[發明專利]一種基于參考標定的測溫方法及裝置有效
| 申請號： | 202011410426.6 | 申請日： | 2020-12-04 |
| 公開（公告）號： | CN112665734B | 公開（公告）日： | 2023-08-04 |
| 發明（設計）人： | 顧宏;沈新華 | 申請（專利權）人： | 杭州新瀚光電科技有限公司 |
| 主分類號： | G01J5/52 | 分類號： | G01J5/52;G01J5/54;G01J5/48;G01J5/90 |
| 代理公司： | 杭州杭誠專利事務所有限公司 33109 | 代理人： | 尉偉敏 |
| 地址： | 311100 浙江省杭州市余杭區東湖街道紅豐路65*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 基于 參考 標定 測溫 方法 裝置 | ||
1.一種基于參考標定的測溫方法，其特征在于，包括以下步驟：
(1)將微面陣測溫儀的光學中心與面陣測溫儀的光學中心合一；
(2)獲取大面陣中每個與微面陣對應的區域灰度方差Sx；
(3)獲取其中最小方差區域Sm，以及該區域的平均灰度Gm；
(4)獲取微面陣位置m點的溫度Tm；
(5)通過Gm和Tm計算面陣中每個像元灰度與溫度的轉換參數Fij；
(6)將每個像元的當前灰度換算成溫度值。
2.根據權利要求1所述的一種基于參考標定的測溫方法，其特征在于，所述步驟1中微面陣面積設為A*B，大面陣面積設為H*Y，分別選用光學鏡頭使兩者的視場角一致，使微面陣的每一個像元覆蓋大面陣中對應的一個區域。
3.根據權利要求1所述的一種基于參考標定的測溫方法，其特征在于，所述步驟2中區域灰度方差Sx具體為：
其中，Ti為大面陣中對應x區域內第i個像素的灰度，
為大面陣中對應x區域內所有像素的平均灰度。
4.根據權利要求1所述的一種基于參考標定的測溫方法，其特征在于，所述步驟5每個像元灰度與溫度的轉換參數Fij具體為：
Fij＝Tm/Gm
其中，Tm為微面陣位置m區域處的溫度，Gm為最小方差區域Sm處的平均灰度。
5.根據權利要求4所述的一種基于參考標定的測溫方法，其特征在于，所述步驟6將每個像元的當前灰度Gij換算成溫度值具體為：
Tij＝Fij*Gij
其中，Fij像元灰度與溫度的轉換參數，Gij為當前區域的平均灰度。
6.根據權利要求1所述的一種基于參考標定的測溫方法，其特征在于，測溫裝置包括大面陣攝像機和微面陣攝像機，所述大面陣攝像機和微面陣攝像機平行設置在外殼內，所述大面陣攝像機鏡頭和微面陣攝像機鏡頭朝向的外殼面上設有開口。
7.根據權利要求6所述的一種基于參考標定的測溫方法，其特征在于，所述大面陣攝像機鏡頭到開口的距離小于微面陣攝像機到開口的距離。
8.根據權利要求6所述的一種基于參考標定的測溫方法，其特征在于，所述外殼內設有控制模塊、通信模塊和USB接口，所述控制模塊分別與大面陣攝像機、微面陣攝像機相連、通信模塊和USB接口相連。
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