形狀的圖像來檢測所述光學膜的缺陷。
7.一種檢測光學膜的缺陷的方法，所述方法包括：
向反射單元發射光；
將由所述反射單元反射的光投射在所述光學膜上；
通過采集顯示通過將光投射在所述光學膜上獲得的投射形狀以檢測所述光學膜的缺陷的屏幕的圖像來獲得圖像，其中由圖像采集單元采集所述屏幕的圖像，所述屏幕與所述圖像采集單元采集所述屏幕的圖像的方向之間形成的第一角度θ1等于所述光學膜與投射在所述光學膜上的光之間形成的第二角度θ2；以及
通過分析所述圖像來檢測所述光學膜的缺陷。
8.根據權利要求7所述的方法，還包括：
通過使用輥對輥法供應所述光學膜。
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