[發明專利]一種CRC碼并行計算方法、裝置及其應用有效
| 申請號： | 202110442600.3 | 申請日： | 2021-04-23 |
| 公開（公告）號： | CN113110954B | 公開（公告）日： | 2023-10-24 |
| 發明（設計）人： | 呂向東;魏斌;任軍;盛榮華;唐偉童;陳真;李政達 | 申請（專利權）人： | 恒爍半導體（合肥）股份有限公司 |
| 主分類號： | G06F11/10 | 分類號： | G06F11/10 |
| 代理公司： | 合肥東邦滋原專利代理事務所(普通合伙) 34155 | 代理人： | 王天馬 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市廬陽區天*** | 國省代碼： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 crc 并行 計算方法 裝置 及其 應用 | ||
1.一種CRC碼并行計算方法，用于計算生成待編碼數據的CRC校驗碼，其特征在于，所述待編碼數據包括至少一組等比特位數據，所述計算方法包括：
獲取CRC生成多項式，處理生成一校驗基準矩陣；
基于校驗基準矩陣對第一組數據進行計算處理生成第一CRC校驗碼；
將第一CRC校驗碼與第二組數據執行異或操作，并基于校驗基準矩陣對異或結果計算處理生成第二CRC校驗碼；
依次對后續組數據重復執行上一步驟，并將最終生成的CRC校驗碼作為待編碼數據的CRC校驗碼輸出。
2.根據權利要求1所述的一種CRC碼并行計算方法，其特征在于，所述校驗基準矩陣通過以下方法生成，包括：
根據CRC生成多項式配置產生一組信息碼；
匹配生成第一信息碼的校驗基準值；
基于第一信息碼的校驗基準值依次生成后續信息碼的校驗基準值，具體包括：
若第n-1(n≥2)信息碼的校驗基準值最高位數據為0，則將第n-1信息碼的校驗基準值左移一位得到第n信息碼的校驗基準值；
否則將第n-1個信息碼的校驗基準值左移一位后再與第一信息碼的校驗基準值進行異或操作才得到第n信息碼的校驗基準值；
根據所有校驗基準值配置生成校驗基準矩陣。
3.根據權利要求2所述的一種CRC碼并行計算方法，其特征在于，所述根據CRC生成多項式配置產生一組信息碼具體包括：
根據CRC生成多項式階k，配置生成一個最低位為1、高位均為0的k比特數據作為第一信息碼；
對第一信息碼依次執行左移位操作，順序得到k-1個k比特信息碼。
4.根據權利要求3所述的一種CRC碼并行計算方法，其特征在于，所述匹配生成第一信息碼的校驗基準值具體包括：
將CRC生成多項式轉換為二進制數據，定位去除最高位后二進制數據中為1的所有位序；
依次輸出與位序匹配映射的信息碼；
將輸出的信息碼進行異或操作后的結果作為第一信息碼的校驗基準值輸出。
5.根據權利要求4所述的一種CRC碼并行計算方法，其特征在于，所述基于校驗基準矩陣對第一組數據進行計算處理生成第一CRC校驗碼具體包括：
定位第一組數據中所有有效位的位序；
依次輸出校驗基準矩陣中與位序匹配映射的校驗基準值；
將輸出的校驗基準值進行異或操作后的結果作為第一CRC校驗碼輸出。
6.根據權利要求5所述的一種CRC碼并行計算方法，其特征在于，所述基于校驗基準矩陣對異或結果計算處理生成第二CRC校驗碼具體包括：
定位異或結果中所有有效位的位序；
依次輸出校驗基準矩陣中與位序匹配映射的校驗基準值；
將輸出的校驗基準值進行異或操作后的結果作為第二CRC校驗碼輸出。
7.一種CRC碼并行計算裝置，其特征在于，包括：
獲取模塊，配置成用于獲取CRC生成多項式；
校驗基準矩陣產生模塊，配置成根據CRC多項式產生一組信息碼，并依此生成校驗基準矩陣；
讀取模塊，配置成依次讀取待編碼數據中的每組等比特位數據并送入校驗碼生成模塊；
校驗碼生成模塊，配置成：
基于校驗基準矩陣對第一組數據進行計算處理生成第一CRC校驗碼；
將第一CRC校驗碼與第二組數據執行異或操作，并基于校驗基準矩陣對異或結果計算處理生成第二CRC校驗碼，判斷該組數據是否為待編碼數據中最后一組數據輸入：
否則反饋得到的CRC碼并與輸入的新一組數據重復執行本步驟；
是則將得到的CRC碼待編碼數據的CRC校驗碼輸出。
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