[發(fā)明專利]破損檢測(cè)機(jī)構(gòu)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010070256.5 | 申請(qǐng)日: | 2020-01-21 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112123208A | 公開(公告)日: | 2020-12-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 田中知行;三浦元 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 泰克霍隆株式會(huì)社;李篤誠(chéng);林貴皇 |
| 主分類號(hào): | B24B49/16 | 分類號(hào): | B24B49/16;B24B49/12;G01N21/95;G01D5/34;G01D5/26 |
| 代理公司: | 北京商專永信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11400 | 代理人: | 黃謙;陰亮 |
| 地址: | 日本國(guó)*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 破損 檢測(cè) 機(jī)構(gòu) | ||
本發(fā)明提供一種破損檢測(cè)機(jī)構(gòu),其能夠以與以往相比更良好的檢測(cè)靈敏度和SN比檢測(cè)旋轉(zhuǎn)刀片的破損。具備控制部、發(fā)光部、出射側(cè)光纖、照射范圍轉(zhuǎn)換部、入射側(cè)透鏡、入射側(cè)光纖以及受光部。入射側(cè)透鏡隔著旋轉(zhuǎn)刀片配置在與照射范圍轉(zhuǎn)換部相對(duì)的位置。發(fā)光部輸出檢查光。出射側(cè)光纖向照射范圍轉(zhuǎn)換部發(fā)送檢查光。照射范圍轉(zhuǎn)換部以沿著旋轉(zhuǎn)刀片的直徑變細(xì)的狀態(tài)出射檢查光。入射側(cè)透鏡對(duì)經(jīng)由照射范圍轉(zhuǎn)換部出射的檢查光進(jìn)行聚光后發(fā)送到入射側(cè)光纖。入射側(cè)光纖將檢查光發(fā)送到受光部。受光部將檢查光轉(zhuǎn)換為與受光量相應(yīng)的強(qiáng)度的電信號(hào)。控制部基于從受光部發(fā)送的電信號(hào)對(duì)旋轉(zhuǎn)刀片的破損進(jìn)行檢測(cè)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及對(duì)切割裝置所具備的旋轉(zhuǎn)刀片的破損進(jìn)行檢測(cè)的機(jī)構(gòu)。
背景技術(shù)
形成有多個(gè)器件的晶圓例如通過具備旋轉(zhuǎn)刀片的切割裝置進(jìn)行切削加工,分割成與各器件對(duì)應(yīng)的多個(gè)芯片。旋轉(zhuǎn)刀片為圓形狀,安裝在旋轉(zhuǎn)的主軸的前端部分。旋轉(zhuǎn)刀片的外周部分成為用結(jié)合材料結(jié)合金剛石等的磨粒而形成的切削刃。通過使旋轉(zhuǎn)刀片旋轉(zhuǎn)而切入晶圓,從而切削晶圓。
旋轉(zhuǎn)刀片有時(shí)因切削時(shí)的負(fù)荷而產(chǎn)生缺損等的破損。若持續(xù)使用破損的旋轉(zhuǎn)刀片,則有可能在切削中使被加工物破損。因此,需要用于檢測(cè)這樣的旋轉(zhuǎn)刀片的不良情況的機(jī)構(gòu)。
作為檢測(cè)旋轉(zhuǎn)刀片的破損的機(jī)構(gòu)(破損檢測(cè)機(jī)構(gòu)),具有利用光纖的技術(shù)(例如,參照專利文獻(xiàn)1)。專利文獻(xiàn)1所公開的破損檢測(cè)機(jī)構(gòu)具備與發(fā)光部連接的光纖(出射側(cè)光纖)、和與受光部連接的光纖(入射側(cè)光纖)。出射來自發(fā)光部的光的出射側(cè)光纖的出射端、與入射從出射側(cè)光纖出射的光的入射側(cè)光纖的入射端夾著旋轉(zhuǎn)刀片而相對(duì)地配置。
在專利文獻(xiàn)1所公開的破損檢測(cè)機(jī)構(gòu)中,在旋轉(zhuǎn)刀片沒有破損的情況下,從出射側(cè)光纖出射的光的至少一部分被切削刃遮擋。因此,入射到入射側(cè)光纖并由受光部接收的光的受光量變小。另一方面,在旋轉(zhuǎn)刀片中存在缺損等的破損的情況下,由于被遮擋的光到達(dá)入射側(cè)光纖,所以受光量增大。受光部將接收到的光轉(zhuǎn)換為電信號(hào)。通過檢測(cè)該電信號(hào),例如由CPU(Central Processing Unit,中央處理器)進(jìn)行處理,從而檢測(cè)出基于受光量增大的旋轉(zhuǎn)刀片破損。
現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)1:(日本)特開2014-159064號(hào)公報(bào)
發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明要解決的問題
在此,作為使用光纖的破損檢測(cè)機(jī)構(gòu)的特性,從出射側(cè)光纖的出射端放出的光,作為反復(fù)進(jìn)行光纖的內(nèi)表面反射的結(jié)果,例如以1:1.5的折射率成為廣角的光而出射。由于對(duì)應(yīng)的入射側(cè)光纖使用與出射側(cè)光纖相同的外徑尺寸的光纖,因此,入射側(cè)光纖只能接收以圓錐狀擴(kuò)散的光中的入射端的直徑的量。
因此,光以較寬的范圍照射到旋轉(zhuǎn)刀片,另一方面,只有其一部分入射到入射側(cè)光纖。因此,在以往的破損檢測(cè)機(jī)構(gòu)中,例如在檢測(cè)微小的缺損等的情況下,需要提高檢測(cè)放大器的增益。其結(jié)果,由于若提高增益則響應(yīng)頻率下降的放大器特性,在以往的破損檢測(cè)機(jī)構(gòu)中,難以高靈敏度地檢測(cè)微小的缺損等。
另外,在出射側(cè)光纖和入射側(cè)光纖之間,通過旋轉(zhuǎn)刀片的外周的光被切削水散射或反射,成為對(duì)破損的檢測(cè)沒有貢獻(xiàn)的噪聲。在現(xiàn)有的破損檢測(cè)機(jī)構(gòu)中,如上所述,由于從出射側(cè)光纖以圓錐狀擴(kuò)散并出射光,所以成為干擾噪聲增加了光擴(kuò)散的量的主要原因。因此,在上述受光部中接收的光、以及對(duì)其進(jìn)行了轉(zhuǎn)換的電信號(hào)的SN比具有改善的余地。
因此,本發(fā)明的目的在于提供一種破損檢測(cè)機(jī)構(gòu),其與以往相比,能夠以更良好的檢測(cè)靈敏度和SN比來檢測(cè)旋轉(zhuǎn)刀片的破損。
用于解決問題的技術(shù)手段
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于泰克霍隆株式會(huì)社;李篤誠(chéng);林貴皇,未經(jīng)泰克霍隆株式會(huì)社;李篤誠(chéng);林貴皇許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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