本發(fā)明涉及測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，公開一種科隆模塊端口測(cè)試頭。其中科隆模塊端口測(cè)試頭包括絕緣外殼和均凸設(shè)于絕緣外殼的測(cè)試端頭和測(cè)試端口，測(cè)試端頭能卡接于科隆模塊的端口，包括兩片測(cè)試金屬片和設(shè)置于兩片測(cè)試金屬片之間的絕緣測(cè)試體，測(cè)試金屬片與科隆模塊的端口電連接；測(cè)試端口設(shè)置有兩個(gè)，測(cè)試端口與測(cè)試金屬片一一對(duì)應(yīng)電連接。本發(fā)明的測(cè)試端頭能卡接于科隆模塊的端口，且測(cè)試端頭的測(cè)試金屬片與科隆模塊的端口電連接，測(cè)試端口與金屬測(cè)試片電連接；測(cè)試時(shí)只需將測(cè)試端頭卡接于科隆模塊的端口內(nèi)，并將萬用表的測(cè)試筆與測(cè)試端口連接即可，不會(huì)出現(xiàn)測(cè)試筆短接或損壞端口的問題，同時(shí)還具有操作簡(jiǎn)單、安全的特點(diǎn)。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種科隆模塊端口測(cè)試頭。

背景技術(shù)

隨著通信站點(diǎn)增加，語音和遠(yuǎn)動(dòng)信號(hào)的業(yè)務(wù)量成倍增長，日常工作時(shí)常要對(duì)科隆模塊的端口電壓和頻率進(jìn)行測(cè)試，來判斷端口傳輸信號(hào)質(zhì)量的好壞。目前，對(duì)科隆模塊的端口的測(cè)試，需要先對(duì)跳線進(jìn)行破皮，然后纏繞在萬用測(cè)試筆頭上，再用打線刀將跳線卡入端口，最后根據(jù)測(cè)試需要將萬用表調(diào)整到合適檔位進(jìn)行測(cè)試判斷，整個(gè)測(cè)試步驟非常繁瑣，同時(shí)存在損傷端口以及跳線浪費(fèi)的問題；如果直接將萬用測(cè)試筆插入端口金屬片上，則很容易造成測(cè)試筆短接甚至損壞端口。

發(fā)明內(nèi)容

基于以上所述，本發(fā)明的目的在于提供一種科隆模塊端口測(cè)試頭，能夠安全快捷測(cè)試端口數(shù)據(jù)又便于攜帶。

為達(dá)上述目的，本發(fā)明采用以下技術(shù)方案：

一種科隆模塊端口測(cè)試頭，包括：

絕緣外殼；

測(cè)試端頭，凸設(shè)于所述絕緣外殼，被配置為能卡接于科隆模塊的端口，所述測(cè)試端頭包括兩片測(cè)試金屬片和設(shè)置于兩片所述測(cè)試金屬片之間的絕緣測(cè)試體，所述測(cè)試金屬片與所述科隆模塊的端口電連接；

測(cè)試端口，凸設(shè)于所述絕緣外殼，設(shè)置有兩個(gè)，所述測(cè)試端口與所述測(cè)試金屬片一一對(duì)應(yīng)電連接。

作為一種科隆模塊端口測(cè)試頭的優(yōu)選方案，所述絕緣測(cè)試體上設(shè)置有安裝槽，所述測(cè)試金屬片設(shè)置于所述安裝槽內(nèi)。

作為一種科隆模塊端口測(cè)試頭的優(yōu)選方案，所述絕緣測(cè)試體包括相互連接的導(dǎo)向部和卡接部，所述卡接部和所述絕緣外殼連接，所述導(dǎo)向部和所述卡接部均設(shè)置有所述安裝槽。

作為一種科隆模塊端口測(cè)試頭的優(yōu)選方案，所述測(cè)試金屬片與所述卡接部連接的位置設(shè)置有倒角。

作為一種科隆模塊端口測(cè)試頭的優(yōu)選方案，所述測(cè)試端口包括端口金屬管和設(shè)置于所述端口金屬管外側(cè)的端口絕緣套，所述端口金屬管與所述測(cè)試金屬片電連接。

作為一種科隆模塊端口測(cè)試頭的優(yōu)選方案，所述端口金屬管變內(nèi)徑設(shè)置，且靠近所述測(cè)試金屬片一端的內(nèi)徑最小。

作為一種科隆模塊端口測(cè)試頭的優(yōu)選方案，所述絕緣外殼、所述絕緣測(cè)試體和所述端口絕緣套一體成型。

作為一種科隆模塊端口測(cè)試頭的優(yōu)選方案，兩個(gè)所述測(cè)試端口均設(shè)置于所述絕緣外殼遠(yuǎn)離所述測(cè)試端頭的一側(cè)。

作為一種科隆模塊端口測(cè)試頭的優(yōu)選方案，兩個(gè)所述測(cè)試端口的中心軸線平行間隔設(shè)置。

作為一種科隆模塊端口測(cè)試頭的優(yōu)選方案，兩個(gè)所述測(cè)試端口呈夾角設(shè)置。