[發(fā)明專利]探頭末端和探頭組件在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811318689.7 | 申請(qǐng)日： | 2018-11-07 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN109752574A | 公開（公告）日： | 2019-05-14 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | J.A.坎貝爾;W.A.哈格拉普;I.G.波洛克;C.D.恩斯;J.E.斯皮納;K.F.M.尤羅姆;C.M.哈特曼;D.J.艾爾斯 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 特克特朗尼克公司 |
| 主分類號(hào)： | G01R1/067 | 分類號(hào)： | G01R1/067 |
| 代理公司： | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 佘鵬;王麗輝 |
| 地址： | 美國俄*** | 國省代碼： | 美國;US |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 電阻元件 測(cè)試探頭 絕緣覆蓋物 電阻阻抗 結(jié)構(gòu)部件 結(jié)構(gòu)構(gòu)件 末端部件 探頭末端 探頭組件 電阻層 耦接 施加 | ||
1.一種測(cè)試探頭末端，包括：
電阻元件，其具有施加到電阻阻抗元件的結(jié)構(gòu)構(gòu)件的外表面的電阻層；以及
末端部件，其被構(gòu)造成與所述電阻元件耦接，其中，所述電阻元件被構(gòu)造成與所述末端部件電耦接和機(jī)械耦接，使得所述電阻元件形成所述測(cè)試探頭末端的結(jié)構(gòu)部件，而沒有施加至其的絕緣覆蓋物。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試探頭末端，其中，所述電阻元件的結(jié)構(gòu)構(gòu)件還包括鋯、石英、或其組合。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試探頭末端，其中，所述電阻層包括以下各項(xiàng)的氧化物，即：釕、銥和/或錸的氧化物。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試探頭末端，其中，所述結(jié)構(gòu)構(gòu)件在形狀上基本為圓柱形。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試探頭末端，還包括與所述電阻元件耦接的力偏轉(zhuǎn)組件。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測(cè)試探頭末端，其中，所述力偏轉(zhuǎn)組件被構(gòu)造成將所述測(cè)試探頭末端耦接到測(cè)試探頭主體。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測(cè)試探頭末端，其中，所述力偏轉(zhuǎn)組件包括：
柱塞部件，其被構(gòu)造成與所述電阻元件耦接；
筒部件，其被構(gòu)造成接收所述柱塞部件，其中，所述柱塞部件被構(gòu)造成在所述筒部件內(nèi)軸向滑動(dòng)；以及
彈簧機(jī)構(gòu)，其定位在所述筒部件內(nèi)，并且構(gòu)造成響應(yīng)于所述柱塞部件在所述筒部件內(nèi)沿著向內(nèi)的方向滑動(dòng)而作用在所述柱塞部件上。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測(cè)試探頭末端，其中，所述彈簧機(jī)構(gòu)被構(gòu)造成在所述探頭末端與測(cè)試中的裝置（DUT）上的測(cè)試點(diǎn)之間產(chǎn)生抗壓性。
9.一種測(cè)試探頭，包括：
測(cè)試探頭主體，其被構(gòu)造成與測(cè)試和測(cè)量裝置耦接；以及
測(cè)試探頭末端，其與所述測(cè)試探頭主體耦接，被構(gòu)造成與測(cè)試中的裝置耦接，所述測(cè)試探頭末端包括：
電阻元件，其具有施加到電阻阻抗元件的結(jié)構(gòu)構(gòu)件的外表面的電阻層；以及
末端部件，其被構(gòu)造成與所述電阻元件耦接，其中所述電阻元件被構(gòu)造成與所述末端部件電耦接和機(jī)械耦接，使得所述電阻元件形成所述測(cè)試探頭末端的結(jié)構(gòu)部件，而沒有施加至其的絕緣覆蓋物。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的測(cè)試探頭，其中，所述電阻元件的結(jié)構(gòu)構(gòu)件還包括鋯、石英、或其組合。
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的測(cè)試探頭，其中，所述電阻層包括下述各項(xiàng)的氧化物，即：釕、銥和/或錸的氧化物。
12.根據(jù)權(quán)利要求9所述的測(cè)試探頭，其中，所述結(jié)構(gòu)構(gòu)件在形狀上基本為圓柱形。
13.根據(jù)權(quán)利要求9所述的測(cè)試探頭，其中，所述測(cè)試探頭末端還包括與所述電阻元件耦接的力偏轉(zhuǎn)組件。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的測(cè)試探頭，其中，所述力偏轉(zhuǎn)組件將所述測(cè)試探頭末端耦接到所述測(cè)試探頭主體。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的測(cè)試探頭，其中，所述力偏轉(zhuǎn)組件包括：
柱塞部件，其被構(gòu)造成與所述電阻元件耦接；
筒部件，其被構(gòu)造成接收所述柱塞部件，其中所述柱塞部件被構(gòu)造成在所述筒部件內(nèi)軸向滑動(dòng)；以及
彈簧機(jī)構(gòu)，其定位在所述筒部件內(nèi)，并且被構(gòu)造成響應(yīng)于所述柱塞部件在所述筒部件內(nèi)沿著向內(nèi)的方向滑動(dòng)而作用在所述柱塞部件上。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的測(cè)試探頭，其中，所述彈簧機(jī)構(gòu)被構(gòu)造成在所述探頭末端與測(cè)試中的裝置（DUT）上的測(cè)試點(diǎn)之間產(chǎn)生抗壓性。
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G01R 測(cè)量電變量；測(cè)量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測(cè)量儀器中所用的基本電氣元件的改進(jìn)；這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測(cè)量儀器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備，例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測(cè)量儀器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合，例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測(cè)量儀器的過負(fù)載保護(hù)裝置或電路
