[發明專利]封裝結構及其制造方法無效
| 申請號: | 201110161548.0 | 申請日: | 2011-06-02 |
| 公開(公告)號: | CN102315136A | 公開(公告)日: | 2012-01-11 |
| 發明(設計)人: | 陳勇仁;丁一權;陳家慶;林津華 | 申請(專利權)人: | 日月光半導體制造股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/56 | 分類號: | H01L21/56;H01L21/60;H01L23/31;H01L23/00 |
| 代理公司: | 上海專利商標事務所有限公司 31100 | 代理人: | 陸勍 |
| 地址: | 中國臺灣高雄市*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 封裝 結構 及其 制造 方法 | ||
技術領域
本案是有關于一種封裝結構及其制造方法,且特別是有關于一種芯片內埋式封裝結構及其制造方法。?
背景技術
隨著科技的進步,各式電子產品不斷推陳出新。尤其是在科技技術發展的過程中,半導體封裝技術扮演著極重要的角色。?
在半導體封裝工藝中,晶圓先經過切割,而形成一顆顆的晶粒。晶粒再通過打線、覆晶等工藝將其內部走線引導至外部,并通過封膠等方式來保護晶粒。?
在產品微小化與精密化的趨勢下,半導體封裝技術不斷地在追求如何在有限空間下,提高線路的精密度及構裝密集度。此外,除了提高線路的精密度及構裝密集度外,如何在新技術下維持工藝良率、質量與成本也同樣是研究發展的一重要目標。?
發明內容
本案有關于一種封裝結構其制造方法,其利用通孔的設計與工藝,提高線路的精密度及構裝密集度,并維持工藝良率、質量與成本。?
根據本案的一方面,提出一種封裝結構的制造方法。封裝結構的制造方法包括以下步驟。提供一封膠件及一芯片。封膠件具有一第一表面及一第二表面。芯片埋入于封膠件。芯片的一主動表面暴露于第一表面。形成一第一重布線路層(Redistribution?Layer,RDL)于第一表面。蝕刻封膠件及第一重布線路層,以形成一封膠通孔及一線路通孔。于封膠通孔及線路通孔形成一導電柱。形成一第二重布線路層(Redistribution?Layer,RDL)于第二表面。導電柱電性連接第一重布線路層及第二重布線路層。?
根據本案的另一方面,提出一種封裝結構的制造方法。封裝結構的制造方法包?括以下步驟。提供一封膠件及一芯片。封膠件具有一第一表面及一第二表面。芯片埋入于封膠件。芯片的一主動表面暴露于第一表面。蝕刻封膠件,以形成一封膠通孔。于封膠通孔形成一導電柱。形成一第一重布線路層(Redistribution?Layer,RDL)于第一表面。第一重布線路層電性連接導電柱。形成一第二重布線路層(Redistribution?Layer,RDL)于第二表面,第二重布線路層電性連接導電柱。?
根據本案的再一方面,提出一種封裝結構。封裝結構包括一封膠件、一芯片、一第一重布線路層、一電鍍種子層及一導電層。封膠件具有一第一表面、一第二表面及一封膠通孔。封膠通孔從第一表面至第二表面穿透封膠件。芯片埋入于封膠件。芯片的一主動表面暴露于第一表面。第一重布線路層具有一線路通孔。第一重布線路層設置于第一表面。線路通孔連通于封膠通孔。電鍍種子層設置于封膠通孔的孔壁及線路通孔的孔壁。導電柱設置于封膠通孔及線路通孔內。?
為了對本案的上述及其它方面更了解,下文特舉實施例,并配合所附圖式,作詳細說明如下:?
附圖說明
圖1A~1F繪示一實施例的封裝結構的制造方法。?
圖2A~2M繪示一實施例的封裝結構的制造方法。?
圖3為封膠通孔與線路通孔的連通處的SEM圖。?
主要組件符號說明:?
100:封裝結構?
110:封膠件?
110a:第一表面?
110b:第二表面?
110h:封膠通孔?
120:芯片?
120a:主動表面?
120b:非主動表面?
120c:接墊?
130:第一重布線路層?
130h:線路通孔?
131:第一介電層?
132:第一導線層?
133:第二介電層?
133a、135a、193a、195a:開口?
134:第一焊墊?
135:第一光阻層?
150:錫球?
160:保護膜?
170:導電柱?
180、182:電鍍種子層?
181:金屬材料?
190:第二重布線路層?
191:第三介電層?
192:第二導線層?
193:第四介電層?
194:第二焊墊?
195:第二光阻層?
A:中間區域?
L110:封膠件的厚度?
L130:第一重布線路層的厚度?
L170:導電柱的長度?
具體實施方式
請參照圖1A~1F,其繪示一實施例的封裝結構100的制造方法。通過圖1A~?1F的步驟,可以形成雙面具有重布線路層的晶圓級芯片內埋式封裝結構100。?
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





