[發明專利]微通道板制備用的壓屏模具的變形程度測量裝置與方法有效
| 申請號： | 202010425341.9 | 申請日： | 2020-05-19 |
| 公開（公告）號： | CN111504167B | 公開（公告）日： | 2021-06-29 |
| 發明（設計）人： | 叢曉慶;劉建強;張正君;劉文偉;李婧雯;喬芳建;張珈瑋;錢琳;徐偉;郭燕 | 申請（專利權）人： | 北方夜視技術股份有限公司 |
| 主分類號： | G01B5/30 | 分類號： | G01B5/30 |
| 代理公司： | 南京行高知識產權代理有限公司 32404 | 代理人： | 王培松;王菊花 |
| 地址： | 650217 云南*** | 國省代碼： | 云南;53 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 通道 制備 模具 變形 程度 測量 裝置 方法 | ||
1.一種微通道板制備用的壓屏模具的變形程度測量裝置，其特征在于，包括：
底座，被設置成放置在水平平臺上；
多個滑塊，可滑動地設置在所述底座上，其中多個滑塊環抱分布并在中心形成一正六邊形空間，用于放置微通道板屏段或者標準塊，其中每個滑塊朝向中心的方向為垂直平面，背離中心的方向為斜面；
壓圈，套在所述多個滑塊的斜面上，并且具有使得多個滑塊具有朝向中心聚攏收緊的趨勢；
其中，所述多個滑塊的結構相同；所述壓圈構造為外側垂直、內側傾斜的環形框架，套到滑塊上之后其底面抵靠到底座的表面；
所述變形程度測量裝置還包括多個不同尺寸的塞尺，在檢測時在所述中心以標準塊替換屏段，通過壓圈對滑塊進行壓緊后，以多個塞尺其中任意之一塞入標準塊-滑塊、滑塊-滑塊、滑塊-壓圈三類接觸界面，根據能塞進的塞尺的最大尺寸測量出縫隙的大小，從而得到壓屏模具的變形程度。
2.根據權利要求1所述的微通道板制備用的壓屏模具的變形程度測量裝置，其特征在于，所述底座、滑塊和壓圈均為鋼制件。
3.根據權利要求1所述的微通道板制備用的壓屏模具的變形程度測量裝置，其特征在于，所述多個塞尺的厚度尺寸在0-1mm之間。
4.根據權利要求1所述的微通道板制備用的壓屏模具的變形程度測量裝置，其特征在于，所述標準塊的尺寸大小與微通道板屏段的直徑相匹配，其形狀為正六邊形。
5.根據權利要求1所述的微通道板制備用的壓屏模具的變形程度測量裝置，其特征在于，所述底座上設置有用于指示底座水平狀態的水準泡。
6.一種根據權利要求1所述的微通道板制備用的壓屏模具的變形程度測量裝置進行壓屏模具的變形程度測量方法，其特征在于，包括：
步驟1、將底座放置在處于水平狀態的平臺上，使得底座整體處于水平狀態，將壓圈套在滑塊，然后放置在底座上；
步驟2、將定制好的標準塊代替微通道板屏段放置在滑塊中間，使用壓圈壓在滑塊上，依靠壓圈的重力作用擠壓滑塊，進而擠壓標準塊，使滑塊與標準塊保持緊密貼合的趨勢；
步驟3、使用不同厚度的塞尺按照順序依次塞進標準塊-滑塊、滑塊-滑塊、滑塊-壓圈三類接觸界面，根據能塞進的塞尺最大尺寸測量出三處縫隙的大小，從而得到壓屏模具的變形程度；
步驟4、使用水平尺測量底座的變形程度，即將水平尺緊密貼合在底座放置面處，然后使用塞尺測量出水平尺和底座放置面的縫隙大小。
7.根據權利要求6所述的壓屏模具的變形程度測量方法，其特征在于，在使用不同的塞尺測量標準塊-滑塊、滑塊-滑塊、滑塊-壓圈三處縫隙時，測量順序不變。
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