[發明專利]圖像處理方法及裝置、電子設備和存儲介質有效
| 申請號: | 202010098842.0 | 申請日: | 2020-02-18 |
| 公開(公告)號: | CN111310664B | 公開(公告)日: | 2022-11-22 |
| 發明(設計)人: | 郭森輝;徐靜;陳大鵬;趙瑞 | 申請(專利權)人: | 深圳市商湯科技有限公司 |
| 主分類號: | G06V40/16 | 分類號: | G06V40/16;G06V10/762 |
| 代理公司: | 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 劉新宇 |
| 地址: | 518054 廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 圖像 處理 方法 裝置 電子設備 存儲 介質 | ||
1.一種圖像處理方法,其特征在于,包括:
根據待處理的多個第一圖像的第一特征,分別確定各個所述第一特征的密度,所述第一特征的密度表示與所述第一特征之間的距離小于或等于第一距離閾值的第一特征的數量;
根據目標特征的密度,確定與所述目標特征對應的密度鏈信息,其中,所述目標特征為任意一個第一特征,與所述目標特征對應的密度鏈信息包括N個特征,所述N個特征的第i個特征為所述N個特征的第i-1個特征的第一近鄰特征中的一個,且所述第i個特征的密度大于所述第i-1個特征的密度,N,i為正整數且1<i≤N,所述第一近鄰特征包括與所述第i-1個特征之間的距離小于或等于第二距離閾值的至少一個第一特征,所述目標特征為所述N個特征中的第一個;
根據與各個所述第一特征對應的密度鏈信息,分別對各個所述第一特征進行調整,得到所述多個第一圖像的第二特征;
對所述多個第一圖像的第二特征進行聚類,得到所述多個第一圖像的處理結果;
其中,與所述目標特征對應的密度鏈信息還包括所述N個特征的第二近鄰特征,所述N個特征的第i-1個特征的第二近鄰特征包括與所述第i-1個特征之間的距離小于或等于第三距離閾值的至少一個第一特征,
所述根據與各個所述第一特征對應的密度鏈信息,分別對各個所述第一特征進行調整,得到所述多個第一圖像的第二特征,包括:
針對所述目標特征,對所述N個特征及所述N個特征的第二近鄰特征分別進行融合,得到所述目標特征的N個融合特征;
根據所述目標特征的N個融合特征,確定所述N個融合特征之間的關聯特征;
根據所述目標特征的N個融合特征以及所述關聯特征,確定與所述目標特征對應的第一圖像的第二特征。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,根據所述目標特征的N個融合特征以及所述關聯特征,確定與所述目標特征對應的第一圖像的第二特征,包括:
將所述關聯特征分別與所述N個融合特征進行拼接,得到N個拼接特征;
對所述N個拼接特征進行歸一化,得到所述N個融合特征的N個權值;
根據所述N個權值,對所述N個融合特征進行融合,得到與所述目標特征對應的第一圖像的第二特征。
3.根據權利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述根據待處理的多個第一圖像的第一特征,分別確定各個所述第一特征的密度之前,所述方法還包括:
根據所述多個第一圖像的第三特征,建立特征圖網絡,所述特征圖網絡包括多個節點及所述節點之間的連線,每個所述節點包括一個所述第三特征,所述連線的值表示所述節點與所述節點的近鄰節點之間的距離,所述節點的近鄰節點包括與所述節點之間的距離最小的K個節點,K為正整數;
對所述特征圖網絡進行圖卷積處理,得到所述多個第一圖像的第一特征。
4.根據權利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述N個特征的第i個特征為所述N個特征的第i-1個特征的第一近鄰特征中密度最大的特征。
5.根據權利要求3所述的方法,其特征在于,所述根據所述多個第一圖像的第三特征,建立特征圖網絡之前,所述方法還包括:
對所述多個第一圖像分別進行特征提取,得到所述多個第一圖像的第三特征。
6.根據權利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述對所述多個第一圖像的第二特征進行聚類,得到所述多個第一圖像的處理結果,包括:
對所述多個第一圖像的第二特征進行聚類,確定至少一個圖像組,每個所述圖像組中包括至少一個第一圖像;
分別確定所述至少一個圖像組對應的目標類別,所述目標類別表示所述第一圖像中目標的身份,
所述處理結果包括所述至少一個圖像組以及所述至少一個圖像組對應的目標類別。
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