[發明專利]提高WAT測試效率的系統及方法在審
| 申請號： | 201310597786.5 | 申請日： | 2013-11-22 |
| 公開（公告）號： | CN103645428A | 公開（公告）日： | 2014-03-19 |
| 發明（設計）人： | 席與凌;婁曉祺;莫保章 | 申請（專利權）人： | 上海華力微電子有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/26 | 分類號： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 上海申新律師事務所 31272 | 代理人： | 竺路玲 |
| 地址： | 201210 上海市浦*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 提高 wat 測試 效率 系統 方法 | ||
1.一種提高WAT測試效率的方法，應用于WAT測試機臺中，其特征在于，包括如下步驟：
S1，預先采集各種類結構器件的信息，整理所述信息，將整理后的信息存儲至所述WAT測試機臺中；
S2，預先根據各種類結構器件的測試目的設定對應的測試方法和測試條件，整理所述測試方法和測試條件，將整理后的測試方法和測試條件存儲至所述WAT測試機臺中；
S3，在所述WAT測試機臺測試待測器件時，調用所述WAT測試機臺中與所述待測器件對應的信息以及測試方法和測試條件，對所述待測器件進行測試。
2.如權利要求1所述的提高WAT測試效率的方法，其特征在于，所述步驟S1具體為：預先在進行WAT測試結構設計時，采集各測試結構中各種類結構器件的規格信息以及布局信息，根據器件種類分別整理預先采集的各種類結構器件的規格信息以及布局信息，將整理后的規格信息以及布局信息存儲至所述WAT測試機臺中。
3.如權利要求2所述的提高WAT測試效率的方法，其特征在于，所述規格信息包括所在器件模組信息、器件尺寸信息、器件引腳布局信息。
4.如權利要求2所述的提高WAT測試效率的方法，其特征在于，所述布局信息包括所在測試模組信息、位置坐標信息。
5.如權利要求1所述的提高WAT測試效率的方法，其特征在于，所述步驟S2具體為：預先根據各種類結構器件的測試目的設定對應的測試方法和測試條件，根據器件種類分別整理測試方法和測試條件，將整理后的測試方法和測試條件存儲至所述WAT測試機臺中。
6.一種提高WAT測試效率的系統，應用于WAT測試機臺中，其特征在于，包括：
采集模塊，用于采集各種類結構器件的信息；
設定模塊，用于根據各種類結構器件的測試目的設定對應的測試方法和測試條件；
處理模塊，用于整理采集模塊中采集的信息和設定模塊中設定的測試方法和測試條件，并將整理后的信息以及測試方法和測試條件存儲至數據存儲模塊中；
數據存儲模塊，用于存儲經處理模塊整理后的信息以及測試方法和測試條件；
調用及測試模塊，從數據存儲模塊中調用與待測器件對應的信息以及測試方法和測試條件，根據調用的與待測器件對應的信息以及測試方法和測試條件對待測器件進行測試。
7.如權利要求6所述的提高WAT測試效率的系統，其特征在于，所述采集模塊用于預先在WAT測試結構設計時，采集各測試結構的各種類結構器件的規格信息以及布局信息。
8.如權利要求7所述的提高WAT測試效率的系統，其特征在于，所述規格信息包括所在器件模組信息、器件尺寸信息、器件引腳布局信息。
9.如權利要求7所述的提高WAT測試效率的系統，其特征在于，所述布局信息包括所在測試模組信息、位置坐標信息。
10.如權利要求6所述的提高WAT測試效率的系統，其特征在于，所述處理模塊用于根據器件種類分別整理采集模塊中采集的信息和設定模塊中設定的測試方法和測試條件，并將整理后的信息以及測試方法和測試條件存儲至數據存儲模塊中。
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