[發明專利]用于減少衍射效應的互補孔徑在審
| 申請號： | 201811385749.7 | 申請日： | 2018-11-20 |
| 公開（公告）號： | CN109919902A | 公開（公告）日： | 2019-06-21 |
| 發明（設計）人： | 姜洪 | 申請（專利權）人： | 諾基亞技術有限公司 |
| 主分類號： | G06T7/00 | 分類號： | G06T7/00;G06T7/62 |
| 代理公司： | 北京市金杜律師事務所 11256 | 代理人： | 酆迅;羅利娜 |
| 地址： | 芬蘭*** | 國省代碼： | 芬蘭;FI |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 孔徑圖案 孔徑元件 成像設備 測量 衍射效應 傳感器 關聯 圖像 | ||
1.一種計算機實現的方法，包括：
確定用于利用成像設備執行測量的第一組孔徑圖案和第二組孔徑圖案，使得對于所述第一組孔徑圖案中的每個孔徑圖案，在所述第二組孔徑圖案中存在互補孔徑圖案，其中所述成像設備包括傳感器和孔徑組件，所述孔徑組件具有多個孔徑元件；
通過以下來針對所述第一組和所述第二組中的每個相應孔徑圖案執行測量：根據所述相應孔徑圖案，改變與所述多個孔徑元件中的一個或多個孔徑元件相關聯的屬性；以及
處理所執行的所述測量以提取關于圖像的信息。
2.根據權利要求1所述的方法，其中所提取的所述信息與所述圖像中的像素相對應。
3.根據權利要求1所述的方法，其中處理所執行的所述測量包括建立方程組以提取關于所述圖像的所述信息。
4.根據權利要求1所述的方法，其中處理所執行的所述測量至少基于所確定的所述第一組孔徑圖案和所述第二組孔徑圖案以及由所述第一組圖案和所述第二組孔徑圖案引起的、與所述孔徑組件相關聯的衍射效應。
5.根據權利要求1至4中任一項所述的方法，其中改變與所述多個孔徑元件中的一個或多個孔徑元件相關聯的所述屬性包括以下中的至少一項：
改變與所述多個孔徑元件中的一個或多個孔徑元件相關聯的透射率；以及
改變與所述多個孔徑元件中的一個或多個孔徑元件相關聯的反射率。
6.一種電子裝置，包括：
用于確定用于利用成像設備執行測量的第一組孔徑圖案和第二組孔徑圖案的部件，使得對于所述第一組孔徑圖案中的每個孔徑圖案，在所述第二組孔徑圖案中存在互補孔徑圖案，其中所述成像設備包括傳感器和孔徑組件，所述孔徑組件具有多個孔徑元件；
用于通過以下來針對所述第一組和所述第二組中的每個相應孔徑圖案執行測量的部件：根據所述相應孔徑圖案，改變與所述多個孔徑元件中的一個或多個孔徑元件相關聯的屬性；以及
用于處理所執行的所述測量以提取關于圖像的信息的部件。
7.根據權利要求6所述的裝置，其中所提取的所述信息與所述圖像中的像素相對應。
8.根據權利要求6所述的裝置，其中用于處理所執行的所述測量的所述部件包括建立方程組以提取關于所述圖像的所述信息。
9.根據權利要求6所述的裝置，其中所執行的所述測量的處理至少基于所確定的所述第一組孔徑圖案和所述第二組孔徑圖案以及由所述第一組圖案和所述第二組孔徑圖案引起的、與所述孔徑組件相關聯的衍射效應。
10.根據權利要求6所述的裝置，其中改變與所述多個孔徑元件中的一個或多個孔徑元件相關聯的所述屬性包括以下中的至少一項：
改變與所述多個孔徑元件中的一個或多個孔徑元件相關聯的透射率；以及
改變與所述多個孔徑元件中的一個或多個孔徑元件相關聯的反射率。
11.根據權利要求6所述的裝置，其中所述第一組孔徑圖案的確定基于感測矩陣，其中所述感測矩陣的每一行與所述第一組中的孔徑圖案中的不同的孔徑圖案相關聯，并且其中針對所述第一組中的給定孔徑圖案的所述測量的執行包括：
基于在所述行中與所述給定孔徑圖案相對應的條目的值，改變與所述多個孔徑元件中的所述一個或多個孔徑元件相關聯的所述屬性。
12.根據權利要求11所述的裝置，其中所述第二組孔徑圖案的確定基于互補感測矩陣，其中所述互補感測矩陣的每一行與所述第二組中的孔徑圖案中的不同的孔徑圖案相關聯，并且其中與所述互補感測矩陣的第i行相關聯的所述互補孔徑圖案對應于與所述感測矩陣的第i行相關聯的所述孔徑圖案。
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