本發明公開了一種提升芯片驗證效率的方法、裝置、存儲介質和終端，通過給仿真驗證設定循環特征值，系統根據循環特征值自動對芯片進行循環仿真驗證，相比于傳統每次都需要人工手動啟動仿真的方式，仿真效率得到極大提高；而且每次循環驗證完畢，只需要查看一個包含全部仿真次數的驗證信息的仿真日志，無需逐一查看每次仿真生成的仿真日志，使仿真驗證的效率進一步提升；可以通過系統自動從仿真日志中獲取仿真驗證結果，代替人工查看仿真日志，操作簡單方便，驗證效率高。

技術領域

本發明涉及芯片驗證技術領域，尤其涉及的是一種提升芯片驗證效率的方法、裝置、存儲介質和終端。

背景技術

傳統數字驗證方法通過構建不同驗證用例，隨機發送激勵給待測設計和驗證參考模型，通過比對結果判斷驗證的正確性，然而，有限的隨機次數難以覆蓋或較慢覆蓋驗證空間，使驗證效率降低，甚至忽視隱藏的設計問題，帶來不挽回的損失。而且因為發送激勵的隨機性，所以如果需要對某一激勵進行100次驗證，現有方法中只有通過驗證人員手動發送100次所述激勵進行驗證，每驗證一次會產生一個仿真日志，驗證人員需要手動逐一打開每個仿真日志查看仿真結果，操作繁瑣，驗證效率低。

因此，現有的技術還有待于改進和發展。

發明內容

本發明的目的在于提供一種提升芯片驗證效率的方法、裝置、存儲介質和終端，旨在解決現有數字驗證只能通過人工手動發送激勵的方式進行激勵循環驗證，對于每次驗證產生的仿真日志需要人工手動逐一打開查看，操作繁瑣，驗證效率降低的問題。

本發明的技術方案如下：一種提升芯片驗證效率的方法，其中，具體包括以下步驟：

S1：設定仿真驗證的循環特征值；

S2：根據循環特征值自動對芯片進行循環仿真驗證；

S4：判斷仿真驗證的次數是否達到循環特征值，是則跳轉至S5，否則跳轉至S2；

S5：結束仿真驗證并生成仿真日志，根據仿真日志得出仿真驗證結果。

所述的提升芯片驗證效率的方法，其中，所述仿真日志內包含全部仿真次數中每次仿真后生成的驗證信息，所述驗證信息包括驗證波形、日志、隨機種子。

所述的提升芯片驗證效率的方法，其中，所述S5中，具體包括以下步驟：

s51：結束仿真驗證并生成仿真日志；

s52：讀取仿真日志中的驗證信息；

s53：根據驗證信息查看仿真驗證的覆蓋率是否達到預設值；

s54：通過查找驗證信息中的關鍵字得出仿真驗證失敗的隨機種子；

s54：根據隨機種子得到對應的驗證激勵。

所述的提升芯片驗證效率的方法，其中，所述隨機種子與驗證激勵一一對應，根據隨機種子通過映射關系得到對應的驗證激勵。

所述的提升芯片驗證效率的方法，其中，所述s52中，通過程序腳本讀取仿真日志中的驗證信息。

所述的提升芯片驗證效率的方法，其中，所述S2和S4之間還包括以下步驟：

S3：判斷仿真驗證的覆蓋率是否達到預設值，是則跳轉至S5；否則跳轉至S4。

一種提升芯片驗證效率的裝置，其中，包括：

循環特征值設置模塊，設定仿真驗證的循環特征值；

仿真驗證模塊，根據循環特征值自動對芯片進行循環仿真驗證；

判斷模塊，判斷仿真驗證的次數是否達到循環特征值；