本發明公開了一種APD電壓的調節方法、設備及存儲介質，所述APD電壓的調節方法包括：獲取補償函數，基于所述補償函數與初始函數，生成目標函數；基于所述目標函數，計算得到目標調試電壓；根據所述目標調試電壓對初始APD電壓進行調整，得到目標APD電壓。本發明通過由補償函數與初始函數生成的目標函數，計算出表征最佳調試電壓的目標調試電壓，并根據目標調試電壓將初始APD電壓調整為目標APD電壓，由于計算得到的目標調試電壓不隨電壓調節模塊工作電壓變化而變化，使得由目標調試電壓調整的目標APD電壓，不再因電壓調節模塊的工作電壓變化而偏移于最佳工作電壓，進而使得電壓倍增因子處于最適值，有利于提高APD的靈敏度。

技術領域

本發明涉及光通信技術領域，尤其涉及一種APD(Avalanche Photo Diode，雪崩二極管)電壓的調節方法、設備及存儲介質。

背景技術

為了滿足目前環境下光模塊所需的高傳輸距離、高準確度要求，在設計光模塊接收端時，常常使用APD作為光探測器。APD內部因電子雪崩，具有對微弱的光電流產生放大的作用。因此在電放大之前，如果能恰當的利用APD的倍增作用，可以得到很高的靈敏度。

在使用APD時，非常重要的一點是設置合適的APD電壓，通常在反向擊穿電壓VBR-3V范圍內，當小于這個工作電壓時，電壓倍增因子變小，靈敏度變低；當大于此工作電壓，電壓倍增因子變大，靈敏度也會下降；只有當APD電壓處于最佳工作電壓時，電壓倍增因子處于最適值，靈敏度最大。

傳統的APD電壓設置方法容易在工作電壓偏移時受到影響，原因是APD在溫度恒定條件下，合適的工作電壓是恒定的，當電壓調節模塊的工作電壓發生變化時，調試電壓也會隨之發生變化，使得APD的工作電壓偏移于最佳工作電壓，導致電壓倍增因子處于非最適值，進而使得APD的靈敏度較低。

發明內容

本發明的主要目的在于提供一種APD電壓的調節方法、設備及存儲介質，旨在解決現有技術當電壓調節模塊的工作電壓發生變化時，調試電壓也會隨之發生變化，使得APD電壓偏移于最佳工作電壓，導致電壓倍增因子處于非最適值，進而使得APD的靈敏度較低的技術問題。

為實現上述目的，本發明實施例提供一種APD電壓的調節方法，所述APD電壓的調節方法包括：

獲取補償函數，基于所述補償函數與初始函數，生成目標函數；

基于所述目標函數，計算得到目標調試電壓；

根據所述目標調試電壓對初始APD電壓進行調整，得到目標APD電壓。

優選地，所述基于所述目標函數，計算得到目標調試電壓的步驟包括：

獲取APD的工作溫度，并獲取所述工作溫度所在工作溫度組對應的相對斜率與相對偏移量，結合斜率函數進行計算，得到補償斜率；

獲取實際電壓，根據所述實際電壓與所述補償斜率，結合所述補償函數進行計算，得到補償值；

獲取調試電壓，根據所述調試電壓與所述補償值，結合所述目標函數進行計算，得到目標調試電壓。

優選地，所述獲取APD的工作溫度，并獲取所述工作溫度所在工作溫度組對應的相對斜率與相對偏移量的步驟之前包括：

獲取APD的多個工作溫度組，針對多個所述工作溫度組，分別執行以下步驟：

獲取所述工作溫度組對應的第一調試電壓與第二調試電壓，分別將所述第一調試電壓、所述第二調試電壓，與所述目標函數進行計算，得到第一補償值與第二補償值；

基于所述第一補償值與所述第二補償值，計算得到相對斜率與相對偏移量。

優選地，所述基于所述第一補償值與所述第二補償值，計算得到相對斜率與相對偏移量的步驟之后包括：