[其他]雙聚焦質譜儀無效
| 申請號: | 86104194 | 申請日: | 1986-05-14 |
| 公開(公告)號: | CN86104194A | 公開(公告)日: | 1987-09-23 |
| 發明(設計)人: | 羅伯特·哈羅德·巴蒂曼 | 申請(專利權)人: | VG儀器集團有限公司 |
| 主分類號: | G01N30/72 | 分類號: | G01N30/72;H01J49/32;H01J49/26 |
| 代理公司: | 中國國際貿易促進委員會專利代理部 | 代理人: | 趙蓉民 |
| 地址: | 英國西*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 聚焦 質譜儀 | ||
1、一種質譜儀,至少具有三個靜電型或磁場型分析器扇形體,至少有一個扇形體為靜電型,而其余的扇形體至少有一個為磁場型,該質譜儀包括一聚焦扇形體序列,至少由三個所述扇形體組成,該序列各扇形體具有選定的尺寸和位置,從而能共同協調地工作以形成一個速度聚焦和方向聚焦的象,并且該序列扇形體的選定的尺寸和位置能使在序列中間不產生速度聚焦的象,其中,該序列的一個扇形體緊鄰地配置在兩個另一類型扇形體之間。
2、一種質譜儀,至少具有三個靜電型或磁場型分析器扇形體,至少有一個扇形體為靜電型,而其余的扇形體中至少有一個為磁場型,該質譜儀包括一聚焦扇形體序列,至少由三個所述扇形體組成,該序列各扇形體具有選定的尺寸和位置,從而能共同協調地工作以形成一個速度聚焦和方向聚焦的象,并且該序列扇形體的選定的尺寸和位置能使在序列中間不產生方向聚焦的象。
3、根據權利要求2的一種質譜儀,其中,所述序列的一個扇形體緊鄰地配置在兩個另一類型的扇形體之間。
4、根據權利要求1的一種質譜儀,具有離子可沿其飛行的中心軌跡,其中,所述序列包括兩個靜電扇形體和一個磁扇形體。
5、根據權利要求2的一種質譜儀,具有離子可沿飛行的中心軌跡,其中,所述序列包括兩個靜電扇形體和一個磁扇形體。
6、根據權利要求4的一種質譜儀,再中,應滿足下述關系式:
式中
re1為第一靜電扇形體的半徑,
re2為第二靜電扇形體的半徑,
rm為磁扇形體的半徑,
φe1為第一靜電扇形體的扇形角,
φe2為第二靜電扇形體的扇形角,
φm1為中心軌跡的第一條法線與一平面的夾角,第一條法線位于中心軌跡與磁扇形體入射界面的交點上,而中心軌跡的第二條法線位于中心軌跡與磁扇形體出射界面的交點上,上述平面通過上述兩條法線的交點并與中心軌跡相垂直,
φm2為第二條法線與所述平面之間的夾角,
ε′??為所述磁扇形體入射界面對第一條法線的傾角,
ε″??為所述磁扇形體出射界面對第二條法線的傾角,
d1為所述第一靜電扇形體出射界面與磁扇形體入射界面之間的距離,沿中心軌跡測量,
d2為所述磁扇形體出射界面與第二靜電扇形體入射界面之間的距離,沿中心軌跡測量。
7、根據權利要求5的一種質譜儀,其中,滿足下述關系式:
式中φm=2φm1=2φm2
φe=φe1=φe2
d=d1=d2
re=re1=re2
且rm、rm1、rm2、φe1、φe2、d1和d2的定義與權利要求6所述相同。
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