[發明專利]打標控制方法、裝置及計算機可讀存儲介質在審
| 申請號： | 202010120769.2 | 申請日： | 2020-02-26 |
| 公開（公告）號： | CN113313135A | 公開（公告）日： | 2021-08-27 |
| 發明（設計）人： | 周麗 | 申請（專利權）人： | 富泰華工業（深圳）有限公司 |
| 主分類號： | G06K9/62 | 分類號： | G06K9/62;G06T7/64;B41J29/393;B23K26/70;B23K26/362 |
| 代理公司： | 深圳市賽恩倍吉知識產權代理有限公司 44334 | 代理人： | 饒智彬 |
| 地址： | 518109 廣東省深圳市龍華新區觀瀾街道大三*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 控制 方法 裝置 計算機 可讀 存儲 介質 | ||
1.一種打標控制方法，其特征在于，所述打標控制方法包括：
獲取打標信息，所述打標信息至少包括待打標產品的目標圖像、待打標產品的特征信息及打標方式；
依據所述打標信息生成打標控制信息，所述打標控制信息包括打標機的XY軸進給信息和打標參數信息；
獲取待打標產品的位置信息；
控制打標機依據所述產品的位置信息和所述打標控制信息對所述產品進行打標。
2.如權利要求1所述的打標控制方法，其特征在于，步驟“依據所述打標信息生成打標控制信息”具體包括：
依據所述目標圖像和所述打標機的打標范圍，在所述目標圖像上劃分出至少一個打標區域，依據所述打標區域自動生成打標機的XY軸進給信息；及
依據所述產品的特征信息和打標方式，通過預設的打標參數模型生成打標參數信息，所述打標參數信息包括填充密度、打標功率、打標速度、Q類、打標角度和打標次數中的至少一種。
3.如權利要求2所述的打標控制方法，其特征在于，所述待打標產品的特征信息至少包括所述產品的材質、材料厚度和表面處理方式。
4.如權利要求2所述的打標控制方法，其特征在于，在對所述產品進行打標后，所述方法還包括步驟：
獲取產品打標面的第一實際圖像；
將所述第一實際圖像與所述目標圖像相比對，判斷所述第一實際圖像是否異常；
若為是，則生成第一異常信息，并依據所述第一異常信息調整所述XY軸進給信息。
5.如權利要求4所述的打標控制方法，其特征在于，“依據所述第一異常信息調整所述XY軸進給信息”的步驟具體為：
計算所述第一實際圖像中打標位置的第一偏差數據；
依據所述第一偏差數據計算需補償的XY軸進給信息的參數；
依據需補償的XY軸進給信息的參數調整所述XY軸進給信息。
6.如權利要求4所述的打標控制方法，其特征在于，在生成所述第一異常信息后，還包括步驟：
判斷所述第一異常信息是否連續出現預設次數；
若為否，則記錄所述第一異常信息；
若為是，則依據所述第一異常信息調整所述XY軸進給信息。
7.如權利要求4所述的打標控制方法，其特征在于，當判斷所述第一實際圖像無異常時，所述方法還包括：
獲取產品背離打標面的第二實際圖像；
將所述第二實際圖像與預設的標準圖像相比對，判斷所述第二實際圖像是否異常；
若為是，則生成第二異常信息，并依據所述第二異常信息調整所述打標參數信息。
8.如權利要求7所述的打標控制方法，其特征在于，“依據所述第二異常信息調整所述打標參數信息”的步驟具體為：
計算所述第二實際圖像中凸包的第二偏差數據；
依據所述第二偏差數據計算需補償的打標參數；
依據所述需補償的打標參數調整所述打標參數信息。
9.一種打標控制裝置，包括處理器及存儲器，所述存儲器上存儲有若干計算機程序，其特征在于，所述處理器用于執行存儲器中存儲的計算機程序時實現如權利要求1至8中任一項所述的打標控制方法的步驟。
10.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質存儲有多條指令，多條所述指令可被一個或者多個處理器執行，以實現如權利要求1至8中任一項所述的打標控制方法的步驟。
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