本實用新型涉及一種照相、錄像、放大和觀看設備的附件。

單軸晶體和雙軸晶體的偏振錐光干涉圖是指偏振錐光束在光學各向異性的晶體中產生雙折射，因雙折射引起的光程差，經檢偏片檢偏后得到的晶片錐光干涉圖。為了得到晶片錐光干涉圖，通常是將發散的光相繼通過反射鏡、起偏片、聚光鏡、單軸晶體或雙軸晶體、目鏡、檢偏片、勃氏透鏡和目鏡，然后肉眼可以看見晶片偏振錐光干涉圖，偏光顯微鏡就屬這類產品。但由于這些產品的價格昂貴、體積較大、調節麻煩和攜帶不便等原因，因此很難用在通常的照相、放映和觀看設備中。

本實用新型的目的是提出一種用于通常的照相、錄像、放大和觀看設備的晶片偏振錐光干涉鏡，以使照片或圖像獲得特殊的效果。

本實用新型的目的是這樣來完成的：本實用新型的晶片偏振錐光干涉鏡包括起偏片、光學各向異性晶片和檢偏片，三者按起偏片、單軸晶片或雙軸晶片、檢偏片的次序、透光面與透光面平行的方式和以小于0.8厘米的間隔排列起來，空間的自然光或人造光面光源經過起偏片以后，在光學各向異性晶片的一點上成一偏光錐光束，偏光錐光束經各向異性晶片的雙折射引起光程差，并經檢偏片后成干涉圖，此時，檢偏片后接照相機物鏡或在檢偏片后的肉眼觀察便可攝得或觀看到干涉圖。由于干涉圖是無定域的，所以在獲得干涉圖的同時又可對景物調焦得到清晰圖像，從而使記錄圖像有特殊的效果。

由于本實用新型的晶片偏振錐光干涉鏡是以自然光面光源或人造光面光源為光源和起偏片、各向異性晶片、檢偏片是以小于0.8厘米的間隔排列起來，與其他的晶片偏振錐光干涉圖產生裝置比較起來，具有結構簡單，造價低和體積小的特點，能很方便地用于通常的照相、錄像、放大和觀看設備中，等傾干涉條紋和等色干涉條紋清晰，等色干涉條紋最多可大于30級，觀察角大，在垂直方向約為130°，在水平方向約為160°，均大于高級偏光顯微鏡之值。

下面將結合實施例及其附圖對本實用新型的晶片偏振錐光干涉鏡作進一步的說明。

圖1是本實用新型晶片偏振錐光干涉鏡一種實施例的俯視圖。

圖2是圖1的A－A剖面圖。

圖3是本實用新型晶片偏振錐光干涉鏡另一種實施例的俯視圖。

圖4是圖3的A－A剖面圖。

圖5是本實用新型晶片偏振錐光干涉鏡第三種實施例的俯視圖。

圖6是圖5的A－A剖面圖。

圖7是本實用新型晶片偏振錐光干涉鏡第四種實施例的俯視圖。

圖8是圖7的A－A剖面圖。

圖9是實施例1的晶片偏振錐光干涉鏡所得到的照片。

圖10是實施例2的晶片偏振錐光干涉鏡所得到的照片。

圖11是實施例3的晶片偏振錐光干涉鏡所得到的照片。

圖12是實施例4的晶片偏振錐光干涉鏡所得到的照片。

實施例1：

本實用新型的晶片偏振錐光干涉鏡包括玻璃片（1）、起偏片（2）、鈮酸鋰單軸晶片（3）、檢偏片（4）、玻璃片（5）、保護框（6）和壓圈（7），玻璃片的厚度約為1毫米，起偏片和撿偏片都是厚度大約為0.15毫米的膜片，鈮酸鋰晶片的光軸垂直于透光面，玻璃片和鈮酸鋰單軸晶片均按常規的光學要求加工，起偏片和撿偏片是以透過起偏片偏振光的振動平面與透過檢偏片的振動平面互相垂直的方式，在經拋光的晶片的一個透光面上貼一層起偏片，在另一個透光面上貼一層檢偏片，然后在起偏片和檢偏片上各蓋一層玻璃片（1）和（5），以保護起偏片和檢偏片不損壞，以及使起偏片、鈮酸鋰晶片和檢偏片組成的晶片偏振錐光干涉鏡不變形。為了使用方便和不受損壞，按上述加工的晶片偏振錐光干涉鏡還有一個保護框（6），該保護框是用高分子塑料或金屬制成，本實施例中采用鋁合金，該保護框還帶內羅紋（18）和外羅紋（19），羅紋（18）是用于用壓圈把晶片偏振錐光干涉鏡鏡片固定在保護框內，羅紋（19）是把整個晶片偏振錐光干涉鏡與照相機聯接起來，以用于和照相機的聯結，所以，羅紋（19）應與所用的照相機的聯結羅紋一致，保護框與照相機的聯結還可采用其他的方式，如將保護框套在照相機的鏡頭上，當然二者的尺寸應配合。根據與照相機配合的保護框的規格，所用的晶片錐光干涉鏡應采用與保護框配合的尺寸。

按上述方法制得的晶片偏振錐光干涉鏡安裝在照相機上所得的照片效果見圖9。攝影條件：柯尼卡照相機，鈉光燈光源，光圈及爆光時間：自控方式，焦距為無窮遠。

實施例2：

在以下的實施例中，與圖1中位置相同的組成部份采用與圖1相同的編號。