本發明公開了一種檢測輔助裝置以及檢測裝置，其中檢測輔助裝置包括：待測試元件；安裝板；測試探針，嵌入式安裝于所述安裝板上；轉接組件，安裝于所述安裝板底部，且一端與所述測試探針連接另一端與所述待測試元件的引腳連接。本發明通過轉接組件能夠將測試探針上的驅動力減弱，進而減少測試探針對待測試元件上引腳的磨損，從而保證測試探針和待測試元件電性導通，且保證了待測試元件的使用壽命。

技術領域

本發明涉及檢測技術領域，尤其是涉及一種檢測輔助裝置以及檢測裝置。

背景技術

目前，芯片或PCBA板制備成功后，需要對芯片或PCBA板的性能進行檢測，因此，芯片和PCBA板作為待測試元件需要進行檢測。隨著待測試元件微型化的發展，大部分的待測試元件采用自動檢測裝置進行檢測。自動檢測裝置需要連接微型的待測試元件引腳后，根據預先存儲的測試程序進行檢測。

但是，目前自動檢測裝置上的測試探針在驅動力作用下直接連接芯片或待測試元件的引腳，由于測試探針與待測試元件上的引腳存在一定的間隙，因此上述情形下待測試元件上的引腳會產生輕微的滑動，多次測試后引腳會被磨損，一方面導致測試探針和芯片、PCBA板不導通，影響測試結果的準確性下降，另一方面降低了芯片或PCBA板的使用壽命。

發明內容

本發明旨在至少解決現有技術中存在的技術問題之一。為此，本發明提出一種輔助檢測裝置，能夠減少測試探針對芯片或PCBA板的磨損，保證測試結果的準確性，且保障芯片或PCBA板的使用壽命。

本發明還提出一種檢測裝置。

第一方面，本發明的一個實施例提供了檢測輔助裝置，包括：

待測試元件；

安裝板；

測試探針，嵌入式安裝于所述安裝板上；

轉接組件，設置于所述安裝板底部，且一端與所述測試探針連接，另一端與所述待測試元件的引腳連接。

本發明實施例的檢測輔助裝置至少具有如下有益效果：測試探針通過轉接組件連接待測試元件的引腳，因此，轉接組件能夠將測試探針受到的作用力力減弱部分，因此轉接組件連接待測試元件時的作用力減少，從而減少對待測試元件上引腳的磨損，從而保證了待測試元件和測試探針穩定地電性導通，且保證了待測試元件的使用壽命。

根據本發明的另一些實施例的檢測輔助裝置，所述轉接組件包括：

轉接板，設置于所述安裝板和所述待測試元件之間；

轉接針，安裝于所述轉接板內，且一端連接所述測試探針，另一端連接所述待測試元件的引腳。

根據本發明的另一些實施例的檢測輔助裝置，所述轉接板包括：

轉接模具，設置于所述安裝板底部，且所述轉接針安裝于所述轉接模具內；

轉接PCB板，安裝于所述轉接模具和所述待測試元件之間。

根據本發明的另一些實施例的檢測輔助裝置，所述安裝板上開設有連接槽，且所述安裝板上開設有若干連通所述連接槽的第一連接孔，所述轉接模具上開設有與所述第一連接孔對應的第二連接孔，所述轉接針位于所述第二連接孔內且部分伸出所述第二連接孔，所述測試探針穿過所述第一連接孔與所述第二連接孔內的轉接針連接。

根據本發明的另一些實施例的檢測輔助裝置，所述轉接PCB板上開設有第三連接孔，所述轉接針包括：第一轉接部和第二轉接部，所述第二轉接部伸出所述第三連接孔，并與所述待測試元件的引腳連接。

根據本發明的另一些實施例的檢測輔助裝置，所述第一轉接部的橫截面積大于所述第三連接孔的橫截面積。