本發(fā)明涉及一種電路板材料產(chǎn)品壽命預(yù)測方法，屬于電路電子技術(shù)領(lǐng)域，其包括：第一：確定電路板產(chǎn)品的失效部位及失效方式，失效部位及失效方式分別為電磁繼電器接由于外部水汽滲入引起的觸點氧化接觸失效、插接件管腳由于彈性范圍內(nèi)的高應(yīng)力疲勞及集成電路的金屬化學(xué)腐蝕；第二：建立上述失效部位及失效方式的數(shù)學(xué)模型并計算得到失效部位的壽命；第三：比較上述壽命，以最小薄弱原理取最小壽命為電路板產(chǎn)品的壽命。本發(fā)明的電路板材料產(chǎn)品壽命預(yù)測方法通過引入電路板失效的常見故障形式，對故障形式進行建立數(shù)學(xué)模型，可準(zhǔn)確預(yù)測到電路板產(chǎn)品的壽命。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于電路電子技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種電路板材料產(chǎn)品壽命預(yù)測方法。

背景技術(shù)

電路板在長期存儲條件下，其壽命具有不確定性，若將其應(yīng)用到實際工程中，則會限制工程系統(tǒng)的壽命。因此需要一種電路板材料產(chǎn)品壽命預(yù)測方法，以預(yù)測在長期存儲條件下電路板產(chǎn)品壽命。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是提供一種電路板材料產(chǎn)品壽命預(yù)測方法，用于解決目前對電路板產(chǎn)品的壽命預(yù)測沒有一個準(zhǔn)確的計算模型的問題。

為達到上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是：一種電路板材料產(chǎn)品壽命預(yù)測方法，其包括

第一：確定電路板產(chǎn)品的失效部位及失效方式，失效部位及失效方式分別為電磁繼電器接由于外部水汽滲入引起的觸點氧化接觸失效、插接件管腳由于彈性范圍內(nèi)的高應(yīng)力疲勞及集成電路的金屬化學(xué)腐蝕；

第二：建立上述失效部位及失效方式的數(shù)學(xué)模型并計算得到失效部位的壽命；

第三：比較上述壽命，以最小薄弱原理取最小壽命為電路板產(chǎn)品的壽命。

進一步的，所述電磁繼電器的失效模型為：

式中，L為焊點腐蝕深度，V為密封空腔體積，P0為標(biāo)準(zhǔn)大氣壓；Δp為初始水汽分壓差，p為密封空腔內(nèi)的水汽分壓，M水汽為水汽分子量，M空氣為空氣分了量，P飽和為飽和水汽壓，RH為相對濕度，Tc為溫度，t為時間。

進一步的，所述插接件管腳的失效模型為：

式中，N1為持續(xù)狀態(tài)的疲勞壽命，N2為參考點壽命，S1為應(yīng)力均方根值，S2為參考點應(yīng)力均方根值，b為S-N曲線斜率。

進一步的，所述集成電路的失效模型為：

式中，L為持續(xù)狀態(tài)的壽命值，A為與材料特性、產(chǎn)品設(shè)計、失效準(zhǔn)則以及其他因素相關(guān)的系數(shù)，T為絕對溫度，k為波爾茲曼常數(shù)，Ea為激活能；