提供了一種方法，該方法包括：確定用于利用成像設備執行測量的第一組孔徑圖案和第二組孔徑圖案，使得對于第一組孔徑圖案中的每個孔徑圖案，在第二組孔徑圖案中存在互補孔徑圖案，其中成像設備包括傳感器和孔徑組件，孔徑組件具有多個孔徑元件；通過以下針對第一組和第二組中的每個相應孔徑圖案執行測量：根據該相應孔徑圖案，改變與多個孔徑元件中的一個或多個孔徑元件相關聯的屬性；并且處理所執行的測量以提取關于圖像的信息。

技術領域

本發明總體涉及成像系統，并且更具體地涉及減少計算成像系統中的衍射效應。

背景技術

該部分意在提供下文公開的本發明的背景或上下文。本文中的描述可以包括能夠獲得的概念，但不一定是先前已經構思、實現或描述的概念。因此，除非本文中另有明確說明，否則本部分中描述的內容不是本申請中的描述的現有技術，也不因被包括在本部分中而被認為是現有技術。

壓縮成像是一種利用傳感器和孔徑的成像技術。孔徑對來自物體的光進行調制以傳遞到傳感器，傳感器收集光并且測量強度。通常使用可以被編程以產生不同圖案的孔徑來進行上述測量。當孔徑的可編程元件變小時，與圖像的分辨率增加的情況一樣，孔徑會引起顯著的衍射，這會降低圖像質量。傳統上，衍射效應限制了在圖像質量差到不可用之前孔徑元件可以有多小。這樣的限制被稱為衍射極限。

發明內容

本部分意在包括示例，而無意成為限制。

在實施例的示例中，公開了一種方法，該方法包括：確定用于利用成像設備執行測量的第一組孔徑圖案和第二組孔徑圖案，使得對于第一組孔徑圖案中的每個孔徑圖案，在第二組孔圖案中存在互補孔圖案，其中成像設備包括傳感器和孔徑組件，孔徑組件具有多個孔徑元件；通過以下來針對第一組和第二組中的每個相應孔徑圖案執行測量：根據該相應孔徑圖案，改變與多個孔徑元件中的一個或多個孔徑元件相關聯的屬性；以及處理所執行的測量以提取關于圖像的信息。

實施例的另一示例包括一種計算機程序，該計算機程序包括用于在計算機程序在處理器上運行時執行前一段落中的方法的代碼。根據該段落的計算機程序，其中計算機程序是一種包括計算機可讀介質的計算機程序產品，該計算機可讀介質承載其中包含的用于與計算機一起使用的計算機程序代碼。

一種裝置的示例包括一個或多個處理器和包括計算機程序代碼的一個或多個存儲器。一個或多個存儲器和計算機程序代碼被配置為與一個或多個處理器一起使該裝置至少執行以下操作：確定用于利用成像設備執行測量的第一組孔徑圖案和第二組孔徑圖案，使得對于第一組孔徑圖案中的每個孔徑圖案，在第二組孔徑圖案中存在互補孔徑圖案，其中成像設備包括傳感器和孔徑組件，孔徑組件具有多個孔徑元件；通過以下來針對第一組和第二組中的每個相應孔徑圖案執行測量：根據該相應孔徑圖案，改變與多個孔徑元件中的一個或多個孔徑元件相關聯的屬性；以及處理所執行的測量以提取關于圖像的信息。

一種裝置的示例包括：用于確定用于利用成像設備執行測量的第一組孔徑圖案和第二組孔徑圖案的部件，使得對于第一組孔徑圖案中的每個孔徑圖案，在第二組孔徑圖案中存在互補孔徑圖案，其中成像設備包括傳感器和孔徑組件，孔徑組件具有多個孔徑元件；用于通過以下來針對第一組和第二組中的每個相應孔徑圖案執行測量的部件：根據該相應孔徑圖案，改變與多個孔徑元件中的一個或多個孔徑元件相關聯的屬性；以及用于處理所執行的測量以提取關于圖像的信息的部件。

附圖說明

在附圖中：

圖1是示例性實施例可以在其中被實踐的一種可能和非限制性示例性系統的框圖；

圖2是示出執行測量以捕獲場景的示例計算成像系統和所得到的數字圖像的圖；

圖3是示出根據示例性實施例的用于壓縮測量的計算成像系統的孔徑組件所使用的不同圖案的示例的圖；

圖4是示出根據示例性實施例的從場景上的一個點開始、穿過孔徑組件上的一個點并且終止于傳感器的示例光線的圖；