技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及光譜分析，特別是在熒光猝滅測(cè)試中的光譜分析，即熒光猝滅分析。

背景技術(shù)

在光譜分析中，受到激發(fā)光激發(fā)后能夠產(chǎn)生熒光的物質(zhì)稱為“熒光試劑”，加入到熒光試劑溶液中以后能使原來的熒光減弱的物質(zhì)則稱為“猝滅劑”，通過檢測(cè)加入猝滅劑前、后熒光強(qiáng)度之變化進(jìn)行分析的方法，就稱為“熒光猝滅分析”。利用熒光猝滅分析方法，可以分析某些自身熒光較難檢測(cè)但具有猝滅特性的物質(zhì)的含量，也可以用來分析熒光猝滅過程中兩種物質(zhì)之間(即熒光試劑與猝滅劑之間)的能量轉(zhuǎn)移和電子轉(zhuǎn)移效率。

采用熒光猝滅分析方法時(shí)，要求猝滅劑對(duì)所選擇的激發(fā)光不產(chǎn)生吸收——即所選擇的激發(fā)光的波長應(yīng)當(dāng)位于猝滅劑的吸收譜之外，激發(fā)光僅被熒光試劑單獨(dú)吸收，滿足這一條件時(shí)，加入猝滅劑前，熒光試劑所產(chǎn)生的熒光譜表示為圖1中的曲線A；加入猝滅劑后，猝滅劑對(duì)熒光試劑所產(chǎn)生的熒光也不應(yīng)當(dāng)產(chǎn)生吸收，被猝滅的熒光光譜表示為圖1中的曲線B。利用曲線A和曲線B即可獲得熒光猝滅率。

但在實(shí)際過程中，常常由于熒光試劑與猝滅劑的吸收譜存在交迭，無法避開猝滅劑的吸收范圍而僅僅對(duì)熒光試劑進(jìn)行單獨(dú)激發(fā)。這種情況下，加入猝滅劑前，只有熒光試劑單獨(dú)對(duì)激發(fā)光進(jìn)行吸收，所產(chǎn)生的熒光譜表示為圖2中的曲線a；而加入猝滅劑后，整個(gè)過程將變得復(fù)雜化，首先，猝滅劑對(duì)激發(fā)光也同時(shí)產(chǎn)生吸收(以下稱為直接吸收)，這將削弱熒光試劑對(duì)激發(fā)光的吸收，使得熒光試劑實(shí)際可以發(fā)出的熒光相應(yīng)減少，表示為圖2中的曲線A′，隨后該熒光被猝滅劑所猝滅，猝滅后的熒光表示為圖2中的曲線B′，而猝滅后的熒光會(huì)被猝滅劑再次吸收(以下稱為二次吸收)，并導(dǎo)致熒光光譜出現(xiàn)畸變，表示為圖2中的曲線b。通過實(shí)驗(yàn)?zāi)軌驕y(cè)量得到的是加入猝滅劑前的曲線a和加入猝滅劑后的曲線b，但此時(shí)實(shí)際的熒光猝滅率應(yīng)當(dāng)由曲線A′和曲線B′獲得。由于實(shí)驗(yàn)中無法得到代表中間變量的曲線A′和曲線B′，就無法正確地評(píng)估猝滅率，從而嚴(yán)重地制約了熒光猝滅分析方法的應(yīng)用。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明針對(duì)上述現(xiàn)有技術(shù)所存在的不足之處，提供一種熒光猝滅分析中去除猝滅劑吸收影響的校正方法。利用本發(fā)明所給出的校正方法，可以通過校正曲線a和曲線b來獲得曲線A′和曲線B′，從而克服熒光猝滅分析中猝滅劑吸收作用所產(chǎn)生的影響，使得那些原本因吸收譜存在交迭而不適合采用熒光猝滅法進(jìn)行分析的物質(zhì)現(xiàn)在可以利用熒光猝滅法進(jìn)行分析，擴(kuò)大了熒光猝滅分析的應(yīng)用范圍。

本發(fā)明解決技術(shù)問題采用如下技術(shù)方案：

本發(fā)明熒光猝滅分析中去除猝滅劑吸收影響的校正方法的特點(diǎn)是按如下步驟進(jìn)行；

a、用光譜曲線a校正獲得曲線A′；

所述光譜曲線a為單獨(dú)熒光試劑受激發(fā)光激發(fā)后所產(chǎn)生的熒光的實(shí)際測(cè)量譜，以函數(shù)I₁(λ)表征光譜曲線a；以函數(shù)I₁′(λ)表征對(duì)熒光試劑與猝滅劑的混合樣品，去除直接吸收影響后熒光試劑實(shí)際可以發(fā)出的未被猝滅的熒光譜曲線A′；