[發明專利]外觀檢查裝置及外觀檢查方法無效
| 申請號: | 201310124229.1 | 申請日: | 2013-04-11 |
| 公開(公告)號: | CN103376258A | 公開(公告)日: | 2013-10-30 |
| 發明(設計)人: | 伊藤克彥;永井大介;木下豐;益憲司;中村光男 | 申請(專利權)人: | 松下電器產業株式會社 |
| 主分類號: | G01N21/88 | 分類號: | G01N21/88;G01B11/24 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 11105 | 代理人: | 張勁松 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 外觀 檢查 裝置 方法 | ||
1.一種外觀檢查裝置,其配置于在基板上安裝電子零件而制造安裝基板的電子零件安裝線,基于由拍攝裝置對所述基板進行拍攝而取得的圖像信息,進行檢查對象物的外觀檢查,其特征在于,具備:
檢查處理部,基于從所述圖像信息中抽取的檢查用的測量值,對所述外觀檢查的檢查項目執行規定的檢查判定處理;
校正處理執行部,由所述拍攝裝置對多個外觀檢查裝置共用的單一的校正用夾具進行拍攝,基于從拍攝取得的圖像信息中抽取到的校正用的測量值,執行生成校正用數據的校正處理;
校正用數據存儲部,將所述生成的校正用數據作為該外觀檢查裝置固有的校正用數據圖表而存儲;
測量值變換處理部,利用所述校正用數據圖表對所述抽取到的檢查用的測量值進行變換,并作為判定用的測量值而輸出,
所述檢查處理部將所述判定用的測量值與所述多個外觀檢查裝置共用的檢查判定數據進行比較,執行所述檢查處理。
2.如權利要求1所述的外觀檢查裝置,其特征在于,
所述拍攝裝置是取得三維圖像信息的三維拍攝裝置,
與所述外觀檢查的檢查項目對應地從所述三維圖像信息中抽取的多個測量值包括:表示來自所述檢查對象物的檢查對象位置的反射光入射到所述三維拍攝裝置的光量的亮度信息、表示所述檢查對象物的檢查對象位置的水平方向及高度方向的位置的三維位置信息,
所述校正用數據存儲部對分別與所述亮度信息、三維位置信息對應的校正用數據圖表進行存儲。
3.如權利要求1或2所述的外觀檢查裝置,其特征在于,
所述校正用夾具構成為,在可由所述外觀檢查裝置的基板輸送機構輸送的夾具托架上拆裝自如地保持有多個單獨校正塊,
所述多個單獨校正塊包括:
亮度校正塊,為了校正所述亮度信息而將上面的光反射特性設定為規定的特性;
水平位置校正塊,為了校正所述水平方向的位置信息而以規定的位置精度形成有至少一個基準點及至少兩個方向的基準線;
高度位置校正塊,為了校正所述高度方向的位置信息而以規定的位置精度形成有多個高度基準面。
4.一種外觀檢查方法,其利用配置于在基板上安裝電子零件而制造安裝基板的電子零件安裝線的外觀檢查裝置,基于由拍攝裝置對所述基板進行拍攝而取得的圖像信息,進行檢查對象物的外觀檢查,其特征在于,包括:
檢查處理工序,基于從所述圖像信息中抽取到的測量值,對所述外觀檢查的檢查項目執行規定的檢查判定處理;
校正處理執行工序,由所述拍攝裝置對多個外觀檢查裝置共用的單一的校正用夾具進行拍攝,基于從拍攝取得的圖像信息中抽取到的校正用的測量值,由校正處理執行部執行生成校正用數據的校正處理;
校正用數據存儲工序,將所述生成的校正用數據作為該外觀檢查裝置固有的校正用數據圖表而存儲;
測量值變換處理工序,利用所述校正用數據圖表對所述抽取到的檢查用的測量值進行變換,并作為判定用的測量值而輸出,
在所述檢查處理工序中,將所述判定用的測量值與所述多個外觀檢查裝置共用的檢查判定數據進行比較,執行所述檢查處理。
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