[發明專利]一種基于誤差相似性的測量誤差補償方法有效
| 申請號: | 202010577749.8 | 申請日: | 2020-06-23 |
| 公開(公告)號: | CN111693084B | 公開(公告)日: | 2021-07-20 |
| 發明(設計)人: | 黃翔;李瀧杲;曾琪;李根;樓佩煌;錢曉明;陶克梅 | 申請(專利權)人: | 南京航空航天大學 |
| 主分類號: | G01D18/00 | 分類號: | G01D18/00;G06F30/20 |
| 代理公司: | 南京天華專利代理有限責任公司 32218 | 代理人: | 瞿網蘭 |
| 地址: | 210016 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 誤差 相似性 測量誤差 補償 方法 | ||
1.一種基于誤差相似性的測量誤差補償方法,其特征在于首先,重復測量擬合得到采樣點的理論值;其次,利用半變異函數擬合求解測量誤差的空間相似性模型;最后,通過克里金法構建測量誤差的空間插值模型,預估并補償目標點的測量誤差;具體步驟為:
1)重復測量采樣點,通過橢球擬合算法計算其中心坐標;
2)基于采樣點的理論值與測量誤差,利用半變異函數擬合求解測量誤差的空間相似性模型;
對于任一目標點pi,pi=[lsinαcosβ,lsinαsinβ,lcosα]T,測量誤差表示為:
其中,X=[l,α,β]T是測量參數向量,l、α和β分別表示測量距離、俯仰角和水平角;是隨機誤差,是環境引起的測量誤差;
小區域S內的所有目標點的測量參數向量相似,即X1~X2,同一時刻指向目標點的測量光線所穿透的環境無變化,此范圍內目標點的測量誤差也相似;因此,構造采樣點測量誤差的半方差為:
h=||pi-pj|| (3)
其中,N(h)是由距離h決定的采樣點對數,是采樣點測量誤差的差值;
取h為不同數值,計算其所決定的采樣點對的半方差Υk(h);通過常見的線性、球狀、指數或高斯模型,最佳擬合采樣點測量誤差的半方差與距離的關系并繪制曲線;
其中,C0、C和a分別表示塊金、拱高和變程;
3)基于采樣點的理論值與測量誤差,以及測量誤差的空間相似性模型,利用克里金法構建測量誤差的空間插值模型;
基于第2)步擬合求解的測量誤差相似性模型,將空間任一目標點p的測量誤差估計為采樣點測量誤差的線性加權,即:
令和測量誤差的估算值與真值的差值為:
dk=ωkTΔPk-Δpk (9)
為保證Fk(p)為測量誤差的無偏最優估計,dk必須滿足:
因此,
構造測量誤差估計的拉格朗日最小二乘方程:
將式(12)對ωk求導,并結合測量誤差的協方差與半方差的關系,得到:
L′(ωk,λ)=Rkωk-rk+λkI (13)
其中,Rijk=Υk(||pi-pj||)、rik=Υk(||p-pi||)和I=[1 1 … 1]T,λk是拉格朗日乘子;
結合式(11),ωk可以通過式(14)解得;
4)預估計算目標點的測量誤差并修正 補償;
基于第3)步計算得到目標點的預估誤差F(p),則其測量值可以修正為:
2.如權利要求1所述的測量誤差補償方法,其特征在于:所述誤差補償方法程序化實現并集成于測量控制軟件后,可自動計算目標點的測量誤差并加以補償。
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