[發(fā)明專(zhuān)利]一種晶圓級(jí)封裝瞬態(tài)電壓抑制二極管的制造方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010165852.1 | 申請(qǐng)日: | 2020-03-11 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN111276393B | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-10-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張志向;張玲玲 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 天水天光半導(dǎo)體有限責(zé)任公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L21/223 | 分類(lèi)號(hào): | H01L21/223;H01L21/285;H01L21/48;H01L21/329 |
| 代理公司: | 蘭州錦知源專(zhuān)利代理事務(wù)所(普通合伙) 62204 | 代理人: | 勾昌羽 |
| 地址: | 741000 甘*** | 國(guó)省代碼: | 甘肅;62 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 晶圓級(jí) 封裝 瞬態(tài) 電壓 抑制 二極管 制造 方法 | ||
1.一種晶圓級(jí)封裝瞬態(tài)電壓抑制二極管的制造方法,其特征在于,包括以下步驟:
a、選用外延厚度7±0.25um ,電阻率0.0015-0.0156Ω?cm的N型外延片,對(duì)襯底外延片硅片一次清洗;
b、對(duì)襯底硅片進(jìn)行初始氧化工藝:將硅片放入石英舟,然后進(jìn)舟到石英爐管,舟速20±1cm/s,進(jìn)舟結(jié)束蓋好磨口,在750±3℃通入氮?dú)猓糠昼?±1升,30±1分鐘,溫度從750℃升至950℃,溫度保持在950±3℃,停止氮?dú)猓耐ㄑ鯕猓鯕馔ㄈ?0±1分鐘后,改為氧氣、氫氣進(jìn)行氫氧合成,氫氧合成時(shí)間為240±1分鐘,其中氧氣通入速度為每分鐘3.5±1升,氫氣通入速度為每分鐘6.5±1升,氫氧合成結(jié)束后再通入氧氣20±1分鐘,氧氣通入速度為每分鐘3.5±1升,然后通入三氯乙烷10±1分鐘,三氯乙烷每分鐘為80±1毫升,再通干氧120±1分鐘,溫度由950℃降到750℃,取下磨口,出舟,舟速20±1cm/s,在石英舟上取片;
c、對(duì)完成步驟b的具有氧化層的襯底硅片進(jìn)行一次光刻,其步驟為:
①涂膠:光刻膠粘度為100±1SC,涂膠厚度為28500±2000?;
②前烘:將涂膠后的襯底硅片在85±5℃的烘箱中烘干30±1分鐘;
③對(duì)位:在襯底硅片上設(shè)置掩膜版,將設(shè)置好的掩膜版的襯底硅片在光刻機(jī)的汞燈下曝光22±1秒,使掩膜版圖形成像到襯底硅片表面;
④顯影、定影:先用二甲苯顯影10±1秒,然后用乙酸丁脂來(lái)定影8±1秒;
⑤堅(jiān)膜:將定影后的襯底硅片在140-155℃烘箱中烘干30±1分鐘;
⑥氧化層腐蝕:將堅(jiān)膜的襯底硅片用H2O:NH4F為6:1的腐蝕液腐蝕10±1分鐘;
⑦去膠:將氧化層腐蝕后的襯底硅片用H2SO4:H2O2為3:1浸泡液浸泡 10±1分鐘去除光刻膠;
d、對(duì)完成步驟C的一次光刻的襯底片進(jìn)行磷予擴(kuò)散:將硅片放入石英舟,進(jìn)舟到石英爐管,舟速20±1cm/s,進(jìn)舟結(jié)束,蓋好磨口,在750±3℃通入氮?dú)猓糠昼?±1升,30±1分鐘,溫度從750℃升至970℃,溫度保持在970±3℃,停氮?dú)猓耐ㄑ鯕猓鯕馔ㄈ?±1分鐘后,改為氧氣、磷進(jìn)行磷予擴(kuò)散,磷予擴(kuò)散時(shí)間為30±1分鐘,其中,氧氣通入速度為每分鐘3.5±1升,磷通入速度為每分鐘6.5±1升,氫氧合成20±1分鐘,氧氣通入速度為每分鐘3.5±1升,然后通入三氯乙烷10±1分鐘,其中三氯乙烷每分鐘為80±1毫升,再通氧10±1分鐘,溫度由970℃降到750℃,取下磨口,出舟,舟速20±1cm/s,在石英舟上取片;
e、對(duì)完成步驟d的具有氧化層的襯底硅片進(jìn)行二次光刻,其步驟同步驟c:
f、對(duì)完成步驟e的襯底硅片依次進(jìn)行有源區(qū)B注入,注入劑量1.5E16,注入能量50kev;
g、對(duì)完成步驟f的襯底硅片進(jìn)行退火前清洗:襯底硅片采用清洗液H2SO4:H2O2:H2O=1:1:5,在135±5℃清洗10分鐘,用清水沖水10±1分鐘,甩干;
h、對(duì)完成步驟g的襯底硅片進(jìn)行退火,其步驟為:將清洗干凈的襯底硅片放入石英舟,舟速20±1cm/s進(jìn)舟至石英爐管內(nèi)并蓋好磨口,在750±3℃向石英爐管內(nèi)通入氮?dú)?0±1分鐘,氮?dú)馔ㄈ肓?±1L/min,石英爐管溫度由750℃提升至1040℃,保持1040±3℃的石英爐管溫度20±1min,通干氧10分鐘,將石英爐管溫度降至750℃,取下磨口,舟速20±1cm/s出舟取片;
i、對(duì)完成步驟h的襯底硅片進(jìn)行三次光刻,其步驟同步驟c:
j、對(duì)完成步驟i的襯底硅片進(jìn)行正面金屬化:
k、對(duì)完成步驟j的襯底硅片進(jìn)行四次光刻,除光刻膠粘度為150±1SC外,其余同其步驟c;
m、對(duì)襯底硅片進(jìn)行正面金屬腐蝕、正面金屬去膠和正面金屬合金;
n、對(duì)完成正面金屬合金的襯底硅片進(jìn)行電性測(cè)試、鈍化、光刻、鈍化腐蝕、背面減薄、背面去應(yīng)力腐蝕;
O、對(duì)完成背面去應(yīng)力腐蝕的襯底硅片進(jìn)行背面減薄厚度150-300±5um、背面去應(yīng)力腐蝕;
p、對(duì)襯底硅片進(jìn)行背標(biāo)光刻、腐蝕:襯底硅片采用HNO3:HF:CH3COOH:H2O =5:1:3:20的化學(xué)腐蝕液在12-18℃腐蝕10±1min,清洗干凈,甩干;
Q、對(duì)襯底硅片進(jìn)行正面焊盤(pán)金屬化學(xué)鍍Ni、Au。
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H01L21-64 .非專(zhuān)門(mén)適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專(zhuān)門(mén)適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專(zhuān)門(mén)適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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