[發明專利]檢測智能電子設備中的故障的方法有效
| 申請號： | 202080020100.4 | 申請日： | 2020-03-09 |
| 公開（公告）號： | CN113557533B | 公開（公告）日： | 2023-10-24 |
| 發明（設計）人： | 阿比拉什·戈帕拉克里希南;吉欽·吉扎基·普坦維蒂爾;曼尼根·皮;阿林賈·古普塔;馬丁·尼克維斯特 | 申請（專利權）人： | ABB瑞士股份有限公司 |
| 主分類號： | G06F11/07 | 分類號： | G06F11/07;G06F11/32;G06N7/01 |
| 代理公司： | 北京市金杜律師事務所 11256 | 代理人： | 李輝 |
| 地址： | 瑞士*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 檢測 智能 電子設備 中的 故障 方法 | ||
1.一種用于檢測和糾正智能電子設備(IED)(100)中的故障的方法，所述IED(100)包括：多個組件，來自所述多個組件的每個組件包括接口，其中所述接口提供與所述組件的至少一個元件的工作相關聯的信息，并且所述接口啟用和禁用所述組件的所述至少一個元件的操作；以及監督和診斷模塊(126)，所述監督和診斷模塊(126)包括故障樹模型和貝葉斯網絡，所述方法包括：
檢測所述IED的所述多個組件中的故障事件；
使用所述故障樹模型，獲得來自所述IED的所述多個組件的至少一個組件中的故障的原因的第一列表；
通過監測與所述第一列表中標識的所述至少一個組件中包括的元件的工作相關聯的信息，計算所述故障的原因的概率，以獲得故障的可能原因的第二列表；
基于所述第二列表，使用所述貝葉斯網絡來標識與所述至少一個組件中包括的所述至少一個元件相關聯的故障的至少一個根本原因；
發起以下功能中的至少一個功能：
a)基于通過所述至少一個組件的所述接口的啟用和禁用操作，來重新啟動所述至少一個組件中包括的、與所述故障的根本原因相關聯的至少一個元件；
b)啟用針對輸入數據的濾波操作，所述輸入數據被提供給所述至少一個組件中包括的、與所述故障的根本原因相關聯的所述至少一個元件；以及
c)在與所述IED相關聯的HMI中提供警報。
2.根據權利要求1所述的方法，其中檢測所述多個組件中的故障事件包括：將來自所述多個組件的至少一個元件的輸出與輸出的預定義值相比較。
3.根據權利要求1所述的方法，其中所述至少一個元件是閃存驅動器、模數轉換器、通用串行總線驅動器、干擾記錄器、通信、以及應用功能引擎，所述應用功能引擎運行包括保護功能、過流、預處理在內的多個應用功能。
4.根據權利要求1所述的方法，其中所述故障樹模型是基于通過事件日志和審計跟蹤進一步細化的常見原因故障分析。
5.根據權利要求1所述的方法，其中與所述故障的根本原因相關聯的所述至少一個元件的重新啟動導致故障事件的持續，向所述HMI提供警報，所述警報具有更換與故障的根本原因相關聯的所述元件的建議。
6.一種智能電子設備(IED)，具有監督和診斷模塊，用于檢測和糾正所述IED中包括的多個組件中的故障，所述監督和診斷模塊包括故障樹模型和貝葉斯網絡，來自所述多個組件的每個組件包括接口，其中所述接口提供與所述組件的至少一個元件的工作相關聯的信息，并且所述接口啟用和禁用所述組件的所述至少一個元件的操作；所述IED被配置為：
檢測所述IED的所述多個組件中的故障事件；
使用所述故障樹模型，獲得來自所述IED的所述多個組件的至少一個組件中的故障的原因的第一列表；
通過監測與所述第一列表中標識的所述至少一個組件中包括的元件的工作相關聯的信息，計算所述故障的原因的概率，以獲得故障的可能原因的第二列表；
基于所述第二列表，使用所述貝葉斯網絡來標識與所述至少一個組件中包括的所述至少一個元件相關聯的故障的至少一個根本原因；
發起以下功能中的至少一個功能：a)基于通過所述至少一個組件的所述接口的啟用和禁用操作，來重新啟動所述至少一個組件中包括的、與所述故障的根本原因相關聯的至少一個元件；b)啟用針對輸入數據的濾波操作，所述輸入數據被提供給所述至少一個組件中包括的、與所述故障的根本原因相關聯的所述至少一個元件；以及c)在與所述IED相關聯的HMI中提供警報。
7.根據權利要求1所述的IED，還包括硬件、操作系統和框架。
8.根據權利要求7所述的IED，其中所述框架包括配置管理器，所述配置管理器包括：
針對所述多個組件的所述元件的配置信息；
與所述組件的所述各種元件的連接有關的信息；以及
所述組件的所述配置和連接的上下文信息。
9.根據權利要求6所述的IED，其中所述IED利用物聯網連接被啟用。
10.根據權利要求6所述的IED，其中所述HMI可以是通過基于云的系統連接的遠程HMI。
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