本發明公開了一種工件的瑕疵檢測方法、裝置、設備及存儲介質，獲取良品工件的工件圖像，計算所述工件圖像的像素點瑕疵量；基于第一預設排除法和第二預設排除法確定所述工件圖像的像素閾值上下限；根據所述像素閾值上下限對所述像素點瑕疵量進行異常點排除，確定所述工件圖像的瑕疵閾值上下限；根據所述瑕疵閾值上下限生成瑕疵檢測公式，并根據所述瑕疵檢測公式對待檢測工件的待檢測圖像進行瑕疵檢測。本發明通過兩種排除法對工件圖像進行異常點排除，以此確定工件圖像的瑕疵閾值上下限，再通過瑕疵檢測公式對待檢測工件的待檢測圖像進行精確的瑕疵檢測，避免工件內部邊緣被誤檢或漏檢為瑕疵，提高工件瑕疵檢測的準確率。

技術領域

本發明涉及瑕疵檢測技術領域，尤其涉及一種工件的瑕疵檢測方法、裝置、設備及存儲介質。

背景技術

瑕疵檢測傳統方法只能在平坦的工件表面檢測瑕疵，如果工件表面有邊緣存在，則工件表面的邊緣會被誤檢為瑕疵，或者邊緣缺失時會漏檢瑕疵，導致工件瑕疵檢測的準確率較低。

發明內容

本發明的主要目的在于提供一種工件的瑕疵檢測方法、裝置、設備及存儲介質，旨在解決當前工件瑕疵檢測的準確率較低的技術問題。

為實現上述目的，本發明實施例提供一種工件的瑕疵檢測方法，所述工件的瑕疵檢測方法包括：

獲取良品工件的工件圖像，計算所述工件圖像的像素點瑕疵量；

基于第一預設排除法和第二預設排除法確定所述工件圖像的像素閾值上下限；

根據所述像素閾值上下限對所述像素點瑕疵量進行異常點排除，確定所述工件圖像的瑕疵閾值上下限；

根據所述瑕疵閾值上下限生成瑕疵檢測公式，并根據所述瑕疵檢測公式對待檢測工件的待檢測圖像進行瑕疵檢測。

優選地，所述基于第一預設排除法和第二預設排除法確定所述工件圖像的像素閾值上下限的步驟包括：

基于第一預設排除法確定所述工件圖像的第一像素值上下限；

基于第二預設排除法確定所述工件圖像的第二像素值上下限；

基于所述第一像素值上下限與所述第二像素值上下限，確定所述工件圖像的像素閾值上下限。

優選地，所述基于第一預設排除法確定所述工件圖像的第一像素值上下限的步驟包括：

獲取所述工件圖像的像素點灰度值；

根據第一預設排除法的第一預設公式組與所述像素點灰度值，計算所述工件圖像的第一像素值上限與第一像素值下限；

由所述第一像素值上限與所述第一像素值下限形成所述工件圖像的第一像素值上下限。

優選地，所述基于第二預設排除法確定所述工件圖像的第二像素值上下限的步驟包括：

根據第二預設排除法的第二預設公式組與所述像素點灰度值，計算所述工件圖像的第二像素值上限與第二像素值下限；

由所述第二像素值上限與所述第二像素值下限形成所述工件圖像的第二像素值上下限。

優選地，所述基于所述第一像素值上下限與所述第二像素值上下限，確定所述工件圖像的像素閾值上下限的步驟包括：

根據所述工件圖像中第一像素值上下限的第一像素值上限與第二像素值上下限的第二像素值上限，確定所述工件圖像的像素閾值上限；

根據所述工件圖像中第一像素值上下限的第一像素值下限與第二像素值上下限的第二像素值下限，確定所述工件圖像的像素閾值下限；

由所述像素閾值上限與所述像素閾值下限形成所述工件圖像的像素閾值上下限。