[發明專利]一種QLED器件及其制備方法在審
| 申請號: | 201611225783.9 | 申請日: | 2016-12-27 |
| 公開(公告)號: | CN106856228A | 公開(公告)日: | 2017-06-16 |
| 發明(設計)人: | 李樂;向超宇;張滔;辛征航;張東華 | 申請(專利權)人: | TCL集團股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L51/50 | 分類號: | H01L51/50;H01L51/56 |
| 代理公司: | 深圳市君勝知識產權代理事務所(普通合伙)44268 | 代理人: | 王永文,劉文求 |
| 地址: | 516006 廣東省*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 qled 器件 及其 制備 方法 | ||
技術領域
本發明涉及顯示技術領域,尤其涉及一種QLED器件及其制備方法。
背景技術
以量子點材料作為發光層的量子點發光二極管(QLED)是目前新型LED研究的主要方向之一,具有光色純度高、發光量子效率高、發光顏色可調、使用壽命長等優點,并在照明以及平板顯示領域具有廣闊的應用前景。表征QLED器件主要的參數之一是外量子效率,其影響因素主要有以下幾個:(1)電子、空穴的注入平衡;(2)電子、空穴的復合速度;(3)內量子效率;(4)出光效率。其中,電子、空穴的注入平衡對于提高外量子效率以及延長其使用壽命較為關鍵,但現有的QLED器件,其電子、空穴的注入平衡仍有待提高,即現有的QLED器件載流子注入速率表現并不平衡。
因此,現有技術還有待于改進和發展。
發明內容
鑒于上述現有技術的不足,本發明的目的在于提供一種QLED器件及其制備方法,旨在解決現有QLED器件的電子、空穴的注入平衡仍有待提高的問題。
本發明的技術方案如下:
一種QLED器件,其中,所述QLED器件為柱狀結構,所述QLED器件從內到外依次包括內層電極、功能層和外層電極。
所述的QLED器件,其中,所述功能層從內到外依次包括:電子傳輸層、量子點發光層、空穴傳輸層、空穴注入層。
所述的QLED器件,其中,所述功能層從內到外依次包括:空穴注入層、空穴傳輸層、量子點發光層、電子傳輸層。
所述的QLED器件,其中,所述電子傳輸層的材料為ZnO、TiO2、SnO、AlZnO、ZnSnO和InSnO中的一種或多種。
所述的QLED器件,其中,所述空穴注入層的材料為PEDOT: PSS、氧化鉬、氧化釩、氧化鎢和氧化鉻中的一種或多種。
所述的QLED器件,其中,所述空穴傳輸層的材料為 Poly-THX、TFB、PVK、CBP和TCTA中的一種或多種。
所述的QLED器件,其中,所述的量子點發光層中的量子點為二元相量子點、三元相量子點或四元相量子點;所述二元相量子點為CdS、CdSe、CdTe、InP、AgS、PbS、PbSe、HgS中的一種或幾種,所述三元相量子點為ZnxCd1-xS、CuxIn1-xS、ZnxCd1-xSe、ZnxSe1-xS、ZnxCd1-xTe、PbSexS1-x中的一種或幾種,所述四元相量子點為ZnxCd1-xS/ZnSe、CuxIn1-xS/ZnS、ZnxCd1-xSe/ZnS、CuInSeS、ZnxCd1-xTe/ZnS、 PbSexS1-x/ZnS中的一種或幾種。
一種如上所述的QLED器件的制備方法,其中,包括步驟:
A、先在襯底上沉積出柱狀的內層電極;
B、然后在內層電極表面沉積功能層;
C、最后在功能層表面沉積外層電極,然后進行封裝得到QLED器件。
所述的QLED器件的制備方法,其中,所述步驟A具體包括:
A1、在襯底上移植多孔膜;
A2、在所述多孔膜上的孔道內沉積柱狀的內層電極;
A3、對所述多孔膜的孔道進行擴孔處理,使所述多孔膜的孔道孔徑變大。
所述的QLED器件的制備方法,其中,所述多孔膜為多孔陽極氧化鋁膜。
有益效果:本發明對傳統層狀QLED器件結構進行結構改進和優化,形成柱狀結構的QLED器件,通過柱狀結構來平衡載流子注入速率,從而提高器件發光效率,同時柱狀結構也可提高出器件出光率。
附圖說明
圖1為本發明一種QLED器件較佳實施例的第一視角結構示意圖。
圖2為本發明一種QLED器件較佳實施例的第二視角結構示意圖。
圖3為本發明一種QLED器件的制備方法較佳實施例的流程圖。
圖4為本發明一種QLED器件具體實施例一的結構示意圖。
圖5為本發明一種QLED器件具體實施例二的結構示意圖。
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H01L51-54 .. 材料選擇





