本發(fā)明適用于柔性OLED模組技術領域，提供了一種柔性AMOLED模組彎折軌跡優(yōu)化方法及裝置，該方法包括：建立AMOLED模組；基于屏體彎折軌跡約束參數(shù)建立支撐體模型并與AMOLED模組綁定約束；調整屏體彎折軌跡約束參數(shù)并使調整后的支撐體模型帶動AMOLED模組進行彎折運動，計算各次彎折運動的應力曲線；將應力最大值最小的應力曲線對應的AMOLED模組的彎折軌跡作為最優(yōu)彎折軌跡。本發(fā)明提供的方法通過綁定約束可以提高AMOLED模組在彎折運動過程中的穩(wěn)定性，通過支撐體模型帶動AMOLED模組進行彎折運動可以量化的調整AMOLED模組的彎折軌跡，從而準確高效的實現(xiàn)AMOLED模組彎折軌跡的優(yōu)化。

技術領域

本發(fā)明屬于柔性OLED模組技術領域，尤其涉及一種柔性AMOLED模組彎折軌跡優(yōu)化方法及裝置。

背景技術

柔性顯示模組作為當前的研究熱點具有十分廣闊的發(fā)展前景，應用AMOLED(Active-matrix organic light-emitting diode，有源矩陣有機發(fā)光二極體)技術的柔性顯示模組目前的應用較為廣泛。為了保證柔性AMOLED模組在進行彎折運動時的可靠性，穩(wěn)定的實現(xiàn)多次重復的彎折運動，需要準確確定柔性AMOLED模組的最優(yōu)彎折軌跡。若柔性AMOLED模組的彎折軌跡存在缺陷，則會導致模組在彎折過程中的應力過于集中，出現(xiàn)模組中的膜層失效或褶皺等情況。

目前尋求最優(yōu)彎折軌跡的方法通常使用耦合約束的方式將柔性AMOLED模組與支撐體模型進行連接，但是采用耦合約束方法的AMOLED模組在進行彎折運動時容易出現(xiàn)晃動等不穩(wěn)定的情況，且彎折軌跡無法量化控制，難以準確高效的確定AMOLED模組的最優(yōu)彎折軌跡。

發(fā)明內容

有鑒于此，本發(fā)明實施例提供了一種柔性AMOLED模組彎折軌跡優(yōu)化方法及裝置，以解決現(xiàn)有技術中確定柔性AMOLED模組最優(yōu)彎折軌跡的準確性低的問題。

本發(fā)明實施例的第一方面提供了一種柔性AMOLED模組彎折軌跡優(yōu)化方法，包括：

建立AMOLED模組；

初始化屏體彎折軌跡約束參數(shù)，并基于初始化的屏體彎折軌跡約束參數(shù)建立支撐體模型；

對所述AMOLED模組和所述支撐體模型進行綁定約束；

在預設參數(shù)區(qū)間內多次調整所述支撐體模型對應的屏體彎折軌跡約束參數(shù)；

采用各次調整后的屏體彎折軌跡約束參數(shù)對應的支撐體模型帶動所述AMOLED模組進行彎折運動，并計算所述AMOLED模組在各組屏體彎折軌跡約束參數(shù)對應的彎折運動下的應力曲線；

獲取各個應力曲線的應力最大值，選取應力最大值最小的應力曲線作為最優(yōu)應力曲線，并將所述最優(yōu)應力曲線對應的AMOLED模組的彎折軌跡作為最優(yōu)彎折軌跡。

本發(fā)明實施例的第二方面提供了一種柔性AMOLED模組彎折軌跡優(yōu)化裝置，包括：

AMOLED模組建立模塊，用于建立AMOLED模組；

支撐體模型建立模塊，用于初始化屏體彎折軌跡約束參數(shù)，并基于初始化的屏體彎折軌跡約束參數(shù)建立支撐體模型；

綁定約束模塊，用于對所述AMOLED模組和所述支撐體模型進行綁定約束；

本發(fā)明實施例的第三方面提供了一種終端設備，包括存儲器、處理器以及存儲在所述存儲器中并可在所述處理器上運行的計算機程序，所述處理器執(zhí)行所述計算機程序時實現(xiàn)如上所述方法的步驟。

本發(fā)明實施例的第四方面提供了一種計算機可讀存儲介質，所述計算機可讀存儲介質存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如上所述方法的步驟。