[發明專利]銅互連工藝中MIM電容的制作方法在審
| 申請號: | 202011189148.6 | 申請日: | 2020-10-30 |
| 公開(公告)號: | CN112259524A | 公開(公告)日: | 2021-01-22 |
| 發明(設計)人: | 盧光遠;陳瑜;陳華倫 | 申請(專利權)人: | 華虹半導體(無錫)有限公司 |
| 主分類號: | H01L23/522 | 分類號: | H01L23/522;H01L49/02 |
| 代理公司: | 上海浦一知識產權代理有限公司 31211 | 代理人: | 羅雅文 |
| 地址: | 214028 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 互連 工藝 mim 電容 制作方法 | ||
1.一種銅互連工藝中MIM電容的制作方法,其特征在于,所述方法包括:
提供一襯底,所述襯底上制作有第x銅金屬連線層;x為大于等于1的整數;
在所述第x銅金屬連線層的表面形成絕緣介質層;
通過光刻工藝在所述絕緣介質層的表面同時定義對位標記圖案和MIM下極板圖案,所述MIM下極板圖案的下方存在銅金屬線,所述對位標記圖案的下方不存在銅金屬線;
根據所述對位標記圖案和MIM下極板圖案進行刻蝕,所述絕緣介質層中形成MIM下極板圖案,所述襯底中形成對位標記;
形成MIM下極板金屬層;
對所述襯底進行CMP處理,在所述絕緣介質層中形成MIM下極板,且所述對位標記區域保留有臺階;
依次形成所述MIM電容的介電層、MIM上極板金屬層;
根據所述對位標記進行對位,并通過光刻工藝定義MIM上極板圖案;
根據所述MIM上極板圖案刻蝕所述MIM上極板金屬層、所述MIM電容的介電層,形成MIM電容。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述在所述第x銅金屬連線層的表面形成絕緣介質層,包括:
在所述第x銅金屬連線層的表面形成NDC層;
在所述NDC層的表面形成氧化硅層。
3.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述通過光刻工藝在所述絕緣介質層的表面同時定義對位標記圖案和MIM下極板圖案,包括:
在所述絕緣介質層表面涂布光刻膠;
通過光刻工藝在光刻膠層中同時形成對位標記圖案和MIM下極板圖案,光刻工藝所用的掩膜版中同時存在對位標記圖案和MIM下極板圖案。
4.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述形成MIM下極板金屬層,包括:
依次沉積鈦、氮化鈦、鎢,形成MIM下極板金屬層。
5.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述形成MIM下極板金屬層,包括:
沉積氮化鉭,形成MIM下極板金屬層。
6.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述MIM電容的介電層的材料為氮化硅。
7.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述MIM上極板金屬層的材料為氮化鈦或氮化鉭。
8.根據權利要求1至7任一所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
沉積金屬層間介質材料,并進行CMP處理,形成第x+1金屬層間介質層;
通過大馬士革工藝制作銅金屬連線和銅通孔,形成第x+1銅金屬連線層。
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