[發明專利]一種故障診斷方法、裝置、設備、介質有效
| 申請號: | 202010125156.8 | 申請日: | 2020-02-27 |
| 公開(公告)號: | CN111275135B | 公開(公告)日: | 2023-09-12 |
| 發明(設計)人: | 張莉;干敏;周偉達;王邦軍;屈蘊茜;孫涌 | 申請(專利權)人: | 蘇州大學 |
| 主分類號: | G06F18/24 | 分類號: | G06F18/24;G06F18/214 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 劉曉菲 |
| 地址: | 215131 *** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 故障診斷 方法 裝置 設備 介質 | ||
1.一種故障診斷方法,其特征在于,包括:
獲取待測樣本;
對所述待測樣本進行預處理,得到目標待測樣本;
利用k近鄰分類算法和預先得到的目標參考集對所述目標待測樣本進行分類,以便確定所述目標待測樣本是否是故障數據;
所述獲取待測樣本之前,還包括:
獲取帶有標簽的目標訓練數據集,其中,所述標簽表示所述目標訓練數據集中的各個樣本數據為正常數據或故障數據;
利用所述目標訓練數據集確定所述目標參考集;
所述利用目標訓練數據集確定所述目標參考集,包括:
利用基于迭代局部Fisher得分算法和所述目標訓練數據集,確定目標特征子集;
根據所述目標特征子集,生成所述目標參考集;
所述利用基于迭代局部Fisher得分算法和所述目標訓練數據集,確定目標特征子集,包括:
A11:對所述目標特征子集進行初始化;
A12:利用所述目標訓練數據集和第一預設公式構造局部類內散度矩陣和局部類間散度矩陣,其中,所述第一預設公式為:
其中,Sij表示局部類內散度矩陣,Dij表示局部類間散度矩陣,xi=[xi1,xi2,...,xid]T表示所述目標訓練數據集中的第i個樣本數據,yi表示所述目標訓練數據集中的第i個樣本數據的標簽,當所述第i個樣本數據為正常數據時,yi=1,當所述第i個樣本數據為故障數據時,yi=-1,d表示所述目標訓練數據集中包括的特征個數,KNN(xi)表示所述目標訓練數據集中的第i個樣本數據的k近鄰集合;
A13:判斷所述目標特征子集中的特征數量是否小于預設特征數量閾值;
A14:如果所述目標特征子集中的特征數量小于預設特征數量閾值,則利用第二預設公式構建過渡特征子集,其中,所述第二預設公式為:
Af=G∪{f},
其中,Af過渡特征子集,G表示所述目標特征子集,表示所述目標特征子集的補集,f從中逐一取值;
A15:利用所述局部類內散度矩陣、所述局部類間散度矩陣以及第三預設公式,確定所述過渡特征子集的得分,其中,所述第三預設公式為:
其中,所述F(Af)表示所述過渡特征子集的得分,表示xi取Af中的索引構成的特征向量;
A16:利用所述得分和預設規則,更新所述目標特征子集,其中,所述預設規則為:若其中,f*表示預計入目標特征子集的特征對應的編號,則將f*加入所述目標特征子集中,并重新進入步驟A13,直到所述目標特征子集中的特征數量等于預設特征數量閾值。
2.根據權利要求1所述的故障診斷方法,其特征在于,所述對所述待測樣本進行預處理,得到目標待測樣本,包括:
對所述待測樣本進行標準化,得到所述目標待測樣本。
3.根據權利要求1所述的故障診斷方法,其特征在于,所述利用所述目標訓練數據集確定所述目標參考集之前,還包括:
對所述目標訓練數據集進行標準化。
4.根據權利要求1至3任一項所述的故障診斷方法,其特征在于,所述利用k近鄰分類算法和預先得到的目標參考集對所述目標待測樣本進行分類,以便確定所述目標待測樣本是否是故障數據,包括:
從預先得到的目標參考集中確定出與所述目標待測樣本距離最近的k個目標參考樣本;
根據所述目標參考樣本的標簽,確定所述目標待測樣本的目標標簽;
根據所述目標標簽,確定所述目標待測樣本是否是故障數據。
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