技術領域

本發明涉及一種參數數據測試技術，詳而言之，涉及一種可得知基板管理控制器對用于儲存參數數據的儲存單元讀寫正確性及讀取穩定性的參數數據測試方法。

背景技術

目前應用于服務器的基板管理控制器(Baseboard?ManagementController；BMC)的參數數據分別儲存于各種可替換式硬件組件單元(Field?Replaceable?Unit，FRU)及SDR(Sensor?Data?Record)式內存單元，而該參數數據對基板管理控制器來說具有相當的重要性，當服務器在休眠或關機的狀態下，可通過該參數數據協助基板管理控制器繼續進行工作，例如遠程信息的接收、服務器內部信號傳遞等等，讓服務器在休眠或關機狀態下還可以進行部份工作，不因服務器進入休眠或關機狀態而閑置。

由于目前的服務器制造商在基板管理控制器的各種可替換式硬件組件單元(Field?Replaceable?Unit，FRU)及SDR(Sensor?Data?Record)式內存單元在各種平臺的開發上，有可能無法百分之百完全無誤的寫入參數數據或將該參數數據穩定的讀出，若參數數據無法正確在各種可替換式硬件組件單元(Field?Replaceable?Unit，FRU)及SDR(Sensor?DataRecord)式內存單元進行穩定的讀寫，則會使該基板管理控制器在工作時讀取到錯誤的參數數據，而以讀取到錯誤的參數數據進行工作時，也有可能使服務器運作不穩或是停機，進而產生客訴問題，故對于服務器制造商的商品形象及口碑影響相當大。

因此，如何提供一種參數數據讀寫是否正確及穩定的測試方法，實為業界亟待解決的問題。

發明內容

鑒于上述現有技術的缺點，本發明主要目的在于提供一種對參數數據的讀寫測試是否正確及穩定的參數數據測試方法。

為達上述的目的，本發明提供一種參數數據測試方法，應用于具有基板管理控制器、參數數據儲存單元以及緩存單元的計算機裝置，該參數數據測試方法包括以下步驟：(1)令該基板管理控制器將儲存于該參數數據儲存單元內的參數數據讀出，且將該參數數據傳送至該緩存單元儲存；(2)令該基板管理控制器清除該參數數據儲存單元內的參數數據；(3)令該基板管理控制器自該緩存單元讀出該參數數據，并將該參數數據重新寫入該參數數據儲存單元；以及(4)令該基板管理控制器對比該參數數據儲存單元與該緩存單元內的參數數據是否相符。

另該參數數據測試方法還包括輸入循環數值，若該計算機裝置執行該步驟(1)至步驟(4)的次數未達該循環數值，則重還執行該步驟(1)至步驟(4)；若執行該步驟(1)至步驟(4)的次數已達該循環數值則結束該參數數據測試方法。

在上述步驟(1)中，該緩存單元所提供的儲存空間至少等于用于儲存該參數數據的大小，或者該緩存單元所提供的儲存空間可等于或大于該參數數據儲存單元所提供的儲存空間。

上述步驟(2)中，該清除方式是以電性抹除或填00h、FFh方式清除該參數數據儲存單元內的參數數據。

上述步驟(4)中，對比該參數數據儲存單元與該緩存單元的參數數據的長度大小及內容是否一致，且將對比后的數據信息記錄并輸出，以供查詢。

本發明的參數數據測試方法的另一實施例中，在執行該步驟(1)至步驟(4)的次數已達該循環數值時，則輸出對比后數據信息，而該數據信息是指該參數數據儲存單元與該緩存單元內的參數數據對比一致及對比不一致的比值。

綜上所述，本發明的參數數據測試方法，用于判斷參數數據儲存單元讀寫參數數據是否正確及穩定，以確?；骞芾砜刂破鲗禂祿谠搮禂祿Υ鎲卧M行讀寫的正確性以及穩定性。

附圖說明

圖1為運作本發明的參數數據測試方法的系統架構方塊示意圖；以及

圖2為本發明的參數數據測試方法的流程示意圖。

[主要組件符號說明]

1???計算機裝置

11??基板管理控制器

12??參數數據儲存單元

13??緩存單元

S1～S8??步驟

具體實施方式

以下通過特定的具體實例說明本發明的實施方式，本領域技術人員可由本說明書所揭示的內容輕易地了解本發明的其它優點與功效。