本發明實施例提供一種獲取機構技術相似性的方法及裝置。其中，方法包括：獲取兩個目標機構的專利相似性、論文相似性、科研人員相似性、產品相似性和組織結構相似性中的一個或多個；根據兩個目標機構的專利相似性、論文相似性、科研人員相似性、產品相似性和組織結構相似性中一個或多個，獲取兩個目標機構的技術相似性。本發明實施例提供的獲取機構技術相似性的方法及裝置，通過兩個目標機構的專利相似性、論文相似性、科研人員相似性、產品相似性和組織結構相似性中的至少一個，獲取兩個目標機構的技術相似性，能通過客觀數據全面描述機構的相似性，能更全面、準確、客觀地獲取機構技術相似性，從而能提高相似機構查找的準確性和全面性。

技術領域

本發明實施例涉及數據分析技術領域，更具體地，涉及一種獲取機構技術相似性的方法及裝置。

背景技術

科研機構，包括研究型的公司、學校、研究所等，是科技創新的主體。基于科研合作等方面的需求，需要評價兩個機構的技術相似程度。

現有技術不能全面、準確、客觀對比機構技術相似性，因此，如何獲取機構技術相似性是本領域亟待解決的技術問題。

發明內容

本發明實施例提供一種獲取機構技術相似性的方法及裝置，用以解決或者至少部分地解決現有技術存在的不能全面、準確、客觀地獲取機構技術相似性的缺陷。

第一方面，本發明實施例提供一種獲取機構技術相似性的方法，包括：

獲取兩個目標機構的專利相似性、論文相似性、科研人員相似性、產品相似性和組織結構相似性中的一個或多個；

根據所述兩個目標機構的專利相似性、論文相似性、科研人員相似性、產品相似性和組織結構相似性中的一個或多個，獲取所述兩個目標機構的技術相似性；

其中，所述兩個目標機構包括第一目標機構和第二目標機構。

優選地，獲取所述兩個目標機構的專利相似性具體包括：

根據所述兩個目標機構的各專利所屬的分類，獲取所述兩個目標機構的技術相似性；

或者，根據所述兩個目標機構的各專利的內容，獲取所述兩個目標機構的技術相似性。

優選地，獲取所述兩個目標機構的論文相似性具體包括：

根據所述兩個目標機構的各論文所屬的分類，獲取所述兩個目標機構的技術相似性；

或者，根據所述兩個目標機構的各論文的內容，獲取所述兩個目標機構的技術相似性。

優選地，獲取所述兩個目標機構的科研人員相似性具體包括：

根據所述兩個目標機構的各科研人員的各科技文獻所屬的分類，取所述兩個目標機構的技術相似性；

或者，根據所述兩個目標機構的各科研人員的各科技文獻的內容，獲取所述兩個目標機構的技術相似性。

優選地，獲取所述兩個目標機構的產品相似性具體包括：

根據所述兩個目標機構的各產品的介紹文本的內容，獲取所述兩個目標機構的技術相似性。

優選地，獲取所述兩個目標機構的組織結構相似性具體包括：

根據所述兩個目標機構的各內設部門所屬的分類，獲取所述兩個目標機構的組織結構相似性。

優選地，所述根據所述兩個目標機構的專利相似性、論文相似性、科研人員相似性、產品相似性和組織結構相似性中至少兩個，獲取所述兩個目標機構的技術相似性具體包括：

根據所述兩個目標機構的專利相似性、論文相似性、科研人員相似性、產品相似性和組織結構相似性中至少兩個，以及預設的權重，獲取所述兩個目標機構的技術相似性。