[發明專利]化學物質供應單元、基板處理裝置和基板處理方法在審
| 申請號: | 202011609935.1 | 申請日: | 2020-12-30 |
| 公開(公告)號: | CN113130351A | 公開(公告)日: | 2021-07-16 |
| 發明(設計)人: | 尹泰錫;樸賢淑 | 申請(專利權)人: | 細美事有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67;B08B3/02 |
| 代理公司: | 北京市中倫律師事務所 11410 | 代理人: | 楊黎峰 |
| 地址: | 韓國忠*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 化學物質 供應 單元 處理 裝置 方法 | ||
1.一種用于處理基板的裝置,所述裝置包括:
殼體,具有處理空間,在所述處理空間中處理所述基板;
支撐單元,被配置成將所述基板支撐在所述處理空間中;
噴嘴,被配置成將化學物質分配到被放置在所述支撐單元上的所述基板上;
化學物質供應單元,被配置成向所述噴嘴供應所述化學物質;以及
控制器,被配置成控制所述化學物質供應單元,
其中所述化學物質供應單元包括:
罐,具有內部空間,所述化學物質被儲存在所述內部空間中;
傳感器,被配置成檢測被儲存在所述罐的所述內部空間中的所述化學物質的剩余量;
入口管線,所述化學物質通過所述入口管線從化學物質供應源被供應到所述罐的所述內部空間,并且入口閥被安裝在所述入口管線中;
出口管線,所述化學物質通過所述出口管線從所述罐的所述內部空間被供應到所述噴嘴,并且出口閥被安裝在所述出口管線中;以及
排放管線,所述罐的所述內部空間中的所述化學物質通過所述排放管線被排出,并且排放閥被安裝在所述排放管線中,以及
其中在所述化學物質保留在所述罐的所述內部空間中的狀態下,在由所述傳感器檢測到的所述剩余量達到第一預設量或更少時,所述控制器控制所述化學物質供應單元將新的化學物質從所述化學物質供應源供應到所述罐。
2.根據權利要求1所述的裝置,其中所述控制器:
確定保留在所述罐中的所述化學物質和被供應到所述罐中的所述新的化學物質相互混合的次數是否超過預設次數;以及
當保留在所述罐中的所述化學物質和被供應到所述罐中的所述新的化學物質相互混合的所述次數超過所述預設次數、并且由所述傳感器檢測的所述剩余量達到第二預設量或更少時,控制所述化學物質供應單元通過所述排放管線排出所述罐的所述內部空間中的保留化學物質。
3.根據權利要求2所述的裝置,其中所述第一預設量等于所述第二預設量。
4.根據權利要求3所述的裝置,其中所述第一預設量被設定為所述罐能夠儲存的化學物質量的5%至15%。
5.根據權利要求1所述的裝置,其中所述罐包括第一罐和第二罐,以及
其中所述化學物質供應單元還包括循環管線,所述循環管線被配置成:在所述第一罐和所述第二罐中的一個罐通過所述入口管線從所述化學物質供應源接收所述化學物質、通過所述出口管線將所述化學物質供應到所述噴嘴、或者通過所述排放管線排出所述化學物質時,循環被儲存在所述第一罐和所述第二罐中的另一個罐中的所述化學物質。
6.根據權利要求5所述的裝置,其中所述循環管線包括:
加熱器,被配置成加熱流經所述循環管線的所述化學物質;以及
減壓構件,被配置成將被儲存在所述第一罐或所述第二罐中的所述化學物質輸送到所述加熱器。
7.一種用于供應化學物質的化學物質供應單元,所述化學物質供應單元包括:
罐,具有內部空間,所述化學物質被儲存在所述內部空間中;
傳感器,被配置成檢測被儲存在所述罐的所述內部空間中的所述化學物質的剩余量;
入口管線,所述化學物質通過所述入口管線從化學物質被供應源供應到所述罐的所述內部空間中,并且入口閥被安裝在所述入口管線中;
出口管線,所述化學物質通過所述出口管線從所述罐的所述內部空間被供應到待處理的對象,并且出口閥被安裝在所述出口管線中;
排放管線,所述罐的所述內部空間中的所述化學物質通過所述排放管線被排出,并且排放閥被安裝在所述排放管線中;以及
控制器,被配置成控制所述化學物質供應單元,
其中在所述化學物質保留在所述罐的所述內部空間中的狀態下,在由所述傳感器檢測到的所述剩余量達到第一預設量或更少時,所述控制器控制所述化學物質供應單元將新的化學物質從所述化學物質供應源供應到所述罐。
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H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
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