[發明專利]參數數據測試方法有效
| 申請號： | 200610169423.1 | 申請日： | 2006-12-14 |
| 公開（公告）號： | CN101201780A | 公開（公告）日： | 2008-06-18 |
| 發明（設計）人： | 林大華 | 申請（專利權）人： | 英業達股份有限公司 |
| 主分類號： | G06F11/22 | 分類號： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京紀凱知識產權代理有限公司 | 代理人： | 程偉;王錦陽 |
| 地址： | 中國臺*** | 國省代碼： | 中國臺灣;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 參數 數據 測試 方法 | ||
1.一種參數數據測試方法，應用于具有基板管理控制器、參數數據儲存單元以及緩存單元的計算機裝置，該數據參數測試方法包括以下步驟：
(1)令該基板管理控制器將儲存于該參數數據儲存單元內的參數數據讀出，且將該參數數據傳送至該緩存單元儲存；
(2)令該基板管理控制器清除該參數數據儲存單元內的參數數據；
(3)令該基板管理控制器自該緩存單元讀出該參數數據，并將該參數數據重新寫入該參數數據儲存單元；以及
(4)令該基板管理控制器對比該參數數據儲存單元與該緩存單元內的參數數據是否一致。
2.根據權利要求1所述的參數數據測試方法，該方法還包括輸入循環數值，若該計算機裝置執行該步驟(1)至步驟(4)的次數未達該循環數值，則重還執行該步驟(1)至步驟(4)；若執行該步驟(1)至步驟(4)的次數已達該循環數值則結束該參數數據測試方法。
3.根據權利要求1所述的參數數據測試方法，其中，該緩存單元所提供的儲存空間至少等于可用于儲存該參數數據的大小。
4.根據權利要求1所述的參數數據測試方法，其中，該緩存單元所提供的儲存空間等于該參數數據儲存單元所提供的儲存空間。
5.根據權利要求1所述的參數數據測試方法，其中，該緩存單元所提供的儲存空間大于該參數數據儲存單元所提供的儲存空間。
6.根據權利要求1所述的參數數據測試方法，其中，在該步驟(2)中，該清除方式是以電性抹除或填00h、FFh方式清除該參數數據儲存單元內的參數數據。
7.根據權利要求1所述的參數數據測試方法，其中，在該步驟(4)中，對比該參數數據儲存單元與該緩存單元的參數數據的長度大小及內容是否一致。
8.根據權利要求1所述的參數數據測試方法，該方法還包括將對比后的數據信息記錄并輸出。
9.根據權利要求2所述的參數數據測試方法，其中，在執行該步驟(1)至步驟(4)的次數已達該循環數值時，輸出對比后數據信息，而該數據信息是指該參數數據儲存單元與該緩存單元內的參數數據對比一致及對比不一致的比值。
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