[發(fā)明專利]面粉麩星自動(dòng)檢測(cè)裝置無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201010126343.4 | 申請(qǐng)日: | 2010-03-18 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101819158A | 公開(公告)日: | 2010-09-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李同強(qiáng) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 浙江工商大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N21/85 | 分類號(hào): | G01N21/85;G01N21/88;G06K9/78;G06T5/00;G06F3/041 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 310018 浙江省杭州*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 面粉 自動(dòng)檢測(cè) 裝置 | ||
所屬技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種面粉麩星的自動(dòng)檢測(cè)裝置,尤其是一種放置于面粉生產(chǎn)線上的,或者面粉廠質(zhì)量監(jiān)測(cè)室內(nèi)的,用于面粉麩星的實(shí)時(shí)或快速自動(dòng)裝置。
背景技術(shù)
面粉麩星是指成品面粉中可見的(用肉眼能識(shí)別的)顏色明顯黑于面粉的斑點(diǎn),其主要成分是小麥加工面粉過程中未分離出去的小麥麩皮,也有未清理干凈的蕎麥皮、草籽皮,甚至還有大小、比重與小麥相近的黑石塊、煤渣等。面粉麩星的單個(gè)大小和數(shù)量多少不但影響面粉的純度與白度,也將影響面粉生產(chǎn)工藝過程其他相關(guān)指標(biāo)如:出粉率、粉中含麩率、面粉等級(jí)等。更可衡量面粉生產(chǎn)過程中清理是否干凈、磨粉機(jī)搭配調(diào)整是否得當(dāng)、篩理匹配是否合理等。從中還可得出小麥制粉工藝及設(shè)備是否先進(jìn)、操作是否合理等。由于我國(guó)的面粉食用是以蒸煮為主,消費(fèi)者也十分在意面粉麩星的單個(gè)大小和數(shù)量多少。面粉中麩星的含量多少是面粉質(zhì)量等級(jí)評(píng)定的一個(gè)重要指標(biāo),也是反映面粉生產(chǎn)工藝水平的重要指標(biāo)。
由于面粉麩星的面積雖然小、數(shù)量多,在白色的面粉中十分明顯,特別是在蒸好的饅頭中更是清晰可見,但我們卻很難將其準(zhǔn)確數(shù)量化。我們只能評(píng)價(jià)哪種面粉的麩星(如特一粉、特二粉、標(biāo)準(zhǔn)粉)高中低、多和少,至于高是多少、低是多少都很難將其準(zhǔn)確定量表述。全國(guó)各地的面粉廠和面粉檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)都是用國(guó)家糧食檢驗(yàn)方面的專家每年(或半年)憑感官評(píng)出(只有面粉麩星憑感官,其他參數(shù)都有國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)、檢驗(yàn)方法、檢驗(yàn)設(shè)備等詳細(xì)要求)的等級(jí)面粉小樣與要檢驗(yàn)的面粉進(jìn)行比較,給出某種面粉麩星是否超標(biāo)而定該面粉的質(zhì)量和等級(jí),速度慢、誤差較大。
“面粉麩星自動(dòng)檢測(cè)裝置”是基于計(jì)算機(jī)視覺技術(shù)的實(shí)時(shí)、快速、自動(dòng)檢測(cè)面粉麩星含量的儀器。可用于面粉生產(chǎn)企業(yè)的在線監(jiān)測(cè),使其能實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)面粉生產(chǎn)情況,同時(shí)也可以做為面粉檢測(cè)機(jī)構(gòu)的檢測(cè)儀器,用于檢測(cè)送檢面粉樣品的麩星含量。
麩星的識(shí)別和測(cè)量是建立在數(shù)字圖像處理和模式識(shí)別相關(guān)理論基礎(chǔ)上的。用攝像頭實(shí)時(shí)或快速拍攝面粉圖像,面粉圖像經(jīng)圖像采集卡轉(zhuǎn)換成數(shù)碼圖片送入計(jì)算機(jī),經(jīng)過面粉麩星識(shí)別與計(jì)算軟件系統(tǒng)計(jì)算出面粉中麩星的數(shù)目、麩星所占面粉的比例、面粉中各個(gè)麩星的大小等。面粉麩星識(shí)別與計(jì)算軟件系統(tǒng)的實(shí)現(xiàn)算法主要包括面粉圖像的預(yù)處理和麩星的識(shí)別與測(cè)量算法。圖像的預(yù)處理中首先將CCD攝像頭采集的RGB真彩色面粉麩星圖像轉(zhuǎn)換為灰度圖像,然后采用了中值濾波、高斯濾波、形態(tài)學(xué)濾波、拉普拉斯銳化、邊緣檢測(cè)等算法對(duì)圖像處理的影響,最終采用高斯平滑濾波加上拉普拉斯銳化的處理算法。在預(yù)處理的基礎(chǔ)上對(duì)圖像中的麩星進(jìn)行檢測(cè),采用包括投影法,差影法、模板匹配法、線性判別法、K均值聚類法等各種方法。最后借鑒閾值分割和模板匹配法的思路,利用麩星與面粉灰度值不同的特點(diǎn),采用將面粉圖像分成多個(gè)小塊的方法,對(duì)單個(gè)小塊計(jì)算灰度值求得圖像的最佳閾值,計(jì)算圖像中麩星的數(shù)目和大小。在此基礎(chǔ)上,對(duì)圖像進(jìn)行對(duì)比度分析,完成麩星相關(guān)信息獲取工作,在顯示設(shè)備上顯示獲得的數(shù)據(jù),完成了麩星的定量檢測(cè)工作。
該系統(tǒng)主要從三個(gè)方面檢測(cè)面粉的質(zhì)量:面粉中麩星的數(shù)目、麩星所占面粉的比例、面粉中各個(gè)麩星的大小。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是要解決實(shí)時(shí)或快速定量檢測(cè)面粉中的麩星含量的問題,提供一種直接顯示面粉中麩星的數(shù)目、麩星所占面粉的比例、面粉中各個(gè)麩星的大小的裝置,讓面粉廠隨時(shí)掌握面粉質(zhì)量情況、生產(chǎn)工藝、設(shè)備及操作是否正常等。同時(shí)也可用于面粉廠質(zhì)量監(jiān)測(cè)室或面粉質(zhì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)快速檢測(cè)面粉麩星含量。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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