[發明專利]一種測量黑腔M帶X射線輻射對稱性的方法在審
| 申請號： | 202110725477.6 | 申請日： | 2021-06-29 |
| 公開（公告）號： | CN113655512A | 公開（公告）日： | 2021-11-16 |
| 發明（設計）人： | 李琦;郭亮;趙航;李志超;龔韜;潘凱強;李三偉;蔣小華 | 申請（專利權）人： | 中國工程物理研究院激光聚變研究中心 |
| 主分類號： | G01T1/00 | 分類號： | G01T1/00 |
| 代理公司： | 成都九鼎天元知識產權代理有限公司 51214 | 代理人： | 徐靜 |
| 地址： | 621900 四川省綿*** | 國省代碼： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 測量 射線 輻射 對稱性 方法 | ||
1.一種測量黑腔M帶X射線輻射對稱性的方法，其特征在于，包括以下步驟：
S1、設置測量裝置；所述測量裝置包括依次間隔放置的黑腔、單能通道、針孔列陣、微通道板和X射線成像設備，所述黑腔、所述單能通道、所述針孔陣列、所述微通道板和所述X射線成像設備的中心位于一條直線上；
S2、在靶球表面涂上一層熒光材料，將靶球設置在黑腔中心；
S3、將激光射入所述黑腔，在所述X射線成像設備上得到單能的靶球熒光圖像；
S4、利用所述靶球熒光圖像，計算得到M帶X射線輻射對稱性。
2.根據權利要求1所述的一種測量黑腔M帶X射線輻射對稱性的方法，所述黑腔為用于間接驅動激光聚變研究的上下開有通孔、中間貫通的腔體，其特征在于，所述黑腔的兩側壁上分別開有一個診斷孔，兩個所述診斷孔的法線所成角度為180°。
3.根據權利要求2所述的一種測量黑腔M帶X射線輻射對稱性的方法，其特征在于，所述診斷孔、所述單能通道、所述針孔陣列、所述微通道板和所述X射線成像設備的中心均位于同一條直線上。
4.根據權利要求3所述的一種測量黑腔M帶X射線輻射對稱性的方法，其特征在于，步驟S3中，激光從所述通孔射入，在所述黑腔壁上轉換為軟X射線和M帶X射線，M帶X射線誘發所述靶球上熒光材料的特征熒光，所述特征熒光經過所述診斷孔射出所述黑腔，所述特征熒光依次經過所述單能通道、所述針孔陣列和所述微通道板，最終在所述X射線成像設備上得到單能的靶球熒光圖像。
5.根據權利要求1所述的一種測量黑腔M帶X射線輻射對稱性的方法，其特征在于，步驟S4中，利用所述靶球熒光圖像得到熒光強度角分布f(θ)，將f(θ)按勒讓德多項式展開，得到：
展開系數得到黑腔內M帶X射線的各階輻射不對稱性分別為c1/c0，c2/c0，c3/c0......cl/c0，其中Pl(cosθ)為l次勒讓德多項式。
6.根據權利要求1所述的一種測量黑腔M帶X射線輻射對稱性的方法，其特征在于，步驟S2中，所述靶球的中心為一個碳氫實心球，外層涂的熒光材料為硅熒光材料。
7.根據權利要求6所述的一種測量黑腔M帶X射線輻射對稱性的方法，其特征在于，所述硅熒光材料的厚度為5-10μm。
8.根據權利要求1所述的一種測量黑腔M帶X射線輻射對稱性的方法，其特征在于，所述單能通道為羅斯濾片或球面彎晶，用于X射線單能選通。
9.根據權利要求1所述的一種測量黑腔M帶X射線輻射對稱性的方法，其特征在于，步驟S3中，所述熒光圖像為靶球熒光在不同時間段的單能X射線圖像。
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